泛華測(cè)控受邀參加12th國(guó)際電子測(cè)量與儀器學(xué)術(shù)會(huì)議

　　日前，由中國(guó)電子學(xué)會(huì)、IEEE Beijing Section主辦的第12屆國(guó)際電子測(cè)量與儀器學(xué)術(shù)會(huì)議(12thICEMI)在青島落下帷幕，北京中科泛華測(cè)控技術(shù)有限公司(簡(jiǎn)稱：泛華測(cè)控)作為受邀企業(yè)全程參與了會(huì)議。

　　本著“產(chǎn)學(xué)研”合作的目的，泛華測(cè)控現(xiàn)場(chǎng)向參會(huì)嘉賓展示了適用于教學(xué)演示用的“多功能數(shù)據(jù)采集儀”，該產(chǎn)品在教學(xué)中可通過(guò)直觀的數(shù)據(jù)和動(dòng)態(tài)圖像的變化，輕松實(shí)現(xiàn)電壓采集、電壓輸出、電流輸出、溫度采集、超聲波測(cè)距等測(cè)試項(xiàng)目的演示，吸引了眾多高校師生的目光。

　　泛華測(cè)控多功能數(shù)據(jù)采集儀

　　會(huì)議期間，泛華另一款產(chǎn)品“便攜式測(cè)振儀”引起了英國(guó)劍橋光電子與傳感器組教授、主任初大平的興趣，他來(lái)到展位前，認(rèn)真觀看了產(chǎn)品的外形、軟件界面，并詢問(wèn)了產(chǎn)品的使用環(huán)境、功能以及適用領(lǐng)域。“這款產(chǎn)品最大特點(diǎn)的是便攜，適用于實(shí)驗(yàn)室及外場(chǎng)，尤其解決了普通機(jī)箱在實(shí)驗(yàn)室中移動(dòng)不便的問(wèn)題，并擁有專業(yè)的分析算法，提供基本分析和高級(jí)分析的功能，非常適合實(shí)驗(yàn)室、研究所等科研環(huán)境的需要。”泛華現(xiàn)場(chǎng)工程師向其介紹道。

　　劍橋教授初大平蒞臨泛華展臺(tái)參觀

　　ICEMI會(huì)議是當(dāng)前電子測(cè)量與儀器領(lǐng)域頂級(jí)的學(xué)術(shù)盛會(huì)，兩年一屆，來(lái)自全球的數(shù)百位專家、教授、學(xué)者、工程技術(shù)人員齊聚于此，為行業(yè)的發(fā)展、科研的未來(lái)及尖端技術(shù)的前景群策群力。泛華測(cè)控作為一家為致力于為各行業(yè)用戶提供高品質(zhì)測(cè)試測(cè)量解決方案和成套檢測(cè)設(shè)備的企業(yè)，有責(zé)任貢獻(xiàn)出一份力量。

　　嘉賓與工程師現(xiàn)場(chǎng)熱烈交流