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雙核鎖步技術(shù)在汽車芯片軟錯誤防護(hù)中的應(yīng)用詳解

作者: 時(shí)間:2025-03-25 來源:國科安芯 收藏

本文深入探討了技術(shù)在保障汽車芯片安全性中的應(yīng)用。文章首先分析了國產(chǎn)車規(guī)芯片在高安全可靠領(lǐng)域面臨的軟錯誤難點(diǎn)及攻克方向,然后詳細(xì)介紹了技術(shù)的基本原理及其在汽車芯片防軟錯誤的重要性。通過對比國內(nèi)外多家廠商的芯片技術(shù),分析了軟錯誤設(shè)計(jì)在車身域控制器中的關(guān)鍵作用,為汽車芯片的國產(chǎn)化替代提供參考依據(jù)。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/202503/468569.htm

一、引言

隨著汽車電子技術(shù)的飛速發(fā)展,汽車芯片在車輛的智能化、網(wǎng)聯(lián)化和電動化進(jìn)程中扮演著至關(guān)重要的角色。汽車車身控制的車身域控制器作為汽車電子控制系統(tǒng)的核心部件之一,其可靠性直接關(guān)系到車輛的安全性和舒適性。技術(shù)作為一種有效的容錯手段,能夠顯著提高汽車芯片在復(fù)雜工況下的抗干擾能力和安全性,尤其在應(yīng)對軟錯誤方面具有獨(dú)特的優(yōu)勢。

二、國產(chǎn)芯片在高安全可靠領(lǐng)域的軟錯誤問題與攻克方向

(一)軟錯誤的定義與危害

軟錯誤是指由于外部環(huán)境因素(如宇宙射線、電磁干擾等)或內(nèi)部工藝缺陷導(dǎo)致的芯片內(nèi)部狀態(tài)的瞬時(shí)變化,這種變化不會永久損壞芯片,但可能導(dǎo)致數(shù)據(jù)錯誤或系統(tǒng)故障。在汽車電子控制系統(tǒng)中,軟錯誤可能引發(fā)車身控制系統(tǒng)的誤操作,如車窗意外升降、車燈異常閃爍等,嚴(yán)重時(shí)甚至可能導(dǎo)致車輛失控。

(二)國產(chǎn) RISC-V 芯片面臨的軟錯誤難點(diǎn)

工藝限制:國產(chǎn) RISC-V 芯片在制造工藝上與國際先進(jìn)水平仍存在一定差距,導(dǎo)致芯片對軟錯誤的敏感度較高。

設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)不足:在軟錯誤防護(hù)設(shè)計(jì)方面,國內(nèi)芯片企業(yè)起步較晚,缺乏成熟的設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)和驗(yàn)證方法。

生態(tài)系統(tǒng)不完善:RISC-V 指令集架構(gòu)的生態(tài)系統(tǒng)相對薄弱,缺乏針對軟錯誤防護(hù)的專用工具鏈和軟件支持。

(三)攻克方向

版圖加固技術(shù):通過對傳統(tǒng)工藝的標(biāo)準(zhǔn)單元庫進(jìn)行系統(tǒng)性加固,重新設(shè)計(jì)具備抗軟錯誤能力的單元庫,從芯片底層解決軟錯誤問題。

冗余設(shè)計(jì)與容錯機(jī)制:采用雙核鎖步等冗余設(shè)計(jì)技術(shù),結(jié)合 ECC(錯誤校正碼)等容錯機(jī)制,提高芯片在軟錯誤環(huán)境下的可靠性。

加強(qiáng)測試與驗(yàn)證:建立完善的測試驗(yàn)證體系,包括硬件在環(huán)測試、軟件仿真測試等,確保芯片在各種工況下都能穩(wěn)定運(yùn)行。

