AD536A在液晶屏測(cè)試儀中的應(yīng)用

TH-LCD Tester液晶屏測(cè)試儀是在生產(chǎn)線上對(duì)各種規(guī)格的液晶屏進(jìn)行質(zhì)量檢查的必備儀器。該儀器可進(jìn)行閾值電壓的目測(cè)、響u匭緣哪坎?閃光試驗(yàn))；全屏功耗電流的測(cè)量和各電極之間的短路檢查。

其中后兩項(xiàng)是測(cè)試全顯電流和段電流的有效值。由于液晶屏的背電極和段電極之間是灌注了液晶材料的，因此在外加電壓驅(qū)動(dòng)下，可等效為一個(gè)電容性負(fù)載。所以，液晶屏的電流采樣電路是一個(gè)典型的微分電路，其輸出電壓是一個(gè)窄脈沖序列，使用RMS/DC轉(zhuǎn)換集成電路AD536A可以實(shí)時(shí)測(cè)試不同窄脈沖電壓的有效值。

1 液晶屏測(cè)試儀的系統(tǒng)組成

系統(tǒng)的組成可分為三部分。其一，是產(chǎn)生驅(qū)動(dòng)LCD樣品的不同頻率、不同幅度的對(duì)稱方波電壓，主要由DAC1、DAC2和波形變換電路組成；其二，是選擇待測(cè)LCD樣品的不同背電極和段電極的開(kāi)關(guān)矩陣電路；其三，是測(cè)量選中的背電極和段電極之間的功耗電流電路，主要由LM411電流采樣電路、RMS/DC轉(zhuǎn)換電路和測(cè)量電路組成。所有這三部分皆是在主控CPU(8032)的控制下有序地工作。液晶測(cè)試儀原理方框圖如圖1所示。其中，LM411構(gòu)成典型的微分電路，AD574A構(gòu)成數(shù)據(jù)采集電路，大家很熟悉，這里不再討論。RMS/DC轉(zhuǎn)換電路AD536A則是本文討論的重點(diǎn)。

2 功耗電流測(cè)量電路

功耗電流測(cè)量電路原理方框圖見(jiàn)圖2。

因?yàn)榇郎y(cè)的LCD樣品是容性負(fù)載，則由外接的精密測(cè)量電阻R、LCD樣品的等效電容C和LM411AH構(gòu)成的電流采樣電路是典型的微分電路，其輸出電壓Vout的典型波形見(jiàn)圖3。

由于電流采樣電路的輸出電壓是占空比很小的微分窄脈沖序列，所以電流測(cè)量就有兩種方案：一是測(cè)量其平均值MAD，這是美國(guó)R．P．G．Electronics公司3200型LCD測(cè)試儀采取的方案；二是測(cè)量其有效值RMS，這是本儀器采用的方案。兩者的測(cè)試結(jié)果是不同的，而且與電流采樣電壓脈沖的形狀和占空比關(guān)系極大。

本方案采用RMS/DC轉(zhuǎn)換集成電路

AD536A對(duì)復(fù)雜的電壓波形(交流成分加直流成分)的有效值進(jìn)行測(cè)量。而平均值MAD和有效值RMS之間的關(guān)系是隨波形的形狀不同而不同的，從表1幾個(gè)例子可以看出。