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簡述BSDL邊界掃描語言,BSDL邊界掃描語言的應用

作者: 時間:2018-07-30 來源:網(wǎng)絡 收藏

BSDL邊界掃描語言的邊界掃描是一個完善的測試技術。 邊界掃描在自當聯(lián)合測試行動組(JTAG)90年代初發(fā)明了一種解決方案來測試使用了許多新的印刷電路,正在開發(fā)和制造的地方幾乎沒有或根本沒有測試探針板的物理訪問。 一旦邊界掃描成立后,下一步是制定一個標準的芯片供應商的模型邊界掃描設備,工具供應商開發(fā)自動化工具,以及為最終用戶創(chuàng)建的邊界掃描測試的建模語言。 因此,邊界掃描描述語言(BSDL)已建立。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/201807/384481.htm

BSDL是邊界掃描設備的標準建模語言。 它的語法是一個VHDL的子集,它符合IEEE 1149.1-2001的規(guī)定。 它是由使用邊界掃描測試開發(fā)人員,設備模擬器,半導體測試儀,電路板級測試,任何人利用邊界掃描。 使用的的BSDL促進整個電子行業(yè)的一致性。 此外,它使任何邊界掃描中的一個有用的,可以理解的,一致的方式和設備的功能規(guī)范。


BSDL走出了邊界掃描測試哲學的發(fā)展。 最初的IEEE 1149.1-1990標準的(見[符合IEEE 1149.1(JTAG接口)])標準描述的邊界掃描并于1990年批準發(fā)布,并作為結(jié)果,使用邊界掃描技術開始增長。 該標準的下一次修訂在1993年發(fā)生。 在1994年進一步修訂納入了IEEE 1149.1-1994標準的BSDL。

什么是的BSDL?

邊界掃描描述語言使用戶能夠提供的方式,邊界掃描在任何特定的設備實施的說明。 由于每個芯片設計趨于應用邊界掃描方式略有不同標準,這是一個需要理解的表達,具體和實用的方式測試。是書面的BSDL在VHDL的子集。 VHDL語言是常用的一種為FPGA和ASIC設計輸入的數(shù)字電路電子設計自動化的語言,因此它是與邊界因為許多芯片設計掃描是用這種語言進行工作相適應的。 但是的BSDL是一個“子集和標準做法”的VHDL,即VHDL語言的范圍,從而對邊界掃描應用受到限制。

設計過程中的BSDL有兩種語言的主要標準:

BDSL使設備的使用邊界掃描功能,準確和有用的說明。 BSDL文件是所使用的邊界掃描工具,使設備的使用功能,使任何測試性分析測試程序生成,?故障診斷,以及使用。 的BSDL不是一個可以用硬件描述語言,相反,它是用來定義設備的數(shù)據(jù)傳輸?shù)奶攸c,即它是如何捕獲,轉(zhuǎn)變和更新掃描數(shù)據(jù)。 這才是用于定義測試能力。

BSDL文件包括以下數(shù)據(jù):

實體聲明 :本實體聲明是一個VHDL構(gòu)造,是用來識別文件名 的BSDL設備所描述的。

泛型參數(shù) :通用參數(shù)是指定哪個區(qū)段包描述。

邏輯端口說明 :這說明列出了設備的所有連接。 它定義它的基本屬性,即是否連接輸入(以位;),輸出(OUT位;),雙向(inout的位;),或者如果它是不可用的邊界掃描(連鎖位;)。

封裝引腳映射 :包引腳映射被用于確定一個集成電路的內(nèi)部連接范圍內(nèi)。 它詳細介紹了如何在設備上的墊片裸片連接到外部引腳。

USE語句 :這句話是用來調(diào)用BSDL文件VHDL語言包,該數(shù)據(jù)包含在所引用。

掃描端口標識 :掃描端口標識識別引腳的JTAG執(zhí)行工作/這是用于邊界掃描。 這些措施包括:TDI的,商品說明條例,訓練管理系統(tǒng),TCK和TRST的(如果使用)。

測試訪問端口(TAP)說明 :本實體提供設備的其他信息的邊界掃描和JTAG邏輯。 這些數(shù)據(jù)包括指令寄存器的長度,指令操作碼,設備的IDCODE等。

邊界寄存器描述 :這說明提供器件結(jié)構(gòu)的邊界掃描單元上。 每個器件引腳上最多可以有三個邊界掃描單元,每個單元格組成的一個寄存器鎖存器和一個。

BSDL怎樣使用?

當電路板的設計,邊界掃描兼容設備被組織成“鏈”。 掃描鏈構(gòu)成了板級和系統(tǒng)級的測試,可以檢測和診斷引腳層次的結(jié)構(gòu)性缺陷,如開路和短路的基礎。 自動化工具用于生成測試方案或議會的程序。 最重要的投入,這個過程是邊界掃描功能的設備的BSDL文件,以及網(wǎng)表描述板之間的互連的設備。 生成的測試程序,當應用到目標板,報告的結(jié)構(gòu)測試失敗,可以用來幫助板維修。

有些工具能夠使用邊界掃描創(chuàng)造集群的組件包括非邊界掃描兼容設備的測試模式,和其他工具可以生成測試模式,一個板上處理器可以運行,以便能夠在高速功能測試。 這些測試應用程序獨立或與其他測試技術,如在電路,結(jié)合測試(ICT)的,具有生產(chǎn)以最低的成本最優(yōu)的測試覆蓋的總體目標和最短的測試開發(fā)時間。

邊界掃描語言的BSDL,被廣泛用于在IEEE 1149.1 / JTAG的社會使一致,準確和有用的資料供邊界掃描功能的設備定義。 通過這種方式,該芯片可以被納入一個設計,它的功能用在最有效的方式充分。

邊界掃描器件BSDL描述在測試中的應用

1、引言

“邊界掃描”是一種可測性設計技術,即在電子系統(tǒng)的設計階段就考慮其測試問題[1]。

BSDL(boundary scan des cripTIon language) 語言硬件描述語言(VHDL)的一個子集,是對邊界掃描器件的邊界掃描特性的描述,主要用來溝通邊界掃描器件廠商、用戶與測試工具之間的聯(lián)系,其應用包括:廠商將BSDL描述作為邊界掃描器件的一部分提供給用戶;BSDL描述為自動測試圖形生成(ATPG)工具測試特定的電路板提供相關信息;在BSDL 的支持下生成由IEEE1149.1標準定義的測試邏輯 [2]?,F(xiàn)在,BSDL語言已經(jīng)正式成為IEEE1149.1標準文件的附件。BSDL本身不是一種通用的硬件描述語言,但它可與軟件工具結(jié)合起來用于測試生成、結(jié)果分析和故障診斷。每一邊界掃描器件都附有特定的BSDL描述文件,為了論述的方便,本文將以Altera公司的CPLD器件 EPM7128SL84 芯片為例說明BSDL描述在測試中的應用。

2、EPM7128SL84芯片的BSDL描述

該器件采用了先進的CMOS EEPROM制造工藝,共有84個引腳,其中包括四個JTAG測試引腳 TDI、TMS、TCK和TDO,通過標準JTAG測試接口它還可以支持在系統(tǒng)可編程(ISP)。下面首先討論EPM7128SL84的BSDL描述中與應用相關的各基本元素。

2.1 TAP描述

TAP描述說明與TAP控制器相關的特性。TAP 控制器包括4個或5個控制信號,一個用戶定義的指令集(在IEEE1149.1標準規(guī)定范圍內(nèi))和一些可選擇的數(shù)據(jù)寄存器。EPM7128SL84的 TAP描述有:


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