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基于DDS+PLL技術(shù)的高頻時鐘發(fā)生器

作者: 時間:2012-08-30 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
  1 引言

  高性能合成頻率廣泛應(yīng)用在現(xiàn)代通信、雷達(dá)和電子測量等技術(shù)領(lǐng)域中。頻率合成方法主要有3種:

  (1)直接合成法,他利用混頻器、倍頻器、分頻器和帶通濾波器完成對頻率的算術(shù)運算。

  (2)應(yīng)用鎖相環(huán)PLL(PhaseLockedLoop)的頻率合成,雖然具有工作頻率高、寬帶、頻譜質(zhì)量好的優(yōu)點,但頻率分辨率和轉(zhuǎn)換速率都不夠高。

  (3)最新的頻率合成方法是直接數(shù)字頻率合成(DirectDigitalSynthesis)。較以前頻率合成技術(shù)具有頻率轉(zhuǎn)換時間短,頻率分辨率高,輸出相位連續(xù),可以進行高精度、高穩(wěn)定度編程,全數(shù)字化易集成等突出優(yōu)點。

  但是的2個明顯不足限制了其進一步的應(yīng)用:一是因受限于器件可用的最高時鐘頻率,致使合成頻率不能太高,輸出信號的頻率上限基本上是在HF或VHF頻段上,比PLL合成技術(shù)以及直接模擬合成技術(shù)得到的信號頻率低;二是輸出頻率雜散分量較大,頻譜純度不如PLL。從基本原理而言,PLL是模擬的閉環(huán)系統(tǒng),而DDS是全數(shù)字的開環(huán)系統(tǒng),二者是兩種不同的頻率合成技術(shù),采用將二者結(jié)合構(gòu)成DDS+PLL組合系統(tǒng)來互相補充,可以達(dá)到單一技術(shù)難以達(dá)到的應(yīng)用效果。

  2 DDS激勵PLL系統(tǒng)

  2.1性能分析

  常用的DDS+PLL組合有DDS激勵PLL和DDS內(nèi)插PLL兩種方式。無論采用哪種組合方式,都可以獲得高分辨率、快速轉(zhuǎn)換、較寬頻率范圍的輸出頻率。但在頻率雜散性能、頻率建立時間和電路復(fù)雜程度等方面,兩種組合特點各有不同。在PLL內(nèi)插DDS的組合方案中,雖然DDS輸出不經(jīng)PLL倍頻,故具有較低的相位噪聲和較好的雜散性能,但此方案需要濾除混頻器產(chǎn)生的多余分量,影響環(huán)路參數(shù),致使設(shè)計電路復(fù)雜,硬件調(diào)試周期長。

  工作中的600MHz時鐘發(fā)生器采用低頻DDS激勵PLL的頻率合成系統(tǒng)。該方案通過采用高的鑒相頻率提高PLL的轉(zhuǎn)換速度,并利用DDS的高分辨率保證倍頻PLL輸出較高的頻率分辨率,同時PLL環(huán)路的帶通濾波可以對DDS的帶外雜散有抑制作用。該方案的優(yōu)點是電路結(jié)構(gòu)簡單、成本低、易于控制、易于集成。為保證組合系統(tǒng)的頻譜純度,在DDS的輸出加一個帶通濾波器,用來抑制和消除來自DDS參考頻率的寬帶雜散。系統(tǒng)原理圖如圖1所示。

  通過原理分析可知,DDS+PLL系統(tǒng)的相位噪聲主要由PLL的相噪性能決定,而其雜散性能則取決于DDS。

  2.2相位噪聲的測量

  PLL相位噪聲主要由3部分組成:VCO固有的相位噪聲;鑒相器、環(huán)路濾波器、分頻器的相位噪聲以及參考頻率的相位噪聲。其中環(huán)路分頻比N(本系統(tǒng)中N取為20)對環(huán)路帶寬內(nèi)的輸出相位噪聲影響最大,即在環(huán)路通帶內(nèi),輸出相位噪聲要惡化20logNdB。

  在將VCO的特性理想化的情況下,主要考慮集成鎖相環(huán)的噪聲,則整個環(huán)路的相位噪聲可近似為:

  其中:fDDS為輸入PLL鑒相器的頻率值;NPLL是PLL的相噪基數(shù),PLL頻率合成芯片ADF4106的NPLL值為-174dBc。

  時鐘發(fā)生器輸出頻率fout可根據(jù)需要改變。當(dāng)fout取為600MHz,參考晶振采用30MHz時,環(huán)路的相位噪聲為:

  2.3 DDS的雜散特性及抑制方法

  2.3.1 由于相位舍位造成的相位截斷雜散

  造成這種雜散的過程是一個周期性的相位調(diào)制過程,因此這種雜散為調(diào)相雜散。對于調(diào)相雜散可以提高相位截斷位數(shù)來增加他的SFDR,每增加一位可以使SFDR增加約6dB。

  2.3.2 由于幅度量化誤差造成的雜散

  DDS送到DAC的波形樣點值由有限的二進制數(shù)表示,所以對幅度值做了近似存儲,由此引入了幅度量化誤差,并在輸出端形成雜散,這種雜散是調(diào)幅雜散。

  2.3.3 由于DAC非線性引起的雜散

  DAC的非線性包括積分、差分非線性以及DAC的非理想動態(tài)特性。由于DAC非線性的影響,在DDS的輸出信號中將產(chǎn)生輸出頻率的諧波分量及這些諧波的鏡象分量,其雜散電平由DAC的性能決定。隨著DDS時鐘頻率的提高,他已經(jīng)成為DDS輸出雜散的主要來源。

