超高頻RFID定位的相位式測(cè)距方法研究
射頻識(shí)別(Radio Frequcncy Identification,RFID)是一項(xiàng)非接觸式自動(dòng)識(shí)別技術(shù),具有能耗低、適應(yīng)性強(qiáng)、操作快捷等許多優(yōu)點(diǎn)。近年來(lái),研究的重點(diǎn)轉(zhuǎn)向了超高頻段 (UHF,860~960 MHz),已經(jīng)有科研人員將提取射頻信號(hào)到達(dá)入射角或相位差作為RFID定位研究的新方向。低信噪比實(shí)測(cè)環(huán)境中提取相位差信息的可行性,但是沒(méi)有提取出位置信息;參考文獻(xiàn)中采取機(jī)器學(xué)習(xí)訓(xùn)練機(jī)制對(duì)多天線相位差信息進(jìn)行參數(shù)提取,但是僅限用于活動(dòng)范圍較小的醫(yī)療跟蹤。
本文研究的基于相位式測(cè)距的UHF RFID定位方法,與基于信號(hào)的傳播時(shí)延和強(qiáng)度衰減作為定位依據(jù)的方法有所不同。結(jié)合離散頻譜校正技術(shù)提取發(fā)射信號(hào)與接收信號(hào)之間的相位,得到信號(hào)相位差,進(jìn)而得到閱讀器與標(biāo)簽之間的距離,利用多個(gè)閱讀器所測(cè)得的距離,實(shí)現(xiàn)對(duì)目的標(biāo)簽的定位。
1.1 閱讀器和標(biāo)簽的通信機(jī)制分析
閱讀器和標(biāo)簽的通信是基于ITF(Interrogator TalkFirst)機(jī)制的,即基于閱讀器的命令與閱讀器的回答之間交替發(fā)送的半雙工機(jī)制。
對(duì)于基于相位法的超高頻RFID定位系統(tǒng),選擇標(biāo)簽返回PC+EPC+CRC16信息這一過(guò)程為基準(zhǔn)進(jìn)行信號(hào)相位的提取并用于標(biāo)簽的定位中。標(biāo)簽返回這些信 息的過(guò)程為反向散射過(guò)程,需要閱讀器發(fā)送一個(gè)單頻的CW信號(hào)為標(biāo)簽提供能量并作為標(biāo)簽反向散射信息的載波。對(duì)于標(biāo)簽信息的調(diào)制過(guò)程,則是通過(guò)標(biāo)簽的基帶數(shù) 字信號(hào)控制標(biāo)簽芯片阻抗在兩種狀態(tài)之間切換,使得天線與標(biāo)簽芯片阻抗在匹配與失配之間轉(zhuǎn)換來(lái)改變天線的反射系數(shù),完成整個(gè)調(diào)制過(guò)程。若改變標(biāo)簽芯片和天線 實(shí)部阻抗的匹配與失配,為ASK調(diào)制;改變阻抗虛部的匹配與失配,則為PSK調(diào)制。
由于ASK調(diào)制較為容易實(shí)現(xiàn),目前市面上絕大多數(shù)標(biāo)簽采用ASK調(diào)制。標(biāo)簽芯片和天線的等效電路如圖1所示。
圖1 標(biāo)簽芯片和天線的等效電路
其中,Za為天線阻抗,Z1為數(shù)字信號(hào)為高電平時(shí)的阻抗,與Za失配;Z2為數(shù)字信號(hào)為低電平時(shí)的阻抗,與Za相匹配。當(dāng)信號(hào)為高電平時(shí),天線阻抗與芯片阻 抗失配,閱讀器發(fā)送的CW信號(hào)無(wú)法進(jìn)入芯片,被天線反射到空間中;當(dāng)信號(hào)為低電平時(shí),天線阻抗與芯片阻抗匹配,閱讀器發(fā)送的CW信號(hào)將進(jìn)入芯片,不會(huì)反射 回空間中,由此便完成了信號(hào)的調(diào)制過(guò)程。
1.2 系統(tǒng)設(shè)計(jì)
對(duì)于整個(gè)定位系統(tǒng),需采用多個(gè)閱讀器分別計(jì)算與同一標(biāo)簽的距離信息,并根據(jù)幾何定位獲取標(biāo)簽的位置信息。對(duì)于單個(gè)的閱讀器及相關(guān)算法模塊,系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)框圖如圖2所示。
圖2 定位系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)框圖
①閱讀器的設(shè)計(jì),主要進(jìn)行閱讀器與標(biāo)簽之間的通信,并提取標(biāo)簽的EPC信息;
②相位提取預(yù)處理電路與相位提取算法模塊設(shè)計(jì),主要用于處理收發(fā)副載波信號(hào),并提取這兩個(gè)信號(hào)的相位用于測(cè)距和定位。
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