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突破性新工具助力實現(xiàn)電池更長的充電間隔時間

作者: 時間:2014-09-05 來源:EEPW 收藏

  目前,我們使用的每種電子設(shè)備幾乎都存在一個最令人關(guān)注的問題,那就是其供電能力。我們希望自己的智能手機、電腦、電動工具和可穿戴健身設(shè)備的功耗更低,從而延長它們的續(xù)航時間。正是出于這個原因,德州儀器(TI)為那些在其電子產(chǎn)品中采用了TI MSP430?微控制器(MCU)的工程師們推出了能確切知道設(shè)備哪些地方耗電以及如何耗電的新技術(shù)。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/262628.htm

  這項新技術(shù)被稱為++?,是一種系統(tǒng)。一般來說,工程師在運行其設(shè)備的MCU中查找“漏洞”需要花費很多時間。在運行系統(tǒng)的軟件中,這些漏洞或微小的誤差可能會導(dǎo)致不必要的功耗增加。為了在價格不高的MCU中找出這些漏洞,工程師必須先用儀表仔細檢查MCU中的每一行代碼,而這往往是一個非常耗時的過程。現(xiàn)在,采用++技術(shù),所有功耗信息均可在工程師電腦屏幕上的曲線圖中一目了然,并按設(shè)備正在執(zhí)行的任務(wù)精確顯示哪些地方在耗電,耗電量是多少。

  “Energy Trace++使MCU能夠顯示設(shè)備在執(zhí)行任何任務(wù)時的耗電量,無需借助萬用表等測量工具被動地從MCU外部測量功耗即可找出產(chǎn)生額外功耗的漏洞。”MSP430產(chǎn)品市場營銷工程師Priya Thanigai說道。

  Priya還表示,這種類型的工具在過去就已經(jīng)存在,但有一個很大的問題。以前,如果工程師想要找出這些深藏在MCU軟件中的小漏洞,他們就不得不在非常昂貴的MCU和設(shè)備上花費成千上萬美元的資金;此外,工程師還必須掌握與該調(diào)試工具工作方式相關(guān)的大量知識。++不僅物美價廉而且易于使用,無論是對于初創(chuàng)企業(yè)的工程師還是供職于資產(chǎn)雄厚的股份公司的工程師,該技術(shù)都非常的適用。

  “工程師可利用MSP430FR59x/69x FRAM MCU系列或其他經(jīng)濟實惠的MCU實現(xiàn)上述目標。而正是這樣的事實使該產(chǎn)品如此的獨特且富有創(chuàng)意,因為無需任何花費,電路系統(tǒng)就能提供高準確度和詳盡的信息?!盤riya Thanigai說,“使用EnergyTrace++,不到五分鐘就可以完成設(shè)置,同時僅需通過極低的花費就可以暢享通常只有真正高端工具才能擁有的絕佳性能?!?/p>

  MCU產(chǎn)品市場營銷工程師William Cooper認為,該調(diào)試工具將能夠使供電型設(shè)備裝配更小的,同時實現(xiàn)更長的間隔時間,甚至在某些情況下根本不用。他還堅信,由于該技術(shù)非常易用并能迅速找出漏洞,因此還將能幫助企業(yè)加快其產(chǎn)品上市進程。

  “這是十年來我們所開發(fā)的產(chǎn)品中最具創(chuàng)新性的工具之一,它讓許多人都為之振奮。坦白說,我們很高興能對它展開介紹,并將它隆重推向市場供人們使用?!盬illiam表示。

  歡迎點擊以下鏈接,進一步了解使EnergyTrace++?技術(shù)成為可能的MSP430FR59x/69x FRAM MCU系列、MSP-FET MSP430 JTAG編程器/調(diào)試器和MSP430FR5969 LaunchPad原型快速生成套件。


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