了解LabVIEW FPGA和軟件設(shè)計射頻儀器的優(yōu)勢所在
使用硬件測量減少測試時間,提高測試可靠性
本文引用地址:http://2s4d.com/article/137968.htm雖然當(dāng)今基于軟件的測試系統(tǒng)只能對有限數(shù)量的測量進(jìn)行并行處理,但只要通過FPGA邏輯,軟件設(shè)計儀器可以毫無限制地實(shí)現(xiàn)并行處理。通過硬件并行機(jī)制可以處理大量的測量任務(wù)或數(shù)據(jù)通道,而無需對指定的測量任務(wù)進(jìn)行挑選。諸如快速傅里葉變換、濾波、調(diào)制和解調(diào)等計算,可以在硬件中進(jìn)行,由此可以減少CPU的數(shù)據(jù)傳送量和處理量。諸如實(shí)時頻譜屏蔽之類的功能,使用軟件設(shè)計儀器,可以比使用傳統(tǒng)封裝儀器獲得更高的速率。
此外,在硬件中執(zhí)行測量任務(wù)的低延時意味著在同樣的時間內(nèi),標(biāo)準(zhǔn)測試系統(tǒng)可能只能要求完成一個測量任務(wù),但其卻可以同時進(jìn)行數(shù)十個甚至上百個實(shí)時測量任務(wù),從而提高測試結(jié)果的質(zhì)量并增加射頻測試的可靠程度。而且,由于測量任務(wù)可以在硬件中連續(xù)執(zhí)行,并周期性地從主機(jī)測試程序中進(jìn)行采樣,用戶可以完全不用擔(dān)心遺漏任何重要的數(shù)據(jù)。
圖2. 使用軟件設(shè)計儀器,用戶可以連續(xù)采集數(shù)據(jù)并執(zhí)行測試(定期采樣測試結(jié)果),而無需停止采集過程來傳輸信息。
通過閉環(huán)反饋快速達(dá)到最理想的測試條件
某些射頻測試要求待測設(shè)備設(shè)置或環(huán)境和生產(chǎn)處理的數(shù)量需要根據(jù)所接收到的測量任務(wù)進(jìn)行改變;這就需要一個閉環(huán)系統(tǒng),但其常常由于軟件棧的延時而受到限制。在許多情況下,可以在硬件中直接閉環(huán),從而使得CPU無需再計算下一個定位點(diǎn)。這樣可以將閉環(huán)測試時間從數(shù)十秒減少至零點(diǎn)幾秒。
通過用戶自定義觸發(fā)來處理特定的數(shù)據(jù)
使用儀器型硬件已解決了觸發(fā)行為的延時問題。然而,通過使用軟件設(shè)計的儀器,用戶可以將自定義觸發(fā)功能集成到設(shè)備中,從而可以在特定情況下快速執(zhí)行命令。靈活的基于硬件的觸發(fā)意味著用戶可以在捕捉重要的測量數(shù)據(jù)或激活其他的儀器設(shè)備時,將自定義頻譜屏蔽或其他復(fù)雜的條件設(shè)置為標(biāo)準(zhǔn)。并且,通過選擇硬件中特定的數(shù)據(jù)可以使得用戶解放CPU以用于其他重要的任務(wù)。
在設(shè)計過程中合理運(yùn)用軟件投資
雖然本文內(nèi)容主要有關(guān)射頻測試,但工程師也越來越多地在設(shè)計和測試階段反復(fù)地使用IP,縮短產(chǎn)品上市周期并大幅減少測試總體費(fèi)用。通過LabVIEW FPGA,可以對數(shù)字信號處理算法進(jìn)行定義,并可將其視為設(shè)備的一部分或元件確認(rèn)而重復(fù)運(yùn)用,從而無需再從頭開始編寫測試代碼。這能夠加速測試的開發(fā)(在設(shè)計環(huán)節(jié)的初期即可開始進(jìn)行測試),同時也使得測試覆蓋的范圍更加完整。
圖3. IP可以在設(shè)計和測試階段反復(fù)使用,從而減少測試的開發(fā)時間并提供更加完整的測試范圍
永不過時的軟件設(shè)計儀器
在未來幾年中,廠商定義的儀器和功能固定的即用儀器將毫無疑問地繼續(xù)存在。然而,越來越多復(fù)雜的射頻設(shè)備和產(chǎn)品上市時間的壓力已推動了基于軟件的儀器系統(tǒng)的不斷增加,這些趨勢的延續(xù)意味著在不久的將來,軟件設(shè)計儀器將逐漸在射頻測試,乃至在所有的測試儀器中,扮演一個不可或缺的重要角色。
軟件設(shè)計儀器提供了高度的靈活、優(yōu)質(zhì)的性能,以及采用即時可用硬件而具備的永不過時性。當(dāng)系統(tǒng)要求改變時,軟件設(shè)計儀器的軟件投資將通過不同的模塊化I/O得以保留,而現(xiàn)有的I/O也可以根據(jù)實(shí)際應(yīng)用而隨時改變。
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