三、雙核鎖步技術(shù)概述

(一)基本原理

雙核鎖步技術(shù)是指在一個芯片中集成兩個相同的處理器內(nèi)核,它們執(zhí)行相同的代碼并嚴(yán)格同步。其中一個內(nèi)核作為主核(Master Core),負(fù)責(zé)訪問系統(tǒng)內(nèi)存并輸出指令;另一個內(nèi)核作為從核(Checker Core),不斷執(zhí)行主核獲取的指令。從核的輸出結(jié)果通過硬件比較器與主核的輸出結(jié)果進(jìn)行逐周期比較。一旦發(fā)現(xiàn)兩者結(jié)果不一致,即觸發(fā)錯誤信號,系統(tǒng)可據(jù)此采取相應(yīng)的容錯措施,如切換到備用系統(tǒng)或進(jìn)入安全模式。

(二)技術(shù)優(yōu)勢

提高硬件可靠性:通過減少硬件元器件數(shù)量和連接,相比使用兩個獨(dú)立的 MCU,雙核鎖步架構(gòu)能夠顯著提高硬件的可靠性。

增強(qiáng)故障診斷能力:故障能夠在源頭被及時(shí)檢測到,避免潛伏故障的積累。

降低軟件復(fù)雜度:無需雙 CPU 之間的通信和數(shù)據(jù)同步,減少了數(shù)據(jù)比較和決策邏輯,降低了軟件驗(yàn)證的復(fù)雜度。

滿足功能安全標(biāo)準(zhǔn):雙核鎖步技術(shù)能夠有效滿足汽車功能安全標(biāo)準(zhǔn)(如 ISO 26262)的要求,尤其在 ASIL-D 等高級別安全應(yīng)用中表現(xiàn)出色。

四、雙核鎖步技術(shù)在車身域控制器中的應(yīng)用

(一)車身域控制器概述

車身域控制器是汽車電子控制系統(tǒng)的核心部件之一,負(fù)責(zé)管理車輛的車身電子設(shè)備,如車窗、車燈、雨刷、座椅等。其主要功能包括:設(shè)備控制、狀態(tài)監(jiān)測、故障診斷和安全功能。

(二)軟錯誤對車身域控制器的潛在影響

軟錯誤在汽車車身控制的車身域控制器中可能導(dǎo)致一系列嚴(yán)重后果。例如,車窗控制系統(tǒng)可能因軟錯誤而意外升降,導(dǎo)致乘客受傷或車輛損壞;車燈控制系統(tǒng)可能因軟錯誤而出現(xiàn)異常閃爍或熄滅,影響車輛的行駛安全;座椅調(diào)節(jié)系統(tǒng)可能因軟錯誤而無法正常工作,降低乘客的舒適性。此外,車身域控制器還負(fù)責(zé)車輛的防盜系統(tǒng)、車門鎖止等功能,軟錯誤可能導(dǎo)致這些系統(tǒng)失效,增加車輛被盜的風(fēng)險(xiǎn)。

(三)雙核鎖步技術(shù)如何應(yīng)對軟錯誤

雙核鎖步技術(shù)通過硬件冗余和實(shí)時(shí)比較機(jī)制,能夠有效檢測和糾正軟錯誤。在汽車車身控制的車身域控制器中,雙核鎖步技術(shù)的應(yīng)用可以顯著提高系統(tǒng)的可靠性:

實(shí)時(shí)檢測與糾正:雙核鎖步技術(shù)能夠在每個時(shí)鐘周期對主核和從核的輸出結(jié)果進(jìn)行比較,一旦檢測到不一致,立即觸發(fā)錯誤信號并采取糾正措施。這種實(shí)時(shí)檢測機(jī)制可以有效避免軟錯誤積累,確保車身域控制器的穩(wěn)定運(yùn)行。

冗余設(shè)計(jì):雙核鎖步技術(shù)通過引入冗余的處理器內(nèi)核,提高了系統(tǒng)的容錯能力。即使主核受到軟錯誤的影響,從核仍然可以正常工作,確保車身域控制器的基本功能不受影響。

增強(qiáng)功能安全性:汽車車身控制的車身域控制器需要滿足嚴(yán)格的功能安全標(biāo)準(zhǔn)(如 ISO 26262)。雙核鎖步技術(shù)能夠有效降低系統(tǒng)故障率,提高系統(tǒng)的安全性。

