基于S3C2440的測試系統(tǒng)數(shù)字穩(wěn)壓電源設(shè)計(jì)
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3．4 系統(tǒng)程序
測試系統(tǒng)的整體程序流程圖如圖4所示。本文引用地址：http://2s4d.com/article/177672.htm
本文所設(shè)計(jì)的測試系統(tǒng)數(shù)字穩(wěn)壓電源能夠滿足芯片測試所需的電源要求。圖5為輸出的一路電壓。由圖可知，所輸出的電壓穩(wěn)定。
4 結(jié)語
本文設(shè)計(jì)的穩(wěn)壓電源提供的電壓穩(wěn)定可靠，系統(tǒng)運(yùn)行也非常穩(wěn)定。由于可擴(kuò)展的I／O非常多，可以同時(shí)為多個(gè)芯片提供各種所需的穩(wěn)壓電源電壓值。該系統(tǒng)不僅能夠用在實(shí)驗(yàn)室芯片測試工作中，而且可以通過軟件編程的方法，修改一些控制程序，使所設(shè)計(jì)的穩(wěn)壓電源作為智能電子產(chǎn)品性能測試的電源電壓，這樣提高了設(shè)備的使用效率，有著不錯(cuò)的應(yīng)用前景。
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