基于VMM驗(yàn)證方法學(xué)的MCU驗(yàn)證環(huán)境

MCU指令一旦開(kāi)始運(yùn)行，尤其是隨機(jī)指令，指令執(zhí)行不是順序，有時(shí)會(huì)跳入死循環(huán)，很難設(shè)定仿真中止時(shí)間，這里設(shè)定了兩種機(jī)制，一種是仿真指令計(jì)數(shù)，另一種就是根據(jù)覆蓋率分析，通過(guò)VMM的覆蓋率分析函數(shù)，可以動(dòng)態(tài)的得到覆蓋率情況，如果隨機(jī)指令跳入死循環(huán)，覆蓋率就會(huì)一直維持不變，每次覆蓋率分析不變就進(jìn)行計(jì)數(shù)，當(dāng)計(jì)數(shù)超過(guò)限定，就會(huì)讓ScoreBoard結(jié)束，通過(guò)環(huán)境對(duì)ScoreBoard的監(jiān)測(cè)，一旦ScoreBoard停止，整個(gè)仿真也會(huì)停下。

4.7 功能覆蓋率模型

對(duì)于MCU這樣的DUT，代碼覆蓋率已經(jīng)不能夠代表驗(yàn)證進(jìn)度，而功能覆蓋率也只能代表相當(dāng)一部分待驗(yàn)證的功能，這里對(duì)于基本的memory，功能覆蓋率僅要求所有位都被指令操作過(guò)，對(duì)于特殊寄存器SFR，需要指定某些特定位有相應(yīng)的“0”以及“1”狀態(tài)。代碼如下：

coverpoint memory[‘h87]

{

wildcard bins b87m_0_0 = {8’bxxxxxxx0};

wildcard bins b87m_1_0 = {8‘bxxxxxxx1};

wildcard bins b87m_0_1 = {8’bxxxxxx0x};

wildcard bins b87m_1_1 = {8‘bxxxxxx1x};

}

另外可以收集指令與指令參數(shù)的交叉覆蓋率分析，例如：

covergroup gen_port_cov;

coverpoint addr_mode;

coverpoint kind;

cross addr_mode， kind;

option.weight = 0;

endgroup

可以說(shuō)對(duì)于MCU這樣的DUT，功能點(diǎn)很難被完全描述，但是功能覆蓋率還是提供了一部分量化指標(biāo)，供驗(yàn)證參考。

5 小結(jié)

本文實(shí)現(xiàn)了一個(gè)驗(yàn)證MCU指令的基于VMM的驗(yàn)證環(huán)境，在這個(gè)環(huán)境里不但可以使用隨機(jī)的指令生成來(lái)輸入指令，也可以使用已有的應(yīng)用程序代碼，另外提供了 memory自檢環(huán)境，可以在每一條指令執(zhí)行后檢查memory值，從最全面角度保證每條指令執(zhí)行結(jié)果是正確的。此外還提供了功能覆蓋率模型，收集覆蓋率結(jié)果。這個(gè)環(huán)境可以被復(fù)用擴(kuò)展，基于這個(gè)MCU開(kāi)發(fā)的軟件都可以在這個(gè)驗(yàn)證環(huán)境中先運(yùn)行以保證軟件的正確性。