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基于ADμC7020的高速誤碼測(cè)試儀

  • 針對(duì)國(guó)內(nèi)外高速誤碼測(cè)試儀價(jià)格昂貴、系統(tǒng)復(fù)雜的現(xiàn)狀，采用ADI公司的ARM7TDMI微控制器ADμC7020和Silicon Laboratoties公司生產(chǎn)的XFP收發(fā)芯片Si5040，設(shè)計(jì)一種簡(jiǎn)易、低成本的誤碼測(cè)試系統(tǒng)。系統(tǒng)由Si5040、ADμCT020和虛擬儀器Lab Windows／CVI組成。Si5040具有可編程的偽隨機(jī)碼比特流生成和比較功能，讀出誤碼值，通過(guò)ADμC7020計(jì)算得到誤碼率，并通過(guò)I2C接口與Lab Windows／CVI構(gòu)成的上位機(jī)進(jìn)行通信。
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