基于VMM驗證方法學(xué)的MCU驗證環(huán)境

1 簡介

隨著設(shè)計的復(fù)雜程度不斷增加，要求把更多的資源放到驗證上，不但要求驗證能夠覆蓋所有的功能，還希望能夠給出大量的異常情況來檢查DUT對應(yīng)異常的處理狀態(tài)，這在傳統(tǒng)測試方法下往往是難以實(shí)現(xiàn)的。此外，設(shè)計不斷地重用，而驗證也希望能夠重用一樣的驗證模塊，這就催生了層次化的驗證方法。 Synopsys的 VMM驗證方法學(xué)提供了基于SystemVerilog的驗證方法，包括了有約束的隨機(jī)數(shù)生成，層次化的驗證結(jié)構(gòu)，以及以功能覆蓋率為指標(biāo)的驗證流程。在本文中，圍繞Synopsys的VMM(Verification Methodology Manual)構(gòu)建了一個MCU驗證環(huán)境。

2 DUT

在這個環(huán)境中驗證了一個8位MCU，該CPU時鐘周期即為指令周期，兼容MCU指令集，包含8位的運(yùn)算邏輯單元，包含了ACC、B、PSW等常用的寄存器，4組R0-R7的R寄存器，支持直接，間接尋址，支持位操作，跳轉(zhuǎn)指令可以為8位有符號相對地址跳轉(zhuǎn)或者11位，16位無符號絕對地址跳轉(zhuǎn)。

4個優(yōu)先級12個中斷，中斷包括外部輸入中斷，以及串口和計數(shù)器等的內(nèi)部中斷，15位可編程Watchdog，另外包含程序ROM接口，外部RAM接口，內(nèi)部RAM以及SFR接口。MCU本身并不包含memory，所有的ROM以及RAM都是通過外部接口進(jìn)行通信，這里在VMM環(huán)境里實(shí)現(xiàn)了行為級的 memory model，來保存程序代碼和數(shù)據(jù)。以下是MCU的簡要模塊框圖。

圖1 MCU內(nèi)部結(jié)構(gòu)

這個MCU也是在原有基礎(chǔ)上改進(jìn)了指令周期，減少了大部分指令執(zhí)行所需的指令周期。因為部分指令所需要的指令周期的縮短，很多原有采樣和賦值時間相應(yīng)發(fā)生較大變化，在功能驗證的基礎(chǔ)上，需要關(guān)注是否因此對下一條指令產(chǎn)生影響，特別是中斷和部分指令同時發(fā)生時的一些特殊情況。

MCU的指令執(zhí)行都會通過讀寫RAM memory來實(shí)現(xiàn)，另外所有的外設(shè)都會通過配置SFR memory來啟動相應(yīng)功能，并會對相應(yīng)的SFR置位來顯示外設(shè)的工作結(jié)果或是狀態(tài)，這里RAM memory和SFR memory內(nèi)容就是需要關(guān)注的檢測點(diǎn)，只要保證RAM memory以及SFR memory內(nèi)容的正確，就可以驗證MCU的所有功能正確。

3 基于VMM的MCU驗證結(jié)構(gòu)

基于VMM的MCU驗證就需要充分利用VMM的特點(diǎn)，即為有約束的隨機(jī)數(shù)生成、自動數(shù)據(jù)對比檢查，和功能覆蓋率收集。

3.1 有約束的隨機(jī)指令生成

傳統(tǒng)的MCU驗證，需要寫匯編代碼，注入MCU程序ROM進(jìn)行仿真，匯編代碼的質(zhì)量和覆蓋率是影響驗證的主要因素。除了可以將應(yīng)用程序作為 TestCase，只能根據(jù)驗證目標(biāo)編寫對應(yīng)的TestCase。這樣的TestCase屬于Direct TestCase，只能覆蓋一部分功能，尤其是MCU有指令組合的情況，以及除了ALU單元的外設(shè)單元，當(dāng)外設(shè)單元與內(nèi)部指令并行工作，Direct TestCase往往是不能滿足要求的。這里，VMM提供了有約束的隨機(jī)數(shù)生成，可以將MCU指令集進(jìn)行分類，將同一格式的指令歸為一類，這樣可以通過一定的約束隨機(jī)的生成指令以及指令所需的參數(shù)，在下一節(jié)的指令類中會詳細(xì)講解關(guān)于指令的分類與生成。指令生成后，實(shí)現(xiàn)了一個匯編器，這個匯編器是由C代碼實(shí)現(xiàn)的，通過DPI將MCU的C模型接入驗證環(huán)境中，這樣生成的匯編指令可以實(shí)時轉(zhuǎn)化為16進(jìn)制代碼，并且直接讀入MCU的ROM進(jìn)行仿真。隨機(jī)指令生成，可以添加節(jié)省人力，并且給出更加特殊的TestCase，此外還可以對易錯的情況添加額外的約束，讓邊緣情況測試幾率更大，從而做到更多的驗證。

