首頁(yè)  資訊  商機(jī)   下載  拆解   高校  招聘   雜志  會(huì)展  EETV  百科   問(wèn)答  電路圖  工程師手冊(cè)   Datasheet  100例   活動(dòng)中心  E周刊閱讀   樣片申請(qǐng)
EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 測(cè)試系統(tǒng)

RIGOL嵌入式傳感測(cè)試系統(tǒng)解決方案

  • 隨著醫(yī)療電子、智能家居、物流管理和電力控制等技術(shù)的不斷發(fā)展,物聯(lián)網(wǎng)的應(yīng)用發(fā)展已進(jìn)入一個(gè)重要階段。而作為物聯(lián)網(wǎng)關(guān)鍵技術(shù)中的嵌入式系統(tǒng)和傳感系統(tǒng),也得到了大家廣泛的研究和關(guān)注。本文會(huì)以一個(gè)簡(jiǎn)易的嵌入式傳感系統(tǒng)為例,對(duì)其各部分的工作性能進(jìn)行測(cè)試介紹。嵌入式傳感測(cè)試系統(tǒng)嵌入式傳感測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試內(nèi)容:一、RFID模塊測(cè)試射頻識(shí)別(RFID)是一種無(wú)線通信技術(shù),可以通過(guò)無(wú)線電信號(hào)識(shí)別特定目標(biāo)并讀寫(xiě)相關(guān)數(shù)據(jù)。因其便捷、快速的信息讀取方式,在圖書(shū)館,門(mén)禁系統(tǒng),食品安全溯源等很多領(lǐng)域都得到了廣泛應(yīng)用。完整的RFID系統(tǒng)由閱
  • 關(guān)鍵字: RIGOL  嵌入式傳感  測(cè)試系統(tǒng)  

NI x ZF:引領(lǐng)下一代移動(dòng)出行,采埃孚HIL系統(tǒng)為ADAS驗(yàn)證保駕護(hù)航

  • 為實(shí)現(xiàn)“零”愿景目標(biāo),采埃孚重點(diǎn)打造了下一代移動(dòng)出行戰(zhàn)略,通過(guò)專(zhuān)業(yè)知識(shí)和產(chǎn)品組合,賦予車(chē)輛全方位感知、決策和執(zhí)行能力。采埃孚將攝像頭與傳感器系統(tǒng)(雷達(dá)或激光雷達(dá))互連,提供360度全景視圖(感知)。這些系統(tǒng)的測(cè)試驗(yàn)證面臨諸多挑戰(zhàn),采埃孚ADAS驗(yàn)證部門(mén)利用NI產(chǎn)品與服務(wù)來(lái)開(kāi)發(fā)和定制可擴(kuò)展、靈活且高度網(wǎng)絡(luò)化的HIL測(cè)試系統(tǒng),該系統(tǒng)可用于重復(fù)測(cè)試ADAS和AD系統(tǒng)的ECU,并節(jié)省大量開(kāi)發(fā)時(shí)間。采埃孚的未來(lái)戰(zhàn)略重點(diǎn)是打造“下一代移動(dòng)出行”作為全球最大的汽車(chē)一級(jí)供應(yīng)商之一,采埃孚致力于實(shí)現(xiàn)“零”愿景,即零事故、零
  • 關(guān)鍵字: HIL  測(cè)試系統(tǒng)  NI  

品英Pickering將在2023中國(guó)汽車(chē)測(cè)試及質(zhì)量監(jiān)控博覽會(huì)演示電池管理系統(tǒng)(BMS)測(cè)試系統(tǒng)及相關(guān)開(kāi)關(guān)、仿真、軟件和技術(shù)

  • 品英Pickering作為用于電子測(cè)試和驗(yàn)證的模塊化信號(hào)開(kāi)關(guān)和仿真解決方案的全球供應(yīng)商,將在2023年8月9-11日于上海世博展覽館舉辦的2023中國(guó)汽車(chē)測(cè)試及質(zhì)量監(jiān)控博覽會(huì)中,攜手Pickering大中華區(qū)銷(xiāo)售代理商廣州虹科電子科技有限公司,演示電池管理系統(tǒng)(BMS)測(cè)試系統(tǒng),并推介相關(guān)開(kāi)關(guān)、仿真、軟件和技術(shù)服務(wù),以簡(jiǎn)化您的高性能電子測(cè)試和驗(yàn)證系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)和部署。作為品英Pickering集團(tuán)全資子公司,以及自動(dòng)測(cè)試領(lǐng)域的開(kāi)關(guān)專(zhuān)家--品英儀器(北京)有限公司的專(zhuān)家們期待您蒞臨2023上海世博展覽館3002
  • 關(guān)鍵字: 品英  Pickering  汽車(chē)測(cè)試  質(zhì)量監(jiān)控  BMS  測(cè)試系統(tǒng)  

