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泛華測控參加第六屆國際測試自動化與儀器儀表學術會議

作者: 時間:2016-10-10 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  9月19日~21日,由中國儀器儀表學會和北京信息科技大學主辦的“2016第六屆國際測試與儀器儀表學術會議”在北京召開,泛華受邀攜便攜式測試平臺(TU-9106)及助力于智慧研究所的測試數(shù)據(jù)管理平臺(Data On Demand)參加活動,并做題為《打造智慧研究所的關鍵技術》的演講。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/201610/311115.htm



關鍵詞: 泛華測控 自動化

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