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電源緩啟動(dòng)原理

作者: 時(shí)間:2017-10-13 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

  現(xiàn)在大多數(shù)電子系統(tǒng)都要支持熱插拔功能,所謂熱插拔,也就是在系統(tǒng)正常工作時(shí),帶電對(duì)系統(tǒng)的某個(gè)單元進(jìn)行插拔操作,且不對(duì)系統(tǒng)產(chǎn)生任何影響。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/201710/365808.htm

  熱插拔對(duì)系統(tǒng)的影響主要有兩方面:

  其一,熱插拔時(shí),連接器的機(jī)械觸點(diǎn)在接觸瞬間會(huì)出現(xiàn)彈跳,引起振蕩,如下圖所示:

  

  這個(gè)振蕩過(guò)程會(huì)引起系統(tǒng)跌落,引起誤碼,或系統(tǒng)重啟,也可能會(huì)引起連接器打火,引發(fā)火災(zāi)。

  解決的辦法就是延遲連接器的通電時(shí)間,在連接器抖動(dòng)的那十幾毫秒內(nèi)((t1至t2)不給連接器通電,等插入穩(wěn)定后(t2后)再通電,即防抖動(dòng)延時(shí)。

  其二,熱插拔時(shí),由于系統(tǒng)大容量?jī)?chǔ)能電容的充電效應(yīng),系統(tǒng)中會(huì)出現(xiàn)很大的沖擊電流,大家都知道,電容在充電時(shí),電流呈指數(shù)趨勢(shì)下降(左下圖),所以在剛開始充電的時(shí)候,其沖擊電流是非常大的。

  

  此沖擊電流可能會(huì)燒毀設(shè)備保險(xiǎn)管,所以在熱插拔時(shí)必須對(duì)沖擊電流進(jìn)行控制,使其按理想的趨勢(shì)變化,如右上圖所示,圖中0~t1為電源緩啟動(dòng)時(shí)間。

  綜上所述,緩啟動(dòng)電路主要的作用是實(shí)現(xiàn)兩項(xiàng)功能:

  1)。防抖動(dòng)延時(shí)上電;

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  緩啟動(dòng)電路有兩種類型:電壓斜率型和電流斜率型。

  電壓斜率型緩啟動(dòng)電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,但是其輸出電流的變化受負(fù)載阻抗的影響較大,而電流斜率型緩啟動(dòng)電路的輸出電流變化不受負(fù)載影響,但是電路結(jié)構(gòu)復(fù)雜。

  下面重點(diǎn)介紹電壓型緩啟動(dòng)電路。

  設(shè)計(jì)中通常使用MOS管來(lái)設(shè)計(jì)緩啟動(dòng)電路的。MOS管有導(dǎo)通阻抗Rds低和驅(qū)動(dòng)簡(jiǎn)單的特點(diǎn),在周圍加上少量元器件就可以構(gòu)成緩慢啟動(dòng)電路。通常情況下,在正電源中用PMOS,在負(fù)電源中使用NMOS。

  下圖是用NMOS搭建的一個(gè)-48V電源緩啟動(dòng)電路,我們來(lái)分析下緩啟動(dòng)電路的工作原理。

  

  1).D1是嵌位二極管,防止輸入電壓過(guò)大損壞后級(jí)電路;

  2).R2和C1的作用是實(shí)現(xiàn)防抖動(dòng)延時(shí)功能,實(shí)際應(yīng)用中R2一般選20K歐姆,C1選4.7uF左右;

  3).R1的作用是給C1提供一個(gè)快速放電通道,要求R1的分壓值大于D3的穩(wěn)壓值,實(shí)際應(yīng)用中,R1一般選10K左右;

  4).R3和C2用來(lái)控制上電電流的上升斜率,實(shí)際應(yīng)用中,R3一般選200K歐姆左右,C2取值為10 nF~100nF;

  5).R4和R5的作用是防止MOS管自激振蕩,要求R4、R5lt;

  6)。嵌位二極管D3的作用是保護(hù)MOS管Q1的柵-源極不被高壓擊穿;D2的作用是在MOS管導(dǎo)通后對(duì)R2、C1構(gòu)成的防抖動(dòng)延時(shí)電路和R3、C2構(gòu)成的上電斜率控制電路進(jìn)行隔離,防止MOS柵極充電過(guò)程受C1的影響。

