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PCB設(shè)計的checklist,簡單3步就搞定!

作者: 時間:2023-10-11 來源: 收藏

No.1:資料輸入階段

本文引用地址:http://2s4d.com/article/202310/451425.htm
  • 在流程上接收到的資料是否齊全(包括:原理圖、*.brd文件、料單、PCB設(shè)計說明以及PCB設(shè)計或更改要求、標準化要求說明、工藝設(shè)計說明等文件)。

  • 確認PCB模板是最新的。

  • 時鐘器件布局是否合理。

  • 確認模板的定位器件位置無誤。

  •  PCB設(shè)計說明以及PCB設(shè)計或更改要求、標準化是否明確。

  • 確認外形圖上的禁止布放器件和布線區(qū)已在PCB模板上體現(xiàn)。

  • 比較外形圖,確認PCB所標注尺寸及公差無誤,金屬化孔和非金屬化孔定義準確。

  • 確認PCB模板準確無誤后最好鎖定該結(jié)構(gòu)文件,以免誤操作被移動位置。

No.2:布局后檢查階段

01 器件檢查

  • 確認所有器件封裝是否與公司統(tǒng)一庫一致,是否已更新封裝庫(用viewlog檢查運行結(jié)果)如果不一致,一定要更新Symbols。

  • 母板與子板,單板與背板,確認信號對應(yīng),位置對應(yīng),連接器方向及絲印標識正確,且子板有防誤插措施,子板與母板上的器件不應(yīng)產(chǎn)生干涉。

  • 元器件是否100%放置。

  • 打開器件TOP和BOTTOM層的place-bound, 查看重疊引起的DRC是否允許。

  • Mark點是否足夠且必要。

  • 較重的元器件,應(yīng)該布放在靠近PCB支撐點或支撐邊的地方,以減少PCB的翹曲。

  • 與結(jié)構(gòu)相關(guān)的器件布好局后最好鎖住,防止誤操作移動位置。

  • 壓接插座周圍5mm范圍內(nèi),正面不允許有高度超過壓接插座高度的元件,背面不允許有元件或焊點。

  • 確認器件布局是否滿足工藝性要求(重點關(guān)注BGA、PLCC、貼片插座)。

  • 金屬殼體的元器件,特別注意不要與其它元器件相碰,要留有足夠的空間位置。

  • 接口相關(guān)的器件盡量靠近接口放置,背板總線驅(qū)動器盡量靠近背板連接器放置。

  • 波峰焊面的CHIP器件是否已經(jīng)轉(zhuǎn)換成波峰焊封裝。

  • 手工焊點是否超過50個。

  • 在PCB上軸向插裝較高的元件,應(yīng)該考慮臥式安裝。留出臥放空間。并且考慮固定方式,如晶振的固定焊盤。

  • 需要使用散熱片的器件,確認與其它器件有足夠間距,并且注意散熱片范圍內(nèi)主要器件的高度。

02 功能檢查

  • 數(shù)?;旌习宓臄?shù)字電路和模擬電路器件布局時是否已經(jīng)分開,信號流是否合理。

  • A/D轉(zhuǎn)換器跨模數(shù)分區(qū)放置。

  • 時鐘器件布局是否合理。

  • 高速信號器件布局是否合理。

  • 端接器件是否已合理放置(源端匹配串阻應(yīng)放在信號的驅(qū)動端;中間匹配的串阻放在中間位置;終端匹配串阻應(yīng)放在信號的接收端)

