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電池充電器原理

作者: 時(shí)間:2012-08-24 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

圖9. 受DS2720保護(hù)的鋰離子電池波形

圖9. 受DS2720保護(hù)的鋰離子波形

DS2720為信息存儲(chǔ)提供兩類存儲(chǔ)器,及EEPROM和可鎖定EEPROM。EEPROM是真正的非易失(NV)存儲(chǔ)器,用來(lái)保存重要的數(shù)據(jù),不會(huì)因電池過(guò)度放電、偶然短路或ESD事件丟失數(shù)據(jù)??涉i定EEPROM在鎖定后相當(dāng)于只讀存儲(chǔ)器(ROM),用于更安全地保存不再改變的電池?cái)?shù)據(jù)。

保護(hù)模式

過(guò)壓

如果在VDD檢測(cè)的電池電壓超過(guò)過(guò)壓閾值VOV時(shí)間大于過(guò)壓延遲時(shí)間tOVD,則DS2720關(guān)閉充電FET,并將保護(hù)寄存器的OV置位。在過(guò)壓期間,放電通路保持開放。除非被另外保護(hù)條件鎖定,當(dāng)電池電壓降到充電使能閾值VCE以下或由于放電導(dǎo)致VDD - VPLS > VOC時(shí),充電FET被重新使能。

欠壓

如果在VDD檢測(cè)的電池電壓低于欠壓閾值VUV時(shí)間大于欠壓延遲時(shí)間tUVD,則DS2720關(guān)閉充電和放電FET,并將保護(hù)寄存器的UV置位,使其進(jìn)入休眠模式。當(dāng)電池電壓升到VUV以上和連接后,IC打開充電和放電FET。

短路

如果在VDD檢測(cè)的電池電壓低于放電閾值VSC時(shí)間達(dá)到延遲時(shí)間tSCD,則DS2720關(guān)閉充電和放電FET,并將保護(hù)寄存器的DOC置位。除非PLS上的電壓升至大于VDD - VOC,否則充電和放電FET不會(huì)導(dǎo)通。DS2720提供流經(jīng)內(nèi)部VDD至PLS電阻RTST的測(cè)試電流,當(dāng)VDD升至大于VSC時(shí)上拉PLS。DS2720利用此測(cè)試電流檢測(cè)有害低阻抗負(fù)載的移除。另外,測(cè)試電流還提供了流經(jīng)RTST,由PLS到VDD的恢復(fù)性充電通路。

過(guò)流

若加在保護(hù)FET的電壓(VDD - VPLS)大于VOC的時(shí)間超過(guò)了tOCD,則DS2720關(guān)斷外部充電和放電FET,并將保護(hù)寄存器DOC置位。直到PLS上的電壓升至大于VDD - VOC時(shí)電路才會(huì)導(dǎo)通。DS2720提供流經(jīng)內(nèi)部VDD至PLS電阻RTST的測(cè)試電流來(lái)檢測(cè)有害低阻抗負(fù)載的移除。

過(guò)熱

若DS2720溫度超過(guò)TMAX,則立即關(guān)斷外部充電和放電FET。在以下兩個(gè)條件滿足前FET不會(huì)導(dǎo)通:電池溫度降到低于TMAX,主機(jī)將OT復(fù)位。

充電溫度

應(yīng)盡量在室溫下充電。鎳基電池應(yīng)在10°C至30°C (50°F至86°F)之間快速充電。低于5°C (41°F)和高于45°C (113°F)時(shí)鎳基電池的充電能力急劇下降。鋰離子電池在整個(gè)溫度范圍內(nèi)呈現(xiàn)良好的充電性能,但低于5°C (41°F)時(shí)充電速率應(yīng)小于1°C。

結(jié)論

NiMH可為NiCd電池充電,反之則不行。NiCd電池專用的將會(huì)使NiMH電池過(guò)充??焖俪潆娍稍鰪?qiáng)鎳基電池的壽命和性能,這是因?yàn)榭焖俪潆娊档土藘?nèi)部結(jié)晶引起的記憶效應(yīng)。鎳基和鋰基電池要求不同的充電算法。Li+電池需要保護(hù)電路來(lái)監(jiān)控和保護(hù)過(guò)流、短路、過(guò)壓、欠壓以及過(guò)熱。注意,在電池不常使用時(shí),應(yīng)從充電器中取出,在使用前對(duì)電池浮充。

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