開關(guān)電源32個測試項(xiàng)(二)
10.下降時(shí)間測試
本文引用地址:http://2s4d.com/article/201808/384921.htm一、目的:
測試S.M.P.S. POWER ON時(shí),各組輸出從90% ~ 10% POINT之下降時(shí)間(常規(guī)定義≥5mS);
二.使用儀器設(shè)備:
(1). AC SOURCE /交流電源;
(2). ELECTRONIC LOAD /電子負(fù)載;
(3). OSCILLOSCOPE /示波器
三.測試條件:
四、測試方法:
(1).測試時(shí)依規(guī)格設(shè)定AC LINE, FREQUENCY和輸出負(fù)載(一般LOW LINE MAX. LOAD時(shí)間最長).
(2). OSCILLOSCOPE的CH1接Vo為TRIGGER SOURCE, CH2接AC LINE.
(3). TRIGGER LEVEL設(shè)定在Vo的60% ~ 80%間較為妥當(dāng), TRIGGER SLOPE設(shè)定在+,VOLTS/DIV和TIME/DIV則視實(shí)際情況而定.
(4).用CURSOR中TIME,量測AC ON至Vo LOW LIMIT之時(shí)間差.
五.注意事項(xiàng):
(1).測試前先將待測品處于冷機(jī)狀態(tài),待BULK Cap.電荷放盡后進(jìn)行測試;
(2).示波器(OSCILLOSCOPE)需使用隔離變壓器.
12.關(guān)機(jī)維持時(shí)間測試
一、目的:
測試S.M.P.S. POWER OFF時(shí),輸入電壓AC LINE與輸出OUTPUT之時(shí)間差(常規(guī)定義≥10mS/115Vac ≥20mS/230Vac );
二.使用儀器設(shè)備:
(1). AC SOURCE /交流電源;
(2). ELECTRONIC LOAD /電子負(fù)載;
(3). OSCILLOSCOPE /示波器
三.測試條件:
四、測試方法:
(1).測試時(shí)依規(guī)格設(shè)定AC LINE, FREQUENCY和輸出負(fù)載.
(2). OSCILLOSCOPE的CH1接Vo為TRIGGER SOURCE, CH2接ACLINE.
(3). TRIGGER LEVEL設(shè)定在Vo的60% ~ 80%間較為妥當(dāng), TRIGGER SLOPE設(shè)定在“-”, VOLTS/DIV和TIME/DIV則視實(shí)際情況而定.
(4).用CURSOR中TIME,量測AC ON至Vo LOW LIMIT之時(shí)間差.
五.注意事項(xiàng):
(1).測試前先將待測品熱機(jī),待其輸出電壓穩(wěn)定后再進(jìn)行測試;
(2).示波器(OSCILLOSCOPE)需使用隔離變壓器.
13.輸出過沖幅度測試
一、目的:
測試S.M.P.S. POWER ON時(shí),輸出DC OUTPUT過沖幅度變化量(常規(guī)定義為≤10%).
二.使用儀器設(shè)備:
(1). AC SOURCE /交流電源;
(2). ELECTRONIC LOAD /電子負(fù)載;
(3). OSCILLOSCOPE /示波器;
三.測試條件:
依SPEC.所要求,輸入電壓范圍與輸出負(fù)載(Min. – Max. load).
四、測試方法:
(1).測試時(shí)依規(guī)格設(shè)定AC LINE, FREQUENCY和輸出負(fù)載.
(2). OSCILLOSCOPE的CH1接Vo為TRIGGER SOURCE;
(3). TRIGGER LEVEL設(shè)定在Vo的60% ~ 80%間較為妥當(dāng), TRIGGER SLOPE設(shè)定在“+”和“-”, VOLTS/DIV和TIME/DIV則視
實(shí)際情況而定.
(4).用CURSOR中VOLT,量測待測品出過沖點(diǎn)與穩(wěn)定值之關(guān)系.
(5). ON / OFF各做十次,過沖幅度%=△V / Vo *100%;
五、注意事項(xiàng):
產(chǎn)品在CC與CR模式都需滿足規(guī)格要求.
14.輸出暫態(tài)響應(yīng)測試
一、目的:
測試S.M.P.S.輸出負(fù)載快速變化時(shí),其輸出電壓跟隨變動之穩(wěn)定性(規(guī)格定義電壓最大與最小值不超過輸出規(guī)格的±10%).
二.使用儀器設(shè)備:
(1). AC SOURCE /交流電源;
(2). ELECTRONIC LOAD /電子負(fù)載;
(3). OSCILLOSCOPE /示波器;
三.測試條件:
依SPEC.所規(guī)定:輸入電壓AC LINE,變化的負(fù)載LOAD,頻率及升降斜率SR/F值.
四、測試方法:
(1).測試時(shí)設(shè)定好待測品輸入電壓AC LINE和頻率FREQUENCY.
