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Mentor Tessent Safety 生態(tài)系統(tǒng)助力Ambarella 的 AI 視覺處理器實(shí)現(xiàn)汽車安全目標(biāo)

作者: 時(shí)間:2020-07-02 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏

Mentor, a Siemens business 近日宣布,其 Tessent? 軟件安全生態(tài)系統(tǒng)幫助人工智能 (AI) 視覺芯片公司 Ambarella達(dá)成系統(tǒng)內(nèi) (in-system) 測(cè)試要求,并為該公司的 CV22FS 和 CV2FS 車載相機(jī)片上系統(tǒng) (SoC) 實(shí)現(xiàn) ISO26262 汽車安全完整性等級(jí) (ASIL) 目標(biāo)。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/202007/415049.htm

“可測(cè)試性設(shè)計(jì) (DFT) 是集成電路 (IC) 設(shè)計(jì)的關(guān)鍵要素,對(duì)面向安全關(guān)鍵型汽車應(yīng)用的尖端 AI 設(shè)備來(lái)說(shuō)更是如此,”Ambarella VLSI 總監(jiān) Praveen Jaini 表示,“Mentor 的 Tessent Safety 生態(tài)系統(tǒng)為我們提供了許多強(qiáng)大、省時(shí)的功能,不僅幫助我們快速達(dá)成設(shè)計(jì)目標(biāo),同時(shí)實(shí)現(xiàn)了客戶所期望的成本效益和可靠性。Mentor 的 Tessent 生態(tài)系統(tǒng)可擴(kuò)展性高,為開發(fā)替代設(shè)計(jì)和下一代設(shè)備提供了最佳靈活性。”

Tessent Safety 生態(tài)系統(tǒng)涵蓋一系列業(yè)界領(lǐng)先的 Mentor IC 測(cè)試技術(shù),是先進(jìn)汽車 IC 測(cè)試解決方案的完整產(chǎn)品組合,并且與 Mentor 行業(yè)領(lǐng)先的合作伙伴緊密連接。該生態(tài)系統(tǒng)提供了一系列先進(jìn)的 IC 測(cè)試技術(shù),包括在線設(shè)備監(jiān)控,這是一種將嵌入式監(jiān)視器分布在每個(gè)半導(dǎo)體設(shè)備中的創(chuàng)新方法,通過通用的基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)讓其相互連接,從而能夠快速檢測(cè)和報(bào)告系統(tǒng)中任何位置的隨機(jī)故障。 

“自動(dòng)駕駛的前景為半導(dǎo)體行業(yè)帶來(lái)了巨大機(jī)遇,同時(shí)也提出了諸多新技術(shù)層面的挑戰(zhàn)?!盡entor, a Siemens business 的 Tessent 產(chǎn)品系列副總裁兼總經(jīng)理 Brady Benware 表示,“Tessent Safety 生態(tài)系統(tǒng)通過可擴(kuò)展的 DFT 架構(gòu)幫助我們的客戶應(yīng)對(duì)并克服這些挑戰(zhàn),該架構(gòu)專為解決與自動(dòng)駕駛汽車 IC 設(shè)計(jì)相關(guān)的時(shí)間、成本和質(zhì)量要求而設(shè)計(jì)?!?/p>

Ambarella 的 CV22FS 和 CV2FS SoC 設(shè)計(jì)采用了以下 Tessent Safety 生態(tài)系統(tǒng)技術(shù): 

●   AI 視覺芯片公司使用 Tessent 測(cè)試技術(shù)成功實(shí)現(xiàn)bring-up并達(dá)到ISO26262 安全目標(biāo)

●   Tessent? LogicBIST 軟件,它是業(yè)界領(lǐng)先的內(nèi)置自測(cè)試 (built-in self-test) 解決方案,用于測(cè)試集成電路的數(shù)字邏輯組件。該軟件包括針對(duì)納米SoC設(shè)計(jì)的獨(dú)特功能,可降低測(cè)試成本并縮短產(chǎn)品上市時(shí)間,同時(shí)最大限度地提高測(cè)試質(zhì)量。

●   Tessent? MemoryBIST 平臺(tái)具有全面的自動(dòng)化流程,可提供 RTL 或門級(jí)的設(shè)計(jì)規(guī)則檢查、測(cè)試計(jì)劃、集成和驗(yàn)證。 

●   Tessent? MissionMode 產(chǎn)品將自動(dòng)化功能與片上 IP 組合在一起,可在車輛正常運(yùn)行過程中隨時(shí)對(duì)整輛汽車電子系統(tǒng)中的半導(dǎo)體芯片進(jìn)行測(cè)試和診斷。



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