ADI數(shù)字隔離器確保汽車的質(zhì)量與穩(wěn)定性

與其他主流應(yīng)用相比，汽車應(yīng)用對質(zhì)量和可靠性有一些最為嚴(yán)格的要求，其理由很充分： 在生產(chǎn)中，如果零件的缺陷水平高于百萬分之一(ppm)，那么哪怕最簡單的零件都有可能使整條裝配線停止工作。 在實際使用中，缺陷或可靠性問題可能會導(dǎo)致代價高昂的產(chǎn)品召回，甚至可能危及駕乘人員的安全。

為了滿足不斷嚴(yán)格的質(zhì)量和可靠性要求，汽車系統(tǒng)設(shè)計人員開始轉(zhuǎn)而使用數(shù)字隔離器代替光電耦合器，為混合動力汽車(HEV)電池監(jiān)控以及電源轉(zhuǎn)換應(yīng)用提供安全隔離。ADI公司的iCoupler數(shù)字隔離器符合基于AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)的汽車應(yīng)用認(rèn)證的嚴(yán)格策略要求。 與基于混合半導(dǎo)體的光電耦合器不同，iCoupler數(shù)字隔離器基于標(biāo)準(zhǔn)晶圓CMOS半導(dǎo)體工藝，該工藝用于汽車系統(tǒng)中具有良好的口碑。本文介紹ADI如何以高質(zhì)量工業(yè)級產(chǎn)品服務(wù)于汽車市場，目前已有超過10億iCoupler隔離通道投入實際應(yīng)用。 本文詳細(xì)介紹ADI公司如何通過更高的質(zhì)量認(rèn)證要求、額外的檢查和更大的測試范圍來增強(qiáng)產(chǎn)品質(zhì)量。

認(rèn)證

ADI公司踐行業(yè)界最佳實踐對產(chǎn)品進(jìn)行質(zhì)量認(rèn)證。 認(rèn)證包括通過加速壽命測試來證明工藝與封裝的可靠性。 測試包括極端溫度工作條件下的長期壓力測試、極端濕度條件下的存儲測試，以及熱循環(huán)測試等。 為了符合汽車系統(tǒng)的嚴(yán)格要求，ADI遵循AEC-Q100汽車規(guī)范的測試方法，進(jìn)行額外的壓力測試，如更為極端條件下的早期壽命故障(ELF)測試。 應(yīng)力后驗證通常在室溫下執(zhí)行(+25℃)，同時亦會在溫度下限(-40℃)與上限(+125℃)處執(zhí)行。

晶圓級探測與裝配

當(dāng)晶圓出廠時，ADI還會進(jìn)行晶圓級探測，從而為質(zhì)量增加了又一道保障。 通過探測，可對隔離器的各個組件進(jìn)行細(xì)致的測試。 探測還允許直接測量iCoupler變壓器的電阻和質(zhì)量。

檢測以后，對晶圓切片，并在一條生產(chǎn)線上進(jìn)行組裝，同時由訓(xùn)練有素的操作人員嚴(yán)格按照汽車生產(chǎn)流程執(zhí)行額外的檢查工序。

生產(chǎn)過程的最后一步是高壓和參數(shù)測試。ADI公司采用三個步驟，使產(chǎn)品質(zhì)量接近0 ppm。 首先，我們會擴(kuò)大測試范圍，在不同的電源條件下進(jìn)行額外的測試項目。 其次，我們會在不同的溫度下進(jìn)行測試，與上文敘述的認(rèn)證測試過程類似。 第三，我們會執(zhí)行器件平均測試（即PAT）。 通過這種方式，我們可以找出表面看起來合格的次品。 在PAT測試中，我們會看參數(shù)的分布情況，把處于分布范圍以外的晶圓認(rèn)定為次品，即使參數(shù)未超出限值，也是如此處理。 該步驟在下文中以圖形表示，圖中的三批產(chǎn)品分別具有不同的均值與分布。 次品或異常產(chǎn)品落在相應(yīng)的分布曲線（用顏色區(qū)別）之外，但仍然在產(chǎn)品測試和數(shù)據(jù)手冊的限值以內(nèi)。 一般情況下，如果沒有PAT，這些產(chǎn)品就會被交付給客戶，可能永遠(yuǎn)不會顯現(xiàn)任何缺陷。但是，在要求0 ppm的應(yīng)用中，花費(fèi)更多測試時間和承擔(dān)良品率降低的損失是值得的，這一額外步驟是必需的。

PAT描述

質(zhì)量體系與支持

除了生產(chǎn)過程中采取的這些額外措施以外，ADI公司與客戶合作時還嚴(yán)格遵循最佳實踐模式，確保其汽車應(yīng)用能獲得我們的全力支持。ADI公司常設(shè)一個專門的質(zhì)量工程師團(tuán)隊，他們訓(xùn)練有素，可為客戶提供適當(dāng)?shù)钠囄臋n和分析，包括： AEC-Q100 G版文檔、DFMEA、PPAP、8D和ASIL特性測試。(end) 隔離器相關(guān)文章:隔離器原理