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次世代記憶體換當(dāng)家?關(guān)于新當(dāng)家的那點事

作者: 時間:2017-10-11 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

據(jù)韓媒BusinessKorea報導(dǎo),IBM 和三星在電機(jī)電子工程師學(xué)會(IEEE)發(fā)布研究論文宣稱,兩家公司攜手研發(fā)的STT-MRAM 的生產(chǎn)技術(shù),成功實現(xiàn)10 奈秒(nanosecond)的傳輸速度和超省電架構(gòu),理論上表現(xiàn)超越DRAM。韓國半導(dǎo)體業(yè)者指出,16納米將是DRAM微縮制程的最后極限,包括FRAM在內(nèi)的多種次世代存儲(其它包括MRAM)備受期待。(本文引用自“電子發(fā)燒友網(wǎng)”報道,有刪節(jié))

本文引用地址:http://2s4d.com/article/201710/365485.htm

什么是FRAM

FRAM(鐵電隨機(jī)存取存儲器)采用鐵電質(zhì)膜用作電容器來存儲數(shù)據(jù),具有ROM(只讀存儲器)和RAM(隨機(jī)存取器)的特點,在高速讀寫入、高讀寫耐久性、低功耗和防竄改方面具有優(yōu)勢。

存儲器分類中的FRAM

鐵電存儲器工作原理

當(dāng)一個電場被加到鐵電晶體時,中心原子順著電場的方向在晶體里移動。當(dāng)原子移動時,它通過一個能量壁壘,從而引起電荷擊穿。內(nèi)部電路感應(yīng)到電荷擊穿并設(shè)置存儲器。移去電場后,中心原子保持不動,存儲器的狀態(tài)也得以保存。

PZT晶體結(jié)構(gòu)和FRAM工作原理

上圖表解釋了PZT晶體結(jié)構(gòu),這種結(jié)構(gòu)通常用作典型的鐵電質(zhì)材料。在點陣中具有鋯和鈦,作為兩個穩(wěn)定點。它們可以根據(jù)外部電場在兩個點之間移動。一旦位置設(shè)定,即使在出現(xiàn)電場,它也將不會再有任何移動。頂部和底部的電極安排了一個電容器。那么,電容器劃分了底部電極電壓和極化,超越了磁滯回線。數(shù)據(jù)以“1”或“0”的形式存儲。

相比之下,鐵電電容的漏電流沒有EEPROM、FLASH之類的傳統(tǒng)非易失性存儲器那么重要,因為FeRAM的信息存儲是由極化來實現(xiàn)的,而不是自由電子。

與傳統(tǒng)存儲器相比,F(xiàn)RAM具有下列優(yōu)勢

· 非易失性

- 即使沒有上電,也可以保存所存儲的信息。

- 與SRAM相比,無需后備電池(環(huán)保產(chǎn)品)

· 更高速度寫入

- 像SRAM一樣,可覆蓋寫入不要求改寫命令

- 對于擦/寫操作,無等待時間

寫入循環(huán)時間 =讀取循環(huán)時間

寫入時間: E2PROM的1/30,000

· 具有更高的讀寫耐久性

- 確保最大1012次循環(huán)(100萬億循環(huán))/位的耐久力

耐久性:超過100萬次的 E2PROM

· 具有更低的功耗

- 不要求采用充電泵電路

功耗:低于1/400的E2PROM

與其它存儲器產(chǎn)品相比,F(xiàn)RAM的特性

*1) T=晶體管。 C=電容器

*2) 256Kb獨立的FRAM存儲器的技術(shù)規(guī)格

*3) 讀寫操作的總循環(huán)



關(guān)鍵詞: dram fram

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