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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 可測性

嵌入式存儲器的測試及可測性設計

  • 本文對嵌入式存儲器的測試及可測性設計進行研究總結，為我國存儲器測試的研究以及集成電路測試產業(yè)的發(fā)展奠定堅實的技術基礎。
  • 關鍵字： 嵌入式存儲器  測試向量  可測性  

高頻鎖相環(huán)的可測性設計

  • 高頻鎖相環(huán)的可測性設計可測性設計（Design for Test，DFT）最早用于數字電路設計。隨著模擬電路的發(fā)展和芯片 集 ...
  • 關鍵字： 高頻  鎖相環(huán)  可測性  
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可測性介紹

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