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基于LabVIEW的半導(dǎo)體激光器測(cè)試系統(tǒng)*

作者:代華斌,秦占陽(yáng),王亞磊 (廣東粵港澳大灣區(qū)硬科技創(chuàng)新研究院,廣州 510670) 時(shí)間:2021-08-04 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏
編者按:隨著我國(guó)半導(dǎo)體激光器制造技術(shù)的逐漸成熟,激光器性能批量測(cè)試的需求也逐步提上日程。如何將國(guó)標(biāo)半導(dǎo)體激光器測(cè)試方法中所涉及的測(cè)試內(nèi)容進(jìn)行軟硬件實(shí)現(xiàn),成為一家激光器制造企業(yè)所面臨的切實(shí)需求。本文基于廣東粵港澳大灣區(qū)硬科技創(chuàng)新研究院半導(dǎo)體激光器制造過(guò)程中的需求,提出了一整套用于半導(dǎo)體激光器自動(dòng)測(cè)試的系統(tǒng),并進(jìn)行了軟件及硬件實(shí)現(xiàn)。該系統(tǒng)嚴(yán)格參照GB-T 31359—2015半導(dǎo)體激光器測(cè)試方法,在完成半導(dǎo)體激光器PIV測(cè)試及光譜測(cè)試相關(guān)性能的同時(shí),整機(jī)測(cè)試節(jié)拍可達(dá)30 s/個(gè),實(shí)現(xiàn)了半導(dǎo)體激光器測(cè)試系統(tǒng)的自動(dòng)化。

基金項(xiàng)目:廣東省科技計(jì)劃項(xiàng)目(科技創(chuàng)新平臺(tái)類(lèi))高水平創(chuàng)新研究院(2019B090909010)

本文引用地址:http://2s4d.com/article/202108/427371.htm

作者簡(jiǎn)介:代華斌(1980—),高級(jí)工程師,主要工作內(nèi)容為半導(dǎo)體行業(yè)非標(biāo)設(shè)備系統(tǒng)開(kāi)發(fā)。E-mail:daihuabin@xiopmh.com。

隨著我國(guó)半導(dǎo)體激光器制造技術(shù)的逐漸成熟,有關(guān)半導(dǎo)體激光器的測(cè)試的方法逐步完善,國(guó)標(biāo)GB-31359-2015[1] 的發(fā)布,為半導(dǎo)體激光器的測(cè)試提供了指導(dǎo)性的原則。本文參照國(guó)標(biāo)GB-31359—2015 所規(guī)定的半導(dǎo)體激光器測(cè)試規(guī)范,提取部分測(cè)試參數(shù),表征激光器產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)特性。本文將激光器測(cè)試項(xiàng)目分為2 類(lèi),即激光器的PIV 特性(包括輸出光功率、平均功率、、工作電流、工作電壓、、斜率效率、光電轉(zhuǎn)換效率)以及光譜特性(包括峰值波長(zhǎng)、譜寬度、中心波長(zhǎng)),測(cè)試系統(tǒng)采用LabVIEW 軟件編寫(xiě),實(shí)現(xiàn)了整個(gè)系統(tǒng)的自動(dòng)測(cè)試,在測(cè)試完成后實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試報(bào)表,為批量生產(chǎn)提供依據(jù)。

1   PIV特性測(cè)試

半導(dǎo)體激光器的PIV 測(cè)試是指在激光器加電過(guò)程中,對(duì)其功率、電流、電壓曲線(xiàn)進(jìn)行實(shí)時(shí)測(cè)試,同時(shí)對(duì)激光器的一些關(guān)鍵指標(biāo)進(jìn)行計(jì)算。這些指標(biāo)包括如下。

1.1 功率測(cè)試[2]

功率測(cè)試包括輸出光功率測(cè)試、平均功率測(cè)試及測(cè)試,其測(cè)試裝置組成如圖1 所示。

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圖1 功率測(cè)試系統(tǒng)組成

其中,1 為半導(dǎo)體激光器;2 為驅(qū)動(dòng)電源,3 為光束整形器(適用時(shí));4 為衰減器(適用時(shí));5 為光閘(適用時(shí));6 為激光能量計(jì)或功率計(jì)。

輸出光功率為:

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其中,Pop 為輸出光功率;τj 為衰減透射比;n 為測(cè)試次數(shù);pi 為第i 次記錄光功率值。

