簡(jiǎn)述BSDL邊界掃描語(yǔ)言，BSDL邊界掃描語(yǔ)言的應(yīng)用

3、BSDL描述語(yǔ)言的實(shí)際應(yīng)用

3.1 TAP完整性測(cè)試

指令捕獲(INSTRUCTION_CAPTURE)屬性提供了測(cè)試TAP完整性的一條途徑。TAP完整性測(cè)試可以檢測(cè)時(shí)鐘TCK和模式選擇TMS的輸入端連接是否正確，所提供的有關(guān)信號(hào)是否正常;數(shù)據(jù)輸入TDI 和數(shù)據(jù)輸出TDO端的連接是否正確，且輸入和輸出的功能是否正常;內(nèi)部的指令寄存器工作是否正常;內(nèi)部的邊界掃描寄存器工作是否正常。TAP完整性測(cè)試是進(jìn)行邊界掃描其他任何測(cè)試之前建議首先進(jìn)行的測(cè)試操作，以確保邊界掃描鏈能正常工作。

TAP完整性測(cè)試的過(guò)程如圖3所示。在TAP的 Shift-IR狀態(tài)，指令捕獲位圖形已加載至指令寄存器的移位寄存器部分，直接從TDO移出數(shù)據(jù)并與各芯片的Capture位圖形比較，若數(shù)據(jù)一致則 TAP完整性測(cè)試通過(guò)。

3.2 芯片ID碼的檢測(cè)

芯片ID碼是識(shí)別芯片的內(nèi)建器件標(biāo)識(shí)碼，通過(guò)檢測(cè)芯片ID碼可以識(shí)別該芯片，判斷芯片裝配正確與否，并可進(jìn)一步判斷芯片的型號(hào)、生產(chǎn)廠家及版本號(hào)與其標(biāo)識(shí)是否相符，辨別芯片的真?zhèn)?。?dāng)TAP進(jìn)入Test-Logic-Reset狀態(tài)時(shí)，若標(biāo)志寄存器存在，則被強(qiáng)制接入TDI與TDO之間，寄存器LSB的值為“1”，否則，旁路寄存器被接入TDI與TDO之間，寄存器的值為“0”。所以，在檢測(cè)芯片標(biāo)志寄存器的值時(shí)，可以由復(fù)位狀態(tài)直接進(jìn)入移位數(shù)據(jù)狀態(tài)，輸出TDO的值，并判斷其第一位是否為“1”，若是，則此芯片有標(biāo)準(zhǔn)寄存器存在，可繼續(xù)移出其他31位，并進(jìn)行判斷與顯示。檢測(cè)流程如圖4所示。我們?cè)趯?duì)芯片EPM7128SL84進(jìn)行ID標(biāo)識(shí)碼檢測(cè)時(shí)，用邏輯分析儀采集到的TDO端的輸出波形如圖5所示，與BSDL描述中的ID碼一致，說(shuō)明器件正確。

3.3 邊界掃描互連測(cè)試

我們?cè)陂_(kāi)發(fā)邊界掃描測(cè)試軟件過(guò)程中，設(shè)計(jì)制作了基于邊界掃描機(jī)制的試驗(yàn)電路板當(dāng)作診斷實(shí)驗(yàn)對(duì)象。其中兩塊 EPM7128SL84芯片間的有16個(gè)互連網(wǎng)絡(luò)，分別是兩芯片的4～12管腳之間、33～41管腳之間的互連(除去7腳地線，38腳電源線)。在進(jìn)行互連測(cè)試時(shí)，首先要構(gòu)造一個(gè)16×16的測(cè)試矩陣，然后將此矩陣的16個(gè)列向量分別加載到芯片1的IO4～ IO12，IO33～I(xiàn)O41管腳(除去7腳和38腳)，然后執(zhí)行外部測(cè)試指令。由芯片2捕獲對(duì)應(yīng)管腳上的信號(hào)，形成響應(yīng)向量，全部16個(gè)列向量分別加載捕獲完成后，再對(duì)響應(yīng)矩陣進(jìn)行故障診斷 [3]，如圖6所示。在此測(cè)試過(guò)程中，對(duì)芯片1的IO管腳加載的向量數(shù)據(jù)必須定位到每個(gè)管腳對(duì)應(yīng)的三態(tài)輸出單元，即芯片1的 281，278，275，269，263，260， 257，251，179，173，167，164，161，155，149，146單元;而芯片2所捕獲的對(duì)應(yīng)管腳上的信號(hào)，在執(zhí)行采樣指令之后，都被置入每個(gè)管腳對(duì)應(yīng)的輸入單元，即芯片2的279，276，273，267， 261，258，255，249，177，171，165，162，159，153，147，144單元。這樣，從TDO輸出的對(duì)應(yīng)單元的數(shù)據(jù)就組成了響應(yīng)矩陣，對(duì)響應(yīng)矩陣按照一定的算法進(jìn)行分析，便可檢測(cè)出呆滯、短路、開(kāi)路與橋接故障。

4、結(jié)束語(yǔ)

以上所述測(cè)試流程均用C++ Builder編程實(shí)現(xiàn)，能對(duì)基于邊界掃描機(jī)制的試驗(yàn)電路板進(jìn)行準(zhǔn)確、可靠的測(cè)試。試驗(yàn)證明，在邊界掃描各項(xiàng)測(cè)試中，對(duì)BSDL描述信息進(jìn)行有效的編譯提取，對(duì)測(cè)試的成功實(shí)現(xiàn)至關(guān)重要。但器件的BSDL描述必須嚴(yán)謹(jǐn)、確切，所以，在下一步的軟件完善中，將加入BSDL 文件的數(shù)據(jù)完整性檢查，以防止錯(cuò)誤數(shù)據(jù)損壞被測(cè)對(duì)象。