3.2 自動數(shù)據(jù)對比檢查

寫匯編代碼，讀入程序ROM，通過仿真來觀測結(jié)果，結(jié)果的正確性通過波形觀察，這種驗證方法測試數(shù)量比較有限，只能在人力控制范圍內(nèi)進(jìn)行驗證，不適合于遞歸以及大量TestCase的驗證。此外，在以往的MCU驗證中，一旦發(fā)生功能錯誤，真正的錯誤點(diǎn)有可能是多個指令之前，需要往前查找波形，往往 debug時候查找問題源會耗費(fèi)大量時間，甚至有些深層次的問題因為不屬于驗證目標(biāo)，或者不在觀測點(diǎn)內(nèi)，往往會被忽略。在環(huán)境里，已經(jīng)引入的隨機(jī)的指令生成，這就需要一個參照模型能夠生成對應(yīng)的參照結(jié)果。這里實(shí)現(xiàn)一個用C語言描述的MCU參照模型，同樣通過DPI將MCU的C模型接入驗證環(huán)境中，這個模型以16進(jìn)制代碼作為輸入，可以在每一條指令執(zhí)行寫出一個參照結(jié)果。MCU的都是通過RAM保存數(shù)據(jù)，SFR寄存器來保存狀態(tài)，可以通過對比memory中的數(shù)據(jù)，來保證MCU的每一條指令的工作狀態(tài)都是和參考模型是一致的。而且每次添加TestCase后都不需要觀測波形或是生成參照結(jié)果，甚至可以直接將應(yīng)用程序放入環(huán)境中加以測試。在環(huán)境里通過C參考模型寫出的每一條指令后的狀態(tài)會保存下來，由ScoreBoard來讀入，環(huán)境可以讀出MCU執(zhí)行程序 ROM后RAM和SFR的值并傳遞給ScoreBoard，由ScoreBoard來進(jìn)行自檢，并且在log中寫出自檢結(jié)果。

3.3 功能覆蓋率收集

在Direct TestCase下，匯編代碼都是特定目的的測試代碼，所關(guān)注的寄存器狀態(tài)，或是真實(shí)指令執(zhí)行情況往往很難統(tǒng)計，代碼覆蓋率能提供的信息相當(dāng)有限。在 VMM環(huán)境中，可以通過模型的執(zhí)行結(jié)果來統(tǒng)計指令的執(zhí)行情況，因為模型和RTL是功能一致的，內(nèi)部數(shù)據(jù)每條指令之后都會對比自檢，可以將模型運(yùn)行的結(jié)果和模型內(nèi)部對應(yīng)的SFR狀態(tài)位作為功能覆蓋率收集點(diǎn)，將關(guān)注的功能寫為覆蓋率模型，在仿真中自動收集，并在仿真所有TestCase后將覆蓋率結(jié)果合并在一起，給出一個最終的功能覆蓋率，這里要求功能覆蓋率和代碼覆蓋率都為100%。

4 驗證功能模塊的具體實(shí)現(xiàn)

4.1 簡介

以VMM為基礎(chǔ)，實(shí)現(xiàn)了一個驗證8位MCU的平臺，這個平臺可以隨機(jī)生成一系列的指令，并且在每個指令后進(jìn)行自檢。下面就這個平臺的詳細(xì)實(shí)現(xiàn)加以介紹，4.2小節(jié)將會介紹隨機(jī)指令生成，以及Scenario約束的實(shí)現(xiàn)，4.3小節(jié)將會介紹Driver部分，這里Driver實(shí)現(xiàn)了 Transactor的任務(wù)，除了實(shí)現(xiàn)匯編，將16進(jìn)制代碼讀入ROM模型中，還要調(diào)用MCU的C模型并產(chǎn)生結(jié)果供后續(xù)ScoreBoard對比。 4.4小節(jié)將會介紹MCU的C模型，C模型行為是直接影響MCU是否正確的保證。4.5小節(jié)將會介紹memory模型的實(shí)現(xiàn)，包括Internal SFR、Internal RAM、External SFR以及External RAM。4.6小節(jié)介紹過于ScoreBoard的自檢機(jī)制，以及自動終止仿真的方法。4.7小節(jié)將會介紹關(guān)于功能覆蓋率模型的建立。