平均功率為:

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其中,Pavg 為平均功率;n 為測(cè)試次數(shù);Popi 為第i 次測(cè)得的輸出光功率。

為:

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其中,Pp 為峰值功率;τj 為衰減器的透射比, n 為測(cè)試次數(shù);Ppi 為第i 次記錄的峰值功率讀數(shù)。本文中功率測(cè)量采用積分球測(cè)得。

1.2

根據(jù)GB/T 31359—2015 中所述,對(duì)光功率曲線(xiàn)進(jìn)行擬合,本文計(jì)算方法采用方法三進(jìn)行計(jì)算,如圖2 所示。

image.png   image.png  image.png

圖2 閾值電流計(jì)算的3種方法

閾值電流為:

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閾值電流為image.png的極大值,對(duì)應(yīng)電流即image.png

1.3 斜率效率

斜率效率的計(jì)算如圖3 所示。

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圖3 斜率效率計(jì)算

斜率效率為:

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其中,ΔI=I2-I1;ΔP=P2-P1;SE 為斜率效率;I2 為工作電流Iop 的90%;P2 為工作電流I2 下對(duì)應(yīng)的激光功率;

I1 為工作電流Iop 的30%;P1 為工作電流I1 下對(duì)應(yīng)的激光功率。

1.4 光電轉(zhuǎn)換效率

激光器的光電轉(zhuǎn)換效率為:

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其中,ηp 為光電轉(zhuǎn)換效率;IF 為規(guī)定的工作電流;PF 為規(guī)定工作電流IF 對(duì)應(yīng)的激光功率;VF 為規(guī)定電流IF 對(duì)應(yīng)的正向電壓。在實(shí)際工作過(guò)程中,系統(tǒng)的激光器采用步進(jìn)加電過(guò)程,其斜率效率實(shí)際為一條隨電流增加而不斷變化的曲線(xiàn),在為工作電流加電的過(guò)程中,將光電轉(zhuǎn)換效率的最大值作為所測(cè)激光器的光電轉(zhuǎn)換效率極值。

2   光譜特性測(cè)試

半導(dǎo)體激光器的光譜特性測(cè)試是指在恒定工作電流條件下,激光器對(duì)其光譜特性指標(biāo)的測(cè)量及計(jì)算,這些參數(shù)包括如下。

2.1 峰值波長(zhǎng)

峰值波長(zhǎng)是指施加電流到恒定值時(shí)激光器所呈現(xiàn)的波長(zhǎng)特性,取光譜強(qiáng)度最大Ih 對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng)λp 為峰值波長(zhǎng),如圖4 所示。

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圖4 激光器峰值波長(zhǎng)

2.2 譜寬度

譜寬度指將激光器施加電流到恒定值時(shí),根據(jù)光譜強(qiáng)度與波長(zhǎng)所得到的分布曲線(xiàn),找到最大光譜強(qiáng)度50%所對(duì)應(yīng)的最大光譜間隔,如圖5 所示。

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圖5 激光器譜寬度

譜寬度:

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其中,ΔλFWHM 為譜寬度;λ1 為最大光譜強(qiáng)度50% 所對(duì)應(yīng)的最短波長(zhǎng);λ2 最大光譜強(qiáng)度50% 所對(duì)應(yīng)的最長(zhǎng)波長(zhǎng)。

2.3 中心波長(zhǎng)

中心波長(zhǎng)指將激光器施加電流到恒定值時(shí),根據(jù)光譜強(qiáng)度與波長(zhǎng)所得到的分布曲線(xiàn),找到最大光譜強(qiáng)度50% 所對(duì)應(yīng)的光譜間隔平均值。

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圖6 激光器中心波長(zhǎng)

中心波長(zhǎng):

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其中,λc 為中心波長(zhǎng);λ1 為最大光譜強(qiáng)度50% 所對(duì)應(yīng)的最短波長(zhǎng);λ2 最大光譜強(qiáng)度50% 所對(duì)應(yīng)的最長(zhǎng)波長(zhǎng)。

3   測(cè)試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)

本文采用LabVIEW 編程對(duì)測(cè)試進(jìn)行了系統(tǒng)實(shí)現(xiàn),具體包含硬件平臺(tái)搭建與軟件實(shí)現(xiàn)兩部分。