  • 信號線以不同電平的平面作為參考平面,當跨越平面分割區(qū)域時,參考平面間的連接電容是否靠近信號的走線區(qū)域。

  • 保護電路的布局是否合理,是否利于分割。單板電源的保險絲是否放置在連接器附近,且前面沒有任何電路元件。

  • 確認強信號與弱信號(功率相差30dB)電路分開布設(shè)。

  • IC器件的去耦電容數(shù)量及位置是否合理。

  • 是否按照設(shè)計指南或參考成功經(jīng)驗放置可能影響EMC實驗的器件。如:面板的復(fù)位電路要稍靠近復(fù)位按鈕。

03 發(fā)熱

  • 對熱敏感的元件(含液態(tài)介質(zhì)電容、晶振)盡量遠離大功率的元器件、散熱器等熱源。

  • 布局是否滿足熱設(shè)計要求,散熱通道(根據(jù)工藝設(shè)計文件來執(zhí)行)。

04 電源

  • 是否IC電源距離IC過遠。

  • LDO及周圍電路布局是否合理。

  • 模塊電源等周圍電路布局是否合理。

  • 電源的整體布局是否合理。

05 規(guī)則設(shè)置

  • 是否所有仿真約束都已經(jīng)正確加到Constraint Manager中。

  • 是否正確設(shè)置物理和電氣規(guī)則(注意電源網(wǎng)絡(luò)和地網(wǎng)絡(luò)的約束設(shè)置)。

  • Test Via、Test Pin的間距設(shè)置是否足夠。

  • 疊層的厚度和方案是否滿足設(shè)計和加工要求。

  • 所有有特性阻抗要求的差分線阻抗是否已經(jīng)經(jīng)過計算,并用規(guī)則控制。

No.3:布線后檢查階段

01 數(shù)模

  • 數(shù)字電路和模擬電路的走線是否已分開,信號流是否合理。

  • A/D、D/A以及類似的電路如果分割了地,那么電路之間的信號線是否從兩地之間的橋接點上走(差分線例外)。

  • 必須跨越分割電源之間間隙的信號線應(yīng)參考完整的地平面。

  • 如果采用地層設(shè)計分區(qū)不分割方式,要確保數(shù)字信號和模擬信號分區(qū)布線。

02 時鐘和高速部分

  • 速信號線的阻抗各層是否保持一致。

  • 高速差分信號線和類似信號線,是否等長、對稱、就近平行地走線。

  • 確認時鐘線盡量走在內(nèi)層。

  • 確認時鐘線、高速線、復(fù)位線及其它強輻射或敏感線路是否已盡量按3W原則布線。

  • 時鐘、中斷、復(fù)位信號、百兆/千兆以太網(wǎng)、高速信號上是否沒有分叉的測試點。

  • LVDS等低電平信號與TTL/CMOS信號之間是否盡量滿足了10H(H為信號線距參考平面的高度)。

  • 時鐘線以及高速信號線是否避免穿越密集通孔過孔區(qū)域或器件引腳間走線。

  • 時鐘線是否已滿足(SI約束)要求(時鐘信號走線是否做到少打過孔、走線短、參考平面連續(xù),主要參考平面盡量是GND;若換層時變換了GND主參考平面層,在離過孔200mil范圍之內(nèi)是GND過孔;若換層時變換不同電平的主參考平面,在離過孔200mil范圍之內(nèi)是否有去耦電容)。

  • 差分對、高速信號線、各類BUS是否已滿足(SI約束)要求。

03 EMC與可靠性

  • 對于晶振,是否在其下布一層地;是否避免了信號線從器件管腳間穿越;對高速敏感器件,是否避免了信號線從器件管腳間穿越。

  • 單板信號走線上不能有銳角和直角(一般成 135 度角連續(xù)轉(zhuǎn)彎,射頻信號線最好采用圓弧形或經(jīng)過計算以后的切角銅箔)。

  • 對于雙面板,檢查高速信號線是否與其回流地線緊挨在一起布線;對于多層板,檢查高速信號線是否盡量緊靠地平面走線。

  • 對于相鄰的兩層信號走線,盡量垂直走線。

  • 避免信號線從電源模塊、共模電感、變壓器、濾波器下穿越。

  • 盡量避免高速信號在同一層上的長距離平行走線。

  • 板邊緣還有數(shù)字地、模擬地、保護地的分割邊緣是否有加屏蔽過孔;多個地平面是否用過孔相連;過孔距離是否小于最高頻率信號波長的1/20。

  • 浪涌抑制器件對應(yīng)的信號走線是否在表層短且粗。

  • 確認電源、地層無孤島、無過大開槽、無由于通孔隔離盤過大或密集過孔所造成的較長的地平面裂縫、無細長條和通道狹窄現(xiàn)象。

  • 是否在信號線跨層比較多的地方,放置了地過孔(至少需要兩個地平面)。

04 電源和地

  • 如果電源/地平面有分割,盡量避免分割開的參考平面上有高速信號的跨越。

  • 確認電源、地能承載足夠的電流。過孔數(shù)量是否滿足承載要求(估算方法:外層銅厚1oz時1A/mm線寬,內(nèi)層0.5A/mm線寬,短線電流加倍)。

  • 對于有特殊要求的電源,是否滿足了壓降的要求。

  • 為降低平面的邊緣輻射效應(yīng),在電源層與地層間要盡量滿足20H原則(條件允許的話,電源層的縮進得越多越好)。

  • 如果存在地分割,分割的地是否不構(gòu)成環(huán)路。

  • 相鄰層不同的電源平面是否避免了交疊放置。

  • 保護地、-48V地及GND的隔離是否大于2mm。

  • -48V地是否只是-48V的信號回流,沒有匯接到其他地;如果做不到請在備注欄說明原因。

  • 靠近帶連接器面板處是否布10~20mm的保護地,并用雙排交錯孔將各層相連。

  • 電源線與其他信號線間距是否距離滿足安規(guī)要求。

05 禁布區(qū)

