基于ADμC7020的高速誤碼測試儀

長期平均誤碼率，簡稱誤碼率(BitErrorRate，BER)，是光通信網(wǎng)絡(luò)及設(shè)備的重要指標之一。目前光通信網(wǎng)絡(luò)及設(shè)備正朝著小型化、高頻率、高速率、大容量的方向發(fā)展，對作為測量儀器的誤碼測試儀速率及功能的要求也越來越高。雖然國內(nèi)外儀器儀表廠，如安捷倫(Agilent)、泰克(Tektronix)等推出了各種高速誤碼測試儀，但是大多價格昂貴，并且系統(tǒng)復(fù)雜。所以，對于國內(nèi)通信行業(yè)，開發(fā)一種價廉、方便、速率可達10 Gb／s的高速誤碼測試系統(tǒng)，具有實用價值。

1 系統(tǒng)概述
本誤碼測試系統(tǒng)由兩部分組成：誤碼測試部分和上位機人機界面部分。其中誤碼測試部分由高速誤碼儀、光衰減器、光功率計和光源等組成。高速誤碼儀以微控制器ADμC7020為核心，控制XFP收發(fā)控制器Si5040來實現(xiàn)。
ADμC7020是ADI公司的基于ARM7TDMI的體系結(jié)構(gòu)的控制器，支持16／32位精簡指令集(RISC)。片內(nèi)集成了12位的ADC(1MSPS)、4通道12位帶緩沖的DAC、電壓比較器、62 KB可在系統(tǒng)中編程(ISP)的片內(nèi)閃速／電擦除存儲器Flash和8 KB RAM，串行接口包括UART、SPI、2個I2C、用于下載／調(diào)試的JTAG端口、4個定時器、14個通用I／0引腳、片內(nèi)可編程邏輯陣列(PLA)。CPU時鐘高達45 MHz，可使用片內(nèi)晶體振蕩器和片內(nèi)PLL。
Si5040是Silicon Laboratories公司高速物理層(highspeed PHY)產(chǎn)品線的產(chǎn)品。采用其已通過市場驗證的DSPLL技術(shù)，同時在數(shù)據(jù)發(fā)送和接收路徑提供信號抖動消除功能的10 Gb／s XFP收發(fā)器。Si5040支持3種不同的模擬與數(shù)字信號質(zhì)量監(jiān)測功能，分別是模擬信號LOS監(jiān)測、CID(連O或連1)監(jiān)測以及專有的數(shù)字眼圖開度測量功能，還提供線路環(huán)回測試、XFI回路測試和接收／發(fā)送雙方向的PRBS碼流生成和檢查功能。
此設(shè)計中，ADμC7020作為控制器，對Si5040芯片進行配置和初始化，完成誤碼數(shù)的采集，并作為整個系統(tǒng)上位機和Si5040之間的橋梁，及時向上位機提供測量的誤碼及狀態(tài)值等數(shù)據(jù)；Si5040完成偽隨機碼型(PRBS)的產(chǎn)生、同步及對比檢測，計算出誤碼數(shù)(Error Count)；上位機由LabWindows／CVI構(gòu)造的測試平臺，通過上位機PC的并口(LPT)模擬I2C總線讀ADμC7020所構(gòu)建的寄存器映射表，將測試系統(tǒng)各器件的狀態(tài)(包括Si5040)及誤碼數(shù)顯示出來，計算誤碼數(shù)和測試時間內(nèi)的總發(fā)送碼數(shù)的比值得出誤碼率(BER)，通過I2C總線讀寫ADμC7020的寄存器表完成對系統(tǒng)各部分(包括Si5040)的控制和查詢。

2 原理及組成
誤碼測試儀框圖如圖1所示。

2．1 測試原理
在數(shù)字光纖通信系統(tǒng)中，經(jīng)常測試或驗證系統(tǒng)和器件的誤碼率指標，若要獲得精確的測試結(jié)果，必須進行無限長時間的試驗。根據(jù)統(tǒng)計置信度原理，只要驗證數(shù)字系統(tǒng)或器件的誤碼率指標是否優(yōu)于某一規(guī)定標準，即可在測量精度和測試時間之間進行折中處理，而且仍能保證測試結(jié)果的可信度。產(chǎn)生誤碼的主要原因是傳輸系統(tǒng)的噪聲和脈沖抖動，誤碼性能用誤比特率BER來衡量。但在實際測量中，常以長時間測量中誤碼數(shù)目與傳送的總碼元數(shù)之比來表示BER，BER=錯誤比特數(shù)／傳輸總的比特數(shù)。
由于這是一個統(tǒng)計過程，因此當(dāng)被測比特數(shù)接近于無窮大時，被測BER才能接近實際BER。但是在大多數(shù)情況下，只需測試小于預(yù)定義閾值的BER即可。完成測試所需的比特數(shù)取決于所需的置信度和BER閾值。置信度是指，系統(tǒng)的真實BER小于指定BER時的測試占全部測試的百分比。由于無法測量無窮位，也無法準確預(yù)測什么時候會出現(xiàn)誤碼，因此置信度永遠不會達到100％。另外，IEEE802．3規(guī)定最壞情況的誤碼率是10E-10。在這種條件下，出現(xiàn)的誤碼不會降低網(wǎng)絡(luò)的性能，因為所有的網(wǎng)絡(luò)軟硬件都按這個要求建立。因此，這個條件下出現(xiàn)的噪聲將不足以改變接收端的比特值，不會造成誤碼。一般情況下，選擇的誤碼率標準比IEEE標準高出100倍，并把10E-12誤碼率稱為零誤碼率。零誤碼率意味著每10萬億位中產(chǎn)生的誤碼小于1個。置信度的公式如下：

其中CL為置信度，Nbits為接收的總比特數(shù)。
在生產(chǎn)和測試中，只考慮零誤碼且置信度為標準的95％的情況，用比特數(shù)除以數(shù)據(jù)速率可確定測試所需時間。得出常用的方程式如下：

對于10 Gbps的系統(tǒng)，測試30 s基本可以達到10E-12的要求。
Si5040的發(fā)端模塊產(chǎn)生偽隨機碼序列數(shù)據(jù)流，作為通信系統(tǒng)的信源數(shù)據(jù)流，收端模塊接收通信系統(tǒng)輸出的比特流，并與本地產(chǎn)生的與發(fā)端形式相同的偽隨機碼比特流相比較，如比較結(jié)果不同即系統(tǒng)有誤碼。Si5040在收端和發(fā)端信道上都有可編程的模式生成器和檢查器。發(fā)端信道通過配置寄存器(tpSel Register 157)，收端信道通過配置寄存器(RxtpSel Register 29)，可以生成PRBS7、PRBS31或者64位用戶自定義碼型。模式檢查器還提供了不同步信號(Loss-of-Sync)檢查。在同步情況下，測試中發(fā)端的誤碼值結(jié)果存于Si5040中40位的寄存器組(tp-ChkErrCnt registerl76-180)和一個8位浮點數(shù)的寄存器(tpChkErr register 181)。收端的誤碼值結(jié)果存于40位寄存器組(RxtpChkErrCntRe-gister48-52)或8位浮點數(shù)據(jù)類型的寄存器(RxtpChkErr Register 53)。本設(shè)計僅使用Si5040的發(fā)端信號的模式生成器和檢查器功能。