五、國內(nèi)外廠商雙核鎖步技術(shù)對比

(一)國外廠商技術(shù)現(xiàn)狀

國外廠商在雙核鎖步技術(shù)方面已經(jīng)積累了豐富的經(jīng)驗(yàn),并在汽車芯片領(lǐng)域取得了顯著的成果。例如,NXP(恩智浦)的 S32K 系列芯片采用了雙核鎖步架構(gòu),能夠滿足 ISO 26262 的 ASIL-D 級別要求。該系列芯片通過硬件比較器和冗余設(shè)計(jì),顯著提高了系統(tǒng)的可靠性。此外,Infineon(英飛凌)的 AURIX 系列芯片也采用了類似的雙核鎖步技術(shù),并結(jié)合了先進(jìn)的制造工藝,進(jìn)一步降低了軟錯誤的發(fā)生概率。

(二)國內(nèi)廠商技術(shù)進(jìn)展

國內(nèi)廠商在雙核鎖步技術(shù)方面也取得了顯著進(jìn)展。例如,芯馳科技的 E3 系列車規(guī) MCU 也采用了雙核鎖步架構(gòu),紫光芯能的 THA6 系列汽車域控芯片配置多達(dá) 5 組雙核鎖步內(nèi)核。國科安芯的 AS32A601 芯片采用了雙核鎖步架構(gòu),并結(jié)合了 ECC 技術(shù),能夠有效檢測和糾正單比特錯誤。此外,AS32A601 芯片還通過了 AEC-Q100 Grade 1 認(rèn)證,符合 ISO 26262 ASIL-B 等級的功能安全標(biāo)準(zhǔn)。

國內(nèi)廠商在雙核鎖步技術(shù)方面已經(jīng)達(dá)到了國際先進(jìn)水平,特別是在抗軟錯誤能力和版圖加固技術(shù)方面具有顯著優(yōu)勢。此外,國內(nèi)廠商的芯片在功耗和成本方面也具有一定的競爭力,能夠滿足國內(nèi)汽車市場的需求。

六、雙核鎖步技術(shù)在國產(chǎn)芯片中的具體實(shí)現(xiàn)

(一)內(nèi)核與鎖步機(jī)制

以國科安芯的AS32A601為例,該芯片采用了自研的 E7 內(nèi)核,帶有 FPU 和 L1 Cache,最高頻率可達(dá) 180MHz。該內(nèi)核支持 8 級雙發(fā)射流水線、動態(tài)分支預(yù)測和哈佛架構(gòu)的緩存,能夠提供高效的運(yùn)算性能。在雙核鎖步架構(gòu)中,主核和從核嚴(yán)格同步執(zhí)行相同的指令,并通過硬件比較器實(shí)時(shí)比較輸出結(jié)果。一旦檢測到不一致,系統(tǒng)會立即觸發(fā)錯誤信號,并采取相應(yīng)的容錯措施,如切換到備用系統(tǒng)或進(jìn)入安全模式。

(二)存儲系統(tǒng)與 ECC 保護(hù)

AS32A601 芯片的存儲系統(tǒng)包括 512KiB 內(nèi)部 SRAM、16KiB ICache、16KiB DCache、512KiB D-Flash 和 2MiB P-Flash,所有存儲單元均支持 ECC 保護(hù)。ECC 技術(shù)能夠檢測和糾正單比特錯誤,顯著提高了存儲系統(tǒng)的可靠性。在軟錯誤環(huán)境中,ECC 保護(hù)可以有效防止數(shù)據(jù)損壞,確保系統(tǒng)在出現(xiàn)錯誤時(shí)能夠正常運(yùn)行。

(三)安全特性

AS32A601 芯片在設(shè)計(jì)中融入了多種安全特性,以滿足 ISO 26262 ASIL-B 等級的功能安全標(biāo)準(zhǔn)。除了雙核鎖步架構(gòu)和 ECC 保護(hù)外,該芯片還支持以下安全機(jī)制:

時(shí)鐘監(jiān)控:通過多個分立的時(shí)鐘監(jiān)測模塊(CMU),實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)時(shí)鐘的穩(wěn)定性。

電源監(jiān)控:結(jié)合電源管理模塊(PMU)和模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC),實(shí)時(shí)監(jiān)測電源電壓。