3.1 硬件平臺(tái)搭建

本文所述系統(tǒng)采用積分球作為激光功率及光譜信息收集設(shè)備,采用光功率探測(cè)器PD100 以及光譜分析儀USB2000 分別進(jìn)行光功率及光譜信號(hào)的收集。這樣做的好處在于,對(duì)于大功率半導(dǎo)體激光器產(chǎn)品而言,積分球可以有效降低探測(cè)位置側(cè)的功率,使得探測(cè)器所承受的能量值大為降低,同時(shí)提高整個(gè)系統(tǒng)的測(cè)試量程。

由于半導(dǎo)體激光器在工作過(guò)程中會(huì)產(chǎn)生大量熱量,一般采用冷水機(jī)設(shè)定溫度進(jìn)行產(chǎn)品制冷。[3] 在完成測(cè)試后,對(duì)殘留在產(chǎn)品中的水進(jìn)行吹氣排水處理。為提高測(cè)試產(chǎn)品的自動(dòng)化程度,將系統(tǒng)在功能上分為產(chǎn)品裝卸產(chǎn)品位置與測(cè)試位置,首先,在產(chǎn)品裝卸位置采用氣缸對(duì)激光器進(jìn)行自動(dòng)夾持,開(kāi)啟水路制冷,然后采用高精度絲杠帶動(dòng)產(chǎn)品進(jìn)入測(cè)試位置開(kāi)始自動(dòng)測(cè)試。測(cè)試完成后,系統(tǒng)將自動(dòng)生成測(cè)試報(bào)表,并回到初始裝卸位置,進(jìn)行吹氣排水處理,待下一個(gè)產(chǎn)品的測(cè)試。系統(tǒng)硬件原理框圖如圖7 所示。

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從圖中可以看出,安裝在積分球上的功率探頭及光譜光纖可以對(duì)激光器工作的全過(guò)程進(jìn)行檢測(cè),數(shù)據(jù)通過(guò)工控機(jī)數(shù)據(jù)采集卡進(jìn)行采集處理,整個(gè)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,易實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化。

3.2 測(cè)試系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)

本文所設(shè)計(jì)的半導(dǎo)體激光器測(cè)試系統(tǒng)軟件采用LabVIEW 進(jìn)行編程,其測(cè)試系統(tǒng)主界面如圖8 所示。

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圖8 測(cè)試系統(tǒng)主界面

該系統(tǒng)軟件分為PIV 測(cè)試及兩部分,系統(tǒng)可以對(duì)激光器加電過(guò)程中的特性進(jìn)行實(shí)時(shí)曲線(xiàn)記錄,同時(shí)給出各測(cè)量值的測(cè)試結(jié)果。在系統(tǒng)測(cè)試完成后,系統(tǒng)自動(dòng)形成報(bào)表,如圖9 所示。

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圖9 激光器測(cè)試報(bào)表

本系統(tǒng)使用標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)平臺(tái)搭建系統(tǒng),如圖10 所示,可以實(shí)現(xiàn)不同封裝形式的模塊化切換,整個(gè)系統(tǒng)測(cè)試節(jié)拍為30 s/ 個(gè)。

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圖10 半導(dǎo)體激光器測(cè)試系統(tǒng)

4   結(jié)束語(yǔ)

本文通過(guò)對(duì)GB-31359—2015 半導(dǎo)體激光器測(cè)試方法系統(tǒng)化解讀,選擇其中部分關(guān)鍵性指標(biāo),對(duì)半導(dǎo)體激光器的全過(guò)程測(cè)試進(jìn)行了系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)。該系統(tǒng)能夠?qū)Π雽?dǎo)體激光器相關(guān)性能進(jìn)行快速測(cè)試并提供數(shù)據(jù)報(bào)表,為企業(yè)批量生產(chǎn)提供依據(jù)。

參考文獻(xiàn):

[1] 中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局,中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì).GB/T31359—2015 半導(dǎo)體激光器測(cè)試方法[S].http://www.doc88.com/p-1718601765856.html.

[2] 范賢光,孫和義,唐文彥,等.連續(xù)半導(dǎo)體激光器LIV特性測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)[J].激光與紅外,2007(2):167-169.

[3] 項(xiàng)勤建,劉爽.一種半導(dǎo)體激光器參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)[J].光電器件, 2009(9):374-376.

(本文來(lái)源于《電子產(chǎn)品世界》雜志2021年5月期)



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