  2.3.4 抑制方法

  有效抑制DDS雜散的方法是選用高性能、高時鐘頻率的DDS器件。這里的高性能是指DDS器件內(nèi)部自身已采取了一定的技術(shù)措施來抑制其固有雜散的輸出。通過實驗和理論分析得知,在輸出頻率不變時,隨著時鐘頻率的升高,雜散距主頻的距離也會呈線性關(guān)系增大,這為雜散抑制提供了可操作性。根據(jù)DDS的原理,離散雜散信號是影響頻譜純度的主要原因,所有的雜散信號都與輸出頻率有關(guān),雜散的位置也是可以預(yù)測的。在相同時鐘信號下,不同的輸出頻率產(chǎn)生的頻率雜散位置不一樣。在DDS+PLL組合系統(tǒng)設(shè)計中,應(yīng)根據(jù)DDS的原理靈活選擇適當(dāng)?shù)臅r鐘頻率和輸出信號頻率,使DDS輸出信號近端的雜散情況處于相對理想的狀態(tài),從而提高系統(tǒng)的頻譜純度。

  3 系統(tǒng)組成及實現(xiàn)

  3.1 DDS選用AnalogDevices公司的AD9854

  AD9854是把48b頻率累加器、48b相位累加器、正弦函數(shù)波形表、12b正交數(shù)模轉(zhuǎn)換器以及調(diào)制和控制電路高度集成到一起,集相位調(diào)制、頻率調(diào)制、幅度調(diào)制和I/Q正交調(diào)制等功能于一體的高集成器件。AD9854從各個方面超過了AD公司前期的DDS產(chǎn)品,是一種很有應(yīng)用前途的DDS芯片。其主要特點為:

 ?。?)內(nèi)部的D/A轉(zhuǎn)換器和比較器實現(xiàn)正交的I和Q路輸出。

 ?。?)具有1MHz步進的48b頻率分辨率,相位截斷17b保證了SFDR指標(biāo)可達(dá)到102dB。

 ?。?)優(yōu)良的電路工藝使同步正交信號輸出的頻率最高達(dá)到150MHz,平均每秒可產(chǎn)生100MHz的新頻率。

 ?。?)正弦信號輸出可通過內(nèi)部比較器轉(zhuǎn)化成方波,用于時鐘產(chǎn)生。

  (5)提供了數(shù)字控制的14b相位調(diào)制和單端PSK數(shù)據(jù)輸入,12b的I和Q路DAC。

 ?。?)在高速時鐘產(chǎn)生器的應(yīng)用中,若12b的“控制”DAC與內(nèi)部的比較器相結(jié)合,能實現(xiàn)脈寬調(diào)制PWM和靜態(tài)周期控制。

 ?。?)2個12b的數(shù)字乘法器能實現(xiàn)數(shù)字幅度調(diào)制、波形成形和正交輸出的準(zhǔn)確幅度控制。

 ?。?)時鐘輸入4~20整數(shù)倍可選的倍頻器可使外部輸入的低速時鐘轉(zhuǎn)變成最高300MHz的內(nèi)部高速時鐘。

  3.2  PLL頻率合成器

  選用AnalogDevices公司的ADF4106。ADF4106具有較高的工作頻率,最高可達(dá)到6.0GHz。該芯片集成了鎖相式頻率合成器的各種重要部件,主要由低噪聲數(shù)字鑒相器、精確電荷泵、可編程參考分頻器、可編程A,B計數(shù)器及雙模前置分頻器(P/P+1)等部件組成。數(shù)字鑒相器用來對R計數(shù)器和N計數(shù)器的輸出相位進行比較,然后輸出一個與二者相位誤差成比例的誤差電壓。鑒相器內(nèi)部還有一個可編程延遲單元,用來控制翻轉(zhuǎn)脈沖的寬度,這個翻轉(zhuǎn)脈沖保證鑒相器的傳遞函數(shù)沒有死區(qū),因此降低了相位噪聲和參考雜散。

ADF4106芯片的高集成性能,使其只需少量外圍電路即可構(gòu)成一個完整的低噪聲、低功耗、高穩(wěn)定度、高可靠性的頻率合成器。

  3.3 其他器件選取

  VCO的選取需考慮幾個方面:具有一定的壓控靈敏度;控制特性的線性好;頻率覆蓋范圍大;開環(huán)相位噪聲低;頻率穩(wěn)定度高等。環(huán)路輸出相位噪聲的大小主要取決于VCO的開環(huán)相位噪聲的強度,因此VCO的相位噪聲性能必須重點加以考慮。基于以上原因,選用MiniCircuits公司的寬帶低相噪器件ROS1200W。

  在無線通信電路中,鑒相器比較頻率產(chǎn)生的雜散通常是高頻信道間隔的整數(shù)倍,這些雜散能產(chǎn)生鄰道干擾。環(huán)路濾波器LF采用三階無源濾波,可以更好地抑制雜散。

  3.4 實驗結(jié)果分析

  實驗發(fā)現(xiàn),DDS+的關(guān)鍵技術(shù)問題是DDS輸出帶有很多雜散信號,尤其是輸出信號近端的雜散無法用濾波器濾除,在一定程度上會影響系統(tǒng)的頻譜純度。VCO的頻率覆蓋范圍是影響頻率合成器相位噪聲的重要因素,如果VCO的頻率覆蓋范圍相對較寬,就可減少頻率合成器單元電路,但通常窄帶VCO比寬帶具有更好的相位噪聲特性。這些要求是相互矛盾的,所以應(yīng)根據(jù)具體情況綜合考慮。此外,還必須考慮環(huán)路濾波器的不同結(jié)構(gòu)對環(huán)路性能的影響,盡可能用VCO調(diào)諧電壓的低端控制輸出頻率的生成,以避免濾波帶來的環(huán)路噪聲性能的降低。

  DDS+PLL頻率合成系統(tǒng)中,既有數(shù)

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