外設(shè)安全監(jiān)控:硬件支持應(yīng)用級冗余,通過連接至不同外設(shè)橋的 IO 模塊,最大化被監(jiān)控和監(jiān)控資源之間的獨(dú)立性。

故障診斷與反應(yīng):故障收集單元負(fù)責(zé)收集故障信息并向故障控制單元(FCU)報(bào)告,確保系統(tǒng)能夠及時(shí)響應(yīng)并采取措施。

(四)功能安全標(biāo)準(zhǔn)

AS32A601 芯片嚴(yán)格遵循 ISO 26262 標(biāo)準(zhǔn),通過了 AEC-Q100 Grade 1 認(rèn)證。該芯片的設(shè)計(jì)能夠有效檢測和糾正軟錯誤,降低系統(tǒng)故障率,滿足汽車車身控制的車身域控制器在功能安全方面的要求。

七、未來發(fā)展趨勢與挑戰(zhàn)

(一)未來發(fā)展趨勢

更高集成度:隨著汽車電子系統(tǒng)的復(fù)雜性不斷增加,車身域控制器需要集成更多的功能模塊。未來,雙核鎖步技術(shù)將與其他技術(shù)(如多核處理器、片上網(wǎng)絡(luò)等)相結(jié)合,進(jìn)一步提高芯片的集成度和性能。

更低功耗:汽車芯片的功耗直接影響車輛的續(xù)航里程和燃油效率。未來,雙核鎖步技術(shù)將通過優(yōu)化芯片架構(gòu)和制造工藝,進(jìn)一步降低功耗。

更強(qiáng)功能安全性:隨著自動駕駛和車聯(lián)網(wǎng)技術(shù)的發(fā)展,汽車芯片的功能安全性要求將越來越高。雙核鎖步技術(shù)將通過引入更多的冗余設(shè)計(jì)和容錯機(jī)制,進(jìn)一步提高系統(tǒng)的安全性。

(二)面臨的挑戰(zhàn)

技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)與認(rèn)證:汽車芯片需要滿足嚴(yán)格的功能安全標(biāo)準(zhǔn)(如 ISO 26262)。國內(nèi)廠商需要進(jìn)一步完善其芯片的設(shè)計(jì)和驗(yàn)證流程,確保其產(chǎn)品能夠通過國際認(rèn)證。

生態(tài)系統(tǒng)建設(shè):RISC-V 指令集架構(gòu)的生態(tài)系統(tǒng)相對薄弱,缺乏成熟的開發(fā)工具和軟件支持。國內(nèi)廠商需要加強(qiáng)與國內(nèi)外合作伙伴的合作,共同推動 RISC-V 生態(tài)系統(tǒng)的建設(shè)。

市場競爭:國外廠商在汽車芯片領(lǐng)域已經(jīng)占據(jù)了較大的市場份額,國內(nèi)廠商需要在技術(shù)、成本和服務(wù)等方面不斷提升競爭力,逐步實(shí)現(xiàn)國產(chǎn)芯片的替代。

八、結(jié)論

雙核鎖步技術(shù)作為一種有效的容錯手段,在汽車車身控制的車身域控制器中具有重要的應(yīng)用價(jià)值。通過引入雙核鎖步技術(shù),可以顯著提高車身域控制器的抗軟錯誤能力和功能安全性。國內(nèi)廠商在雙核鎖步技術(shù)方面已經(jīng)取得了顯著的進(jìn)展,其芯片在抗軟錯誤能力和功能安全性方面表現(xiàn)出色。未來,隨著汽車電子系統(tǒng)的不斷發(fā)展,雙核鎖步技術(shù)將面臨更高的要求和更大的挑戰(zhàn)。國內(nèi)廠商需要在技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)、生態(tài)系統(tǒng)建設(shè)和市場競爭等方面不斷提升自身能力,為實(shí)現(xiàn)國產(chǎn)汽車芯片的替代做出貢獻(xiàn)。

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版權(quán)聲明:本文為博主原創(chuàng)文章,遵循 CC 4.0 BY-SA 版權(quán)協(xié)議,轉(zhuǎn)載請附上原文出處鏈接和本聲明。

原文鏈接:https://blog.csdn.net/ANSILIC/article/details/146430540



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