  • 金屬殼體器件和散熱器件下,不應(yīng)有可能引起短路的走線、銅皮和過孔。

  • 安裝螺釘或墊圈的周圍不應(yīng)有可能引起短路的走線、銅皮和過孔。

  • 設(shè)計要求中預(yù)留位置是否有走線。

  • 非金屬化孔內(nèi)層離線路及銅箔間距應(yīng)大于0.5mm(20mil),外層0.3mm(12mil),單板起拔扳手軸孔內(nèi)層離線路及銅箔間距應(yīng)大于2mm(80mil)。

  • 銅皮和線到板邊 推薦為大于2mm,最小為0.5mm。

  • 內(nèi)層地層銅皮到板邊1~2mm,最小為0.5mm。

06 焊盤出線

  • 對于兩個焊盤安裝的CHIP元件(0805及其以下封裝),如電阻、電容,與其焊盤連接的印制線最好從焊盤中心位置對稱引出,且與焊盤連接的印制線必須具有一樣的寬度,對于線寬小于0.3mm(12mil)的引出線可以不考慮此條規(guī)定。

  • 與較寬印制線連接的焊盤,中間最好通過一段窄的印制線過渡(0805及其以下封裝)。

  • 線路應(yīng)盡量從SOIC、PLCC、QFP、SOT等器件的焊盤的兩端引出。

07 絲印

  • 器件位號是否遺漏,位置是否能正確標識器件。

  • 器件位號是否符合公司標準要求。

  • 確認器件的管腳排列順序、第1腳標志、器件的極性標志、連接器的方向標識的正確性。

  • 母板與子板的插板方向標識是否對應(yīng)。

  • 背板是否正確標識了槽位名、槽位號、端口名稱、護套方向。

  • 確認設(shè)計要求的絲印添加是否正確。

  • 確認已經(jīng)放置有防靜電和射頻板標識(射頻板使用)。

08 編碼/條碼

  • 確認PCB編碼正確且符合公司規(guī)范。

  • 確認單板的PCB編碼位置和層面正確(應(yīng)該在A面左上方,絲印層)。

  • 確認背板的PCB編碼位置和層面正確(應(yīng)該在B右上方,外層銅箔面)。

  • 確認有條碼激光打印白色絲印標示區(qū)。

  • 確認條碼框下面沒有連線和大于0.5mm導(dǎo)通孔。

  • 確認條碼白色絲印區(qū)外20mm范圍內(nèi)不能有高度超過25mm的元器件。

09 過孔

  • 在回流焊面,過孔不能設(shè)計在焊盤上(常開窗的過孔與焊盤的間距應(yīng)大于0.5mm (20mil),綠油覆蓋的過孔與焊盤的間距應(yīng)大于0.1 mm (4mil),方法:將Same Net DRC打開,查DRC,然后關(guān)閉Same Net DRC)。

  • 過孔的排列不宜太密,避免引起電源、地平面大范圍斷裂。

  • 鉆孔的過孔孔徑最好不小于板厚的1/10。

10 工藝

  • 器件布放率是否100%,布通率是否100%(沒有達到100%的需要在備注中說明)。

  • Dangling線是否已經(jīng)調(diào)整到最少,對于保留的Dangling線已做到一一確認。

  • 工藝科反饋的工藝問題是否已仔細查對。

11 大面積銅箔

  • 對于Top、bottom上的大面積銅箔,如無特殊的需要,應(yīng)用網(wǎng)格銅(單板用斜網(wǎng),背板用正交網(wǎng),線寬0.3mm (12 mil)、間距0.5mm (20mil))。

  • 大面積銅箔區(qū)的元件焊盤,應(yīng)設(shè)計成花焊盤,以免虛焊;有電流要求時,則先考慮加寬花焊盤的筋,再考慮全連接。

  • 大面積布銅時,應(yīng)該盡量避免出現(xiàn)沒有網(wǎng)絡(luò)連接的死銅(孤島)。

  • 大面積銅箔還需注意是否有非法連線,未報告的DRC。

12 測試點

  • 各種電源、地的測試點是否足夠(每2A電流至少有一個測試點)。

  • 確認沒有加測試點的網(wǎng)絡(luò)都是經(jīng)確認可以進行精簡的。

  • 確認沒有在生產(chǎn)時不安裝的插件上設(shè)置測試點。

  • Test Via、Test Pin是否已Fix(適用于測試針床不變的改板)。

13 DRC

  • Test via 和Test pin 的Spacing Rule應(yīng)先設(shè)置成推薦的距離,檢查DRC,若仍有DRC存在,再用最小距離設(shè)置檢查DRC。

