新聞中心

EEPW首頁(yè) > 嵌入式系統(tǒng) > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 采用創(chuàng)新降耗技術(shù)應(yīng)對(duì)FPGA靜態(tài)和動(dòng)態(tài)功耗的挑戰(zhàn)

采用創(chuàng)新降耗技術(shù)應(yīng)對(duì)FPGA靜態(tài)和動(dòng)態(tài)功耗的挑戰(zhàn)

作者: 時(shí)間:2009-04-24 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

傳統(tǒng)上,數(shù)字邏輯并不耗費(fèi)大量靜態(tài)功耗,但隨著工藝節(jié)點(diǎn)的不斷精微,這一情況在發(fā)生顯著變化?,F(xiàn)在,隨著工藝尺度的不斷縮微,數(shù)字邏輯中的漏電流成為的主要挑戰(zhàn)。因在65nm工藝節(jié)點(diǎn)靜態(tài)功耗會(huì)顯著增加,所以,若不采取降耗措施,則功耗將成為一個(gè)關(guān)鍵問(wèn)題。因各種原因?qū)е碌穆╇娏鞯脑黾?,靜態(tài)功耗將會(huì)顯著增加(圖1)。

功耗由靜態(tài)功耗和組成。靜態(tài)功耗是在被編程目標(biāo)文件(.pof)編程時(shí)、但時(shí)鐘不工作的狀態(tài)下所需的功耗。數(shù)字和模擬邏輯都消耗靜態(tài)功耗。在模擬系統(tǒng)中,靜態(tài)功耗主要包括由其接口模擬電路的靜態(tài)電流決定的功耗(圖2和表)。

是當(dāng)器件工作時(shí)增加的功耗,它由切換信號(hào)及容性負(fù)載的充放電引起。影響的主要變量是電容充電、工作電壓和時(shí)鐘頻率(圖3)。


上一頁(yè) 1 2 3 4 5 下一頁(yè)

評(píng)論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