新型的嵌入式存儲(chǔ)器測(cè)試算法
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2．2 內(nèi)部單元測(cè)試的故障模型
對(duì)于內(nèi)部單元，除了上文提到的類似的固定邏輯故障和固定開(kāi)路故障模型，還有狀態(tài)轉(zhuǎn)換故障(transition fault)、數(shù)據(jù)保持故障(data-maintaining fault)、狀態(tài)耦合故障(coupiing fault)和多重寫入故障(multiple access fault)等。
狀態(tài)轉(zhuǎn)換故障：0→1或1→0的狀態(tài)轉(zhuǎn)換至少有一個(gè)不被正確執(zhí)行。
數(shù)據(jù)保持故障：存儲(chǔ)單元無(wú)法保持一個(gè)邏輯值持續(xù)一定的時(shí)間。
狀態(tài)耦合故障：當(dāng)且僅當(dāng)單元j處于某一個(gè)特定狀態(tài)y(y∈{0，1})時(shí)，單元i總是為某一個(gè)確定值x(x∈{0，1})，則稱單元i耦合于單元j。耦合關(guān)系不一定具有對(duì)稱性，也就是說(shuō)單元i耦合于單元j，并不一定單元j也耦合于單元i。
多重寫入故障：對(duì)單元i寫入x(x∈{0，1})導(dǎo)致單元j也寫入了x，則稱單元i有多重寫入故障。多重寫入故障不一定具有對(duì)稱性。
3 存儲(chǔ)器的測(cè)試算法
目前存儲(chǔ)器的測(cè)試算法中比較著名的有March算法及其各種變種算法、Gallop算法，這些算法太過(guò)復(fù)雜，測(cè)試效率不高。本文所提出的算法不僅故障覆蓋率能夠達(dá)到實(shí)際應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)，而且測(cè)試效率有明顯提高。
3．1 外圍互連線的測(cè)試算法
存儲(chǔ)器外圍互連線包括控制線、數(shù)據(jù)線和地址線。對(duì)于控制線的測(cè)試沒(méi)有比較規(guī)范的測(cè)試方法，但是如果控制線存在故障，存儲(chǔ)器基本無(wú)法正常工作。一般而言，控制線的故障在對(duì)數(shù)據(jù)線和地址線的簡(jiǎn)單測(cè)試中就能被發(fā)現(xiàn)，所以不作專門測(cè)試。
數(shù)據(jù)線和地址線的測(cè)試的目的不只是發(fā)現(xiàn)故障，更主要的是精確定位故障以便很容易地進(jìn)行修復(fù)或更換。采用“三步法”，該算法不僅能夠精確地定位故障，而且還能區(qū)分固定邏輯故障和橋接短路故障這兩種不同類型，具體算法如表1所列。本文引用地址：http://2s4d.com/article/149950.htm
第一步測(cè)試數(shù)據(jù)線是否存在開(kāi)路故障和固定邏輯故障，第二步測(cè)試數(shù)據(jù)線是否存在短路故障，第三步測(cè)試地址線是否存在開(kāi)路或短路故障。在第二步測(cè)試結(jié)束時(shí)進(jìn)行數(shù)據(jù)線故障診斷，在第三步測(cè)試結(jié)束時(shí)進(jìn)行地址線故障診斷。
評(píng)論