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基于封裝天線(AiP)的過(guò)孔分析

作者: 時(shí)間:2014-08-04 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

本文引用地址:http://2s4d.com/article/259331.htm

5測(cè)量結(jié)果

圖5為根據(jù)所研究的天線物理原型制作的天線實(shí)物。測(cè)量結(jié)果展示在圖6和7中,可以看出測(cè)量結(jié)果與仿真結(jié)果吻合較好。當(dāng)兩個(gè)中心坐標(biāo)為(8,8),(8,-4)時(shí),在原中心頻率附近出現(xiàn)新的通帶,測(cè)量的天線帶寬由一個(gè)時(shí)0.13GHz展寬到0.45Ghz,比原來(lái)增加了兩倍多。測(cè)量中心頻率比仿真的均偏低100MHz,這是由于介質(zhì)和制作誤差引起的。

圖5天線實(shí)物照片

圖6一個(gè)(x1,y1)=(8,0)時(shí)的測(cè)量結(jié)果

圖7兩個(gè)過(guò)孔x1=x2=8,y1=8,y2=-4時(shí)的測(cè)量結(jié)果

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