(2).測試時(shí)設(shè)定好待測品輸出條件:變化負(fù)載和變化頻率及升降斜率.
(3). OSCILLOSCOPE CH1接到OUTPUT偵測點(diǎn),量其電壓之變化.
(4). CH2接CURRENT PROBE測試輸出電流,作為OSCILLOSCOPE之TRIGGER SOURCE.
(5). TRIGGER MODE設(shè)定為AUTO..
五、注意事項(xiàng):
(1).注意使用CURRENT PROBE時(shí),每改變VOLTS/DIV刻度PROBE皆須歸零ZERO,
(2).須經(jīng)常對CURRENT PROBE進(jìn)行消磁DEGAUSS和歸零ZERO.
19.輸入電壓變動測試
一、目的:
測試S.M.P.S.的輸入電壓在規(guī)格要求缺潿時(shí),是否會對S.M.P.S.造成損傷或輸出不穩(wěn)定.
二.使用儀器設(shè)備:
(1). AC SOURCE /交流電源;
(2). ELECTRONIC LOAD /電子負(fù)載;
(3). OSCILLOSCOPE /示波器;
三.測試條件:
依SPEC.所規(guī)定:輸入電壓AC LINE和負(fù)載LOAD值.
四、測試方法:
(1).將待測輸出負(fù)載設(shè)在MAX. LOAD和MIN. LOAD.
(2). TRIGGER SLOPE設(shè)定為+, TRIGGER MODE設(shè)定為AUTO, TIME/DIV視情況而定1S/DIV或2S/DIV.
(3).變動輸入電壓,如:90Vac-180Vac;115Vac-230Vac;132Vac-264Vac;0-90Vac…… 0-264Vac.
(4).測試輸出電壓在輸入電壓變動時(shí)的最大值和最小值.
五、注意事項(xiàng):
輸出電壓變動的范圍應(yīng)在規(guī)格電壓要求內(nèi).
20.電源開關(guān)循環(huán)測試
一、目的:
測試S.M.P.S.是否能承受連續(xù)開關(guān)操作下的沖擊.
二.使用儀器設(shè)備:
(1). AC SOURCE /交流電源;
(2). ELECTRONIC LOAD /電子負(fù)載;
(3). OSCILLOSCOPE /示波器;
(4) POWER ON/OFF TESTER /電源開關(guān)測試儀;
三.測試條件:
(1).輸入電壓: 115Vac/230Vac輸出負(fù)載:滿載.
(2). ON/OFF時(shí)間: ON 5秒/ OFF 5秒ON/OFF CYCLE:AT LEAST 5000 CYCLE.
(3).環(huán)境溫度:室溫.
四、測試方法:
(1).連接待測品到電源開/關(guān)測試儀及電源. (115Vac和230Vac 滿載,或依客戶規(guī)格執(zhí)行)
(2). S.M.P.S OFF 5秒及ON 5秒為一周期,總共測試周期: 5000 CYCLES.
(3).測試過程中每完成1000周期時(shí),記錄產(chǎn)品的輸入功率和輸出電壓.
(4).待試驗(yàn)結(jié)束后,確定待測品在試驗(yàn)前后電氣性能是否有差異.
五、注意事項(xiàng):
測試過程中或測試完成階段,待測品都需能正常操作且不應(yīng)有任何性能降低情況發(fā)生.
21.元件溫升測試
一、目的:
測試S.M.P.S.在規(guī)格操作環(huán)境,電壓,頻率和負(fù)載條件時(shí),元件的溫升狀況.
二.使用儀器設(shè)備:
(1). AC SOURCE /交流電源;
(2). ELECTRONIC LOAD /電子負(fù)載;
(3). HYBRID RECORDER /混合記錄儀(DR130);
(4). TEMP. CHAMBER /溫控室;
三.測試條件:
依SPEC.規(guī)定:輸入電壓AC LINE,頻率FREQUENCY,輸出負(fù)載LOAD及環(huán)境溫度.
四、測試方法:
(1).依線路情況先確定溫升較高的元件,后用溫升線粘貼所確定的元件.
(2).依規(guī)格設(shè)定好測試條件(AC LINE AND OUTPUT LOAD)再開機(jī),并記錄輸入功率和輸出電壓.
(3).用混合記錄儀HYBRID RECORDER記錄元件的溫升曲線,待元件溫升完全穩(wěn)定后打印結(jié)果,并記錄輸入功率和輸出電壓.
五、注意事項(xiàng):
(1).溫升線耦合點(diǎn)應(yīng)盡量貼著元件測試點(diǎn),溫升線走勢應(yīng)盡量避免影響S.M.P.S元件的散熱.
(2).測試的樣品應(yīng)模擬其實(shí)際的或在系統(tǒng)中的擺放狀態(tài).
(3).針對于無風(fēng)扇( NO FAN)的產(chǎn)品,測試時(shí)應(yīng)盡量避免外界風(fēng)流動對它的影響.
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