J750測(cè)試系統(tǒng)穩(wěn)定性分析

  •   張桂玉,任希慶(安普德(天津)科技股份有限公司,天津 300384)  摘 要:J750測(cè)試系統(tǒng)是一種超大規(guī)模邏輯及存儲(chǔ)器件測(cè)試系統(tǒng)。本文通過(guò)一系列的數(shù)據(jù)采集,同時(shí)應(yīng)用統(tǒng)計(jì)學(xué)的分析方法,借助于Minitab統(tǒng)計(jì)分析軟件,分別對(duì)采集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行了分析,從而得到測(cè)試系統(tǒng)的一些性能參數(shù),進(jìn)而可以分析出測(cè)試系統(tǒng)的穩(wěn)定性。通過(guò)這一系列分析后,可以找到影響生產(chǎn)率的各種因素,大大提高測(cè)試系統(tǒng)的工作效率,縮短產(chǎn)品的復(fù)測(cè)時(shí)間,提高良品率,提高測(cè)試的準(zhǔn)確率,進(jìn)而提高生產(chǎn)率。  關(guān)鍵詞:Minitab;J750;測(cè)試系統(tǒng);
  • 關(guān)鍵字: 202007  Minitab  J750  測(cè)試系統(tǒng)  穩(wěn)定性  

IT-M3100 系列直流電源掀起“黑科技”浪潮

  • ITECH艾德克斯電子有限公司于近日宣布將在2019年推出全新主打黑科技的M系列,并將在5月發(fā)布M系列的首個(gè)產(chǎn)品——IT-M3100 系列靈巧型寬量程直流電源。據(jù)了解,ITECH此次推出全新的M系列不僅具有全新的外觀,同時(shí)也在產(chǎn)品的技術(shù)上創(chuàng)新,從行業(yè)應(yīng)用的角度切入,提供用戶更完整的創(chuàng)新解決方案。M全系列擁有直流電源、雙極性電源、交流電源、回饋負(fù)載、源載系統(tǒng)等多個(gè)產(chǎn)品,給了用戶非常寬廣的選擇范圍,滿足客戶多樣性的測(cè)試需求。此次率先推出IT-M3100 系列靈巧型寬量程直流電源突破傳統(tǒng)桎梏,在僅?1U的超小體
  • 關(guān)鍵字: Itech  IT-M3100  電源  負(fù)載  測(cè)試系統(tǒng)  專(zhuān)業(yè)功率電子通用儀器制造商  

射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度測(cè)試系統(tǒng)

  • 傳導(dǎo)騷擾抗擾度測(cè)試系統(tǒng)是給電子電器設(shè)備受到由射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾時(shí),建立一個(gè)評(píng)估抗擾度性能的公用參考。產(chǎn)品完全符合IEC61000-4-6及GB/T17626.
  • 關(guān)鍵字: 射頻場(chǎng)  抗擾度  測(cè)試系統(tǒng)  

幾種微波信號(hào)發(fā)生器選擇比較

  • 信號(hào)發(fā)生器在測(cè)試系統(tǒng)中有明確規(guī)定的任務(wù):模擬被測(cè)設(shè)備(DUT)在正常工作時(shí)可能遇到的信號(hào)。這種信號(hào)過(guò)去只是正弦波、脈沖或經(jīng)過(guò)模擬調(diào)制的信號(hào)。但隨
  • 關(guān)鍵字: 信號(hào)發(fā)生器  測(cè)試系統(tǒng)  通信格式  

實(shí)例解析:近場(chǎng)天線測(cè)試系統(tǒng)解決大型暗室測(cè)試難題

  • 實(shí)例解析:近場(chǎng)天線測(cè)試系統(tǒng)解決大型暗室測(cè)試難題-所有移動(dòng)服務(wù)運(yùn)營(yíng)商都面臨測(cè)試大型基站天線的問(wèn)題。測(cè)試這種天線需要配有特殊性能極大且昂貴的全電波暗室。對(duì)于這些運(yùn)營(yíng)商來(lái)說(shuō),RFX2天線特性測(cè)試系統(tǒng)解決了在大型暗室測(cè)試的難題,即高的讓人望而卻步費(fèi)用及耗時(shí)的測(cè)試過(guò)程。
  • 關(guān)鍵字: 暗室測(cè)試  近場(chǎng)天線  測(cè)試系統(tǒng)  RF  

