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Sematech與合作伙伴連手克服未來3D芯片技術(shù)挑戰(zhàn)

—— 克服下一代應(yīng)用的共同技術(shù)挑戰(zhàn)是加速3D芯片技術(shù)推廣的關(guān)鍵
作者: 時間:2011-12-23 來源:semi 收藏

  美國半導(dǎo)體科技研發(fā)聯(lián)盟 旗下的3D Enablement Center (3DEC)與美國半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)協(xié)會(SIA)、Semiconductor Research Corp. (SRC),日前共同定義出了wide I/O DRAM 之后的未來(3D IC)技術(shù)殺手級應(yīng)用,以及將遭遇的挑戰(zhàn)。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/127355.htm

   表示,上述單位的眾學(xué)者專家經(jīng)過討論之后,定義出異質(zhì)運算(heterogeneous computing)、內(nèi)存、影像(imaging)、智能型感測系統(tǒng)(smart sensor systems)、通訊交換器(communication switches),以及電力輸送/調(diào)節(jié)(power delivery/conditioning)等幾項頗具潛力的未來殺手級應(yīng)用技術(shù);而與這些應(yīng)用相關(guān)的技術(shù)挑戰(zhàn),則包括:降低架構(gòu)成本、系統(tǒng)/架構(gòu)之先導(dǎo)(pathfinding)、通用的異質(zhì)多裸晶堆棧測試問題以及散熱管理。

  「克服下一代應(yīng)用的共同技術(shù)挑戰(zhàn),是加速技術(shù)推廣的關(guān)鍵;」總裁暨執(zhí)行長Dan Armbrust表示:「Sematech旗下的3DEC在相關(guān)合作研發(fā)計劃中的下一階段目標,是針對這些共同的技術(shù)挑戰(zhàn),提供可用的基礎(chǔ)架構(gòu)。」

  Sematech指出,在 wide I/O DRAM 問世之后,市場的高需求、以及各種證實3D整合優(yōu)勢的大量應(yīng)用,將驅(qū)動產(chǎn)業(yè)界對3D芯片技術(shù)更進一步的研發(fā);那些優(yōu)勢包括了較低的功耗、較高的性能,功能性的增加以及較低成本。

  自 2011年1月以來,Sematech的3DEC率先投入3D芯片標準與規(guī)格的開發(fā);為了迎接未來3D整合芯片與系統(tǒng)的時代,3DEC定義出3~5年內(nèi)可見的相關(guān)殺手級應(yīng)用與共同技術(shù)挑戰(zhàn),好為 wide I/O DRAM 之后的3D芯片技術(shù)鋪平道路。

  「3D芯片技術(shù)的發(fā)展已經(jīng)來到了一個轉(zhuǎn)折點;」SIA主席Brian Toohey表示,產(chǎn)業(yè)界已經(jīng)藉由許多工作體會到合作的好處,此一正在發(fā)展的伙伴關(guān)系,將把3D芯片整合技術(shù)推向下一個階段,讓業(yè)界充分了解相關(guān)技術(shù)為半導(dǎo)體制造與設(shè)計領(lǐng)域帶來的商機潛力。Sematech的3DEC在2010年12月成立以來,專注于為具成本效益的TSV制程3D芯片解決方案,推動建立橫跨整個產(chǎn)業(yè)的支持生態(tài)系統(tǒng)。



關(guān)鍵詞: Sematech 3D芯片

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