新聞中心

EEPW首頁 > 測試測量 > 業(yè)界動態(tài) > 應(yīng)對5G帶來的高頻高帶寬的測試挑戰(zhàn)

應(yīng)對5G帶來的高頻高帶寬的測試挑戰(zhàn)

作者: 時間:2015-12-07 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  經(jīng)過長時間的探討,的愿景已經(jīng)非常清晰。未來主要將應(yīng)用到熱點高容量、高可靠人機通信、海量機器通信三個方面。實現(xiàn)愿景最重要的技術(shù)之一是高頻高帶寬技術(shù),由此而帶來的5G測試技術(shù)的需求是明顯而具有挑戰(zhàn)性的。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/283945.htm

  2015年11月6日-7日,每年一度的“未來5G信息通信技術(shù)國際研討會”上,與會的國際和國內(nèi)政府官員、重要組織以及通信領(lǐng)先企業(yè)專家討論了5G的未來和挑戰(zhàn),并提出了針對5G方案的建議,是每年一次的在行業(yè)內(nèi)有重要影響力的5G盛會。作為Future論壇的正式成員,R&S公司的著名專家Reiner Stulhfauth先生在會上探討了5G在高頻高帶寬,射頻重要技術(shù)以及信道測試等方面的幾個重要問題,充分展示了R&S公司在5G的信號產(chǎn)生與分析應(yīng)用,在毫米波頻段高帶寬2GHz等應(yīng)用的成熟方案,得到了與會專家的好評。





關(guān)鍵詞: R&S 5G

評論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