  • 打開約束設(shè)置為打開狀態(tài),更新DRC,查看DRC中是否有不允許的錯誤。

  • 確認DRC已經(jīng)調(diào)整到最少,對于不能消除DRC要一一確認。

14 光學(xué)定位點

  • 確認有貼裝元件的PCB面已有光學(xué)定位符號。

  • 確認光學(xué)定位符號未壓線(絲印和銅箔走線)。

  • 光學(xué)定位點背景需相同,確認整板使用光學(xué)點其中心離邊≥5mm。

  • 確認整板的光學(xué)定位基準符號已賦予坐標值(建議將光學(xué)定位基準符號以器件的形式放置),且是以毫米為單位的整數(shù)值。

  • 管腳中心距<0.5mm的IC,以及中心距小于0.8 mm(31 mil)的BGA器件,應(yīng)在元件對角線附近位置設(shè)置光學(xué)定位點。

15 阻焊檢查

  • 確認是否有特殊需求類型的焊盤都正確開窗(尤其注意硬件的設(shè)計要求)。

  • BGA下的過孔是否處理成蓋油塞孔。

  • 除測試過孔外的過孔是否已做開小窗或蓋油塞孔。

  • 光學(xué)定位點的開窗是否避免了露銅和露線。

  • 電源芯片、晶振等需銅皮散熱或接地屏蔽的器件,是否有銅皮并正確開窗。由焊錫固定的器件應(yīng)有綠油阻斷焊錫的大面積擴散。

16 鉆孔圖

  • Notes的PCB板厚、層數(shù)、絲印的顏色、翹曲度,以及其他技術(shù)說明是否正確

  • 疊板圖的層名、疊板順序、介質(zhì)厚度、銅箔厚度是否正確;是否要求作阻抗控制,描述是否準確;疊板圖的層名與其光繪文件名是否一致。

  • 將設(shè)置表中的Repeat code 關(guān)掉,鉆孔精度應(yīng)設(shè)置為2-5。

  • 孔表和鉆孔文件是否最新(改動孔時,必須重新生成)。

  • 孔表中是否有異常的孔徑,壓接件的孔徑是否正確;孔徑公差是否標注正確。

  • 要塞孔的過孔是否單獨列出,并標注“filled vias”。

17 光繪

  • 光繪文件輸出盡量采用RS274X格式,且精度應(yīng)設(shè)置為5:5。

  • art_aper.txt 是否已最新(274X可以不需要)。

  • 輸出光繪文件的log文件中是否有異常報告。

  • 負片層的邊緣及孤島確認。

  • 使用光繪檢查工具檢查光繪文件是否與PCB 相符(改板要使用比對工具進行比對)。

18 文件齊套

  • PCB文件:產(chǎn)品型號_規(guī)格_單板代號_版本號.brd。

  • 背板的襯板設(shè)計文件:產(chǎn)品型號_規(guī)格_單板代號_版本號-CB[-T/B].brd。

  • PCB加工文件:PCB編碼.zip(含各層的光繪文件、光圈表、鉆孔文件及ncdrill.log;拼板還需要有工藝提供的拼板文件*.dxf),背板還要附加襯板文件:PCB編碼-CB[-T/B].zip(含drill.art、*.drl、ncdrill.log)。

  • 工藝設(shè)計文件:產(chǎn)品型號_規(guī)格_單板代號_版本號-GY.doc。

  • SMT坐標文件:產(chǎn)品型號_規(guī)格_單板代號_版本號-SMT.txt(輸出坐標文件時,確認選擇 Body center,只有在確認所有SMD器件庫的原點是器件中心時,才可選Symbol origin)。

  • PCB板結(jié)構(gòu)文件:產(chǎn)品型號_規(guī)格_單板代號_版本號-MCAD.zip(包含結(jié)構(gòu)工程師提供的.DXF與.EMN文件)。

  • 測試文件:產(chǎn)品型號_規(guī)格_單板代號_版本號-TEST.ZIP(包含testprep.log 和 untest.lst或者*.drl測試點的坐標文件)。

  • 歸檔圖紙文件:產(chǎn)品型號規(guī)格-單板名稱-版本號.pdf(包括:封面、首頁、各層絲印、各層線路、鉆孔圖、背板含有襯板圖)。

19 標準化

  • 確認封面、首頁信息正確。

  • 確認圖紙序號(對應(yīng)PCB各層順序分配)正確的。

  • 確認圖紙框上PCB編碼是正確的。



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