智能手機(jī)天線測(cè)試系統(tǒng)開(kāi)發(fā)及應(yīng)用

  • 本文介紹了VTAG在智能手機(jī)天線方面的研究。通過(guò)利用所開(kāi)發(fā)的不同測(cè)試平臺(tái)進(jìn)行了各種傳播試驗(yàn),信道測(cè)量表明分集系統(tǒng)要比單天線系統(tǒng)的性能有所提高。
  • 關(guān)鍵字: 天線  測(cè)試系統(tǒng)  自適應(yīng)波束形成技術(shù)  

新型模塊化車(chē)載電子功能測(cè)試系統(tǒng)將效率提升20%

  • 前不久,安捷倫(Agilent)公司參加了“第八屆PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇”大會(huì)。并展示了諸多安捷倫全新的模塊化系列產(chǎn)品。其中最引人注目的測(cè)試產(chǎn)品,是安捷倫最新推出的新型模塊化車(chē)載電子功能測(cè)試系統(tǒng)。
  • 關(guān)鍵字: 測(cè)試系統(tǒng)  PXI  模塊化測(cè)試  

艾德克斯車(chē)載充電機(jī)測(cè)試解決方案

基于LabVIEW的航空裝備通用測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

  • 針對(duì)航空裝備三級(jí)修理工作中難度大的情況,提出了基于實(shí)驗(yàn)室虛擬儀器工作平臺(tái)(LabVIEW)的航空裝備通用測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方法。根據(jù)三級(jí)維修的特點(diǎn),確立了先進(jìn)行LRU的檢測(cè)繼而進(jìn)行PCB檢測(cè)的測(cè)試方案,并給出了測(cè)試系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)和軟件設(shè)計(jì)的設(shè)計(jì)思路。系統(tǒng)對(duì)加快維修速度、降低維修費(fèi)用、提高裝備完好率具有十分重要的意義。
  • 關(guān)鍵字: 航空裝備  實(shí)驗(yàn)室  虛擬儀器  工作平臺(tái)  LabVIEW  測(cè)試系統(tǒng)  

基于單片機(jī)的室內(nèi)甲醛測(cè)試系統(tǒng)

  • 甲醛是一種具有刺激氣味的無(wú)色氣體,也是一種潛在的致癌物質(zhì),對(duì)人體健康有較大的危害,許多疾病的誘發(fā)都與甲醛有關(guān),如哮喘,白血病等。甲醛濃度在每立方米空氣中達(dá)到0.06-0.07mg/m3時(shí),兒童就會(huì)發(fā)生輕微氣喘。當(dāng)室
  • 關(guān)鍵字: 單片機(jī)  測(cè)試系統(tǒng)  

EDA環(huán)境銜接測(cè)量軟件 電子產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期大幅縮短

  • 消費(fèi)性電子產(chǎn)品汰換周期越來(lái)越短,且功能復(fù)雜度不斷提高,使得系統(tǒng)研發(fā)人員面臨縮短產(chǎn)品開(kāi)發(fā)時(shí)間的嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。所幸,現(xiàn)今自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)已開(kāi)始
  • 關(guān)鍵字: 測(cè)試系統(tǒng)  微處理器  FPGA  

冗余伺服機(jī)構(gòu)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)

  •   摘要:本文針對(duì)伺服機(jī)構(gòu)產(chǎn)品類(lèi)型多、測(cè)試狀態(tài)多、測(cè)試環(huán)境復(fù)雜的特點(diǎn),設(shè)計(jì)了一套易擴(kuò)展、易使用、易維護(hù)的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。系統(tǒng)硬件包括數(shù)據(jù)采集控制模塊、信號(hào)調(diào)理模塊、功率放大模塊和電源調(diào)理模塊,系統(tǒng)軟件基于LabVIEW的虛擬儀器技術(shù),利用動(dòng)態(tài)調(diào)用子面板技術(shù)進(jìn)行開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì),并結(jié)合報(bào)表插件和數(shù)據(jù)庫(kù)插件實(shí)現(xiàn)測(cè)試參數(shù)保存和測(cè)試報(bào)表制作。同時(shí)軟件自動(dòng)保存所有測(cè)試數(shù)據(jù),便于事后數(shù)據(jù)回放及溯源。測(cè)試系統(tǒng)在冗余和非冗余伺服機(jī)構(gòu)的流水線測(cè)試及交付中應(yīng)用,并取得良好結(jié)果。   引言   伺服機(jī)構(gòu)是航天運(yùn)載火箭控制系統(tǒng)推力矢
  • 關(guān)鍵字: 測(cè)試系統(tǒng)  伺服機(jī)構(gòu)  LabVIEW  冗余  PXI  201411  
共256條 1/18 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 » ›|

測(cè)試系統(tǒng)介紹

您好,目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條測(cè)試系統(tǒng)!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)測(cè)試系統(tǒng)的理解,并與今后在此搜索測(cè)試系統(tǒng)的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門(mén)主題

關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會(huì)員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案:1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473