  下面來(lái)分析下該電路的緩啟動(dòng)原理:

  假設(shè)MOS管Q1的柵-源極間的寄生電容為Cgs,柵-漏極間的寄生電容為Cgd,漏-源極間的寄生電容為Cds,柵-漏極外部并聯(lián)了電容C2 (C2gt;》Cgd),所以柵-漏極的總電容C’gd=C2+ Cgd,由于相對(duì)于C2 來(lái)說(shuō),Cgd的容值幾乎可忽略不計(jì),所以C’gd≈C2,MOS管柵極的開啟電壓為Vth,正常工作時(shí),MOS管柵源電壓為Vw(此電壓等于穩(wěn)壓管D3的嵌位電壓),電容C1充電的時(shí)間常數(shù)t=(R1//R2//R3)C1,由于R3通常比R1、R2大很多,所以t≈(R1//R2)C1。

  下面分三個(gè)階段來(lái)分析上述電壓緩啟動(dòng)電路的工作原理:

  第一階段:-48V電源對(duì)C1充電,充電公式如下。

  Uc=48*R1/(R1+R2)[1-exp(-T/t)],其中T是電容C1電壓上升到Uc的時(shí)間,時(shí)間常數(shù)t=(R1//R2)C1。所以,從上電到MOS管開啟所需要的時(shí)間為:Tth=-t*ln[1-(Uc*(R1+R2)/(48*R1))]

  第二階段:MOS管開啟后,漏極電流開始增大,其變化速度跟MOS管的跨導(dǎo)和柵源電壓變化率成正比,具體關(guān)系為:dIdrain/dt = gfm *dVgs/dt,其中g(shù)fm為MOS管的跨導(dǎo),是一個(gè)固定值,Idrain為漏極電流,Vgs為MOS管的柵源電壓,此期間體現(xiàn)為柵源電壓對(duì)漏源電流的恒定控制,MOS管被歸納為壓控型器件也是由此而來(lái)的。

  第三階段:當(dāng)漏源電流Idrain達(dá)到最大負(fù)載電流時(shí),漏源電壓也達(dá)到飽和,同時(shí),柵源電壓進(jìn)入平臺(tái)期,設(shè)電壓幅度為Vplt。由于這段時(shí)間內(nèi)漏源電流Ids保持恒定,柵源電壓Vplt=Vth+(Ids/gfm),同時(shí),由于固定的柵源電壓使柵極電流全部通過(guò)反饋電容C’gd,則柵極電流為Ig= (Vw-Vplt)/(R3+R5),由于R5相對(duì)于R3可以忽略不計(jì),所以Ig≈(Vw-Vplt)/R3。因?yàn)闁艠O電流Ig≈Icgd,所以,Icgd=Cgd*dVgd/dt。由于柵源電壓在這段時(shí)間內(nèi)保持恒定,所以柵源電壓和漏源電壓的變化率相等。故有:dVds/dt=dVgd /dt=(Vw-Vplt)/(R3*C2)。

  由此公式可以得知,漏源電壓變化斜率與R3*C2的值有關(guān),對(duì)于負(fù)載恒定的系統(tǒng),只要控制住R3*C2的值,就能控制住熱插拔沖擊電流的上升斜率。

  緩啟動(dòng)階段,柵源電壓Vgs,漏源電壓Vds和漏源電流Ids的變化示意圖如下所示。

  

  在0~t1階段,肖特基二極管D2尚未開啟,所以Vgs等于0,在這段時(shí)間內(nèi),-48V電源通過(guò)R3、R5對(duì)C2充電,等C2的電壓升高到D2的開啟電壓,MOS管的柵極電壓開始升高,等柵源電壓升高到MOS管的開啟電壓Vth時(shí),MOS管導(dǎo)通,漏源電流Ids開始增大,等MOS管的柵源電壓升高到平臺(tái)電壓Vplt時(shí),漏源電流Ids也達(dá)到最大,此時(shí),漏源電壓Vds進(jìn)入飽和,開始下降,平臺(tái)電壓Vplt結(jié)束時(shí),MOS管完全導(dǎo)通,漏源電壓降到最低,MOS管的導(dǎo)通電阻Rds最小。



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