高頻鎖相環(huán)的可測(cè)性設(shè)計(jì)
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時(shí)間：2012-02-23
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提出了測(cè)試方案，并給出了相應(yīng)的測(cè)試電路。并對(duì)采用該方案進(jìn)行測(cè)試的高速鎖相環(huán)在增加測(cè)試電路前后電路的仿真結(jié)果進(jìn)行了比較。結(jié)果表明，本文所提出的高頻鎖相環(huán)測(cè)試方案對(duì)鎖相環(huán)本身的功能影響很小。參考文獻(xiàn)
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