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LXI總線數(shù)字化儀模塊設(shè)計(jì)

作者:楊江濤 黃珍元 中國電子科技集團(tuán)公司第41研究所電子測(cè)試技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室 時(shí)間:2011-04-27 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  結(jié)語

本文引用地址:http://2s4d.com/article/119034.htm

  數(shù)字化儀模塊可實(shí)現(xiàn)最高130MSa/s的采樣速率,可以進(jìn)行兩種標(biāo)準(zhǔn)中頻信號(hào)數(shù)據(jù)采集與信號(hào)處理,同時(shí)具有參考輸入輸出、IQ數(shù)據(jù)輸出、觸發(fā)輸入輸出等功能。此模塊已應(yīng)用于某合成化測(cè)試儀器系統(tǒng),用于頻譜分析和功率測(cè)量,圖4為進(jìn)行頻譜測(cè)量時(shí)波形圖。

  通過測(cè)試,數(shù)字化儀模塊各項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)達(dá)到預(yù)先設(shè)計(jì)要求,具有較高的穩(wěn)定性、可靠性及系統(tǒng)兼容性。隨著LXI總線模塊化產(chǎn)品的發(fā)展及LXI總線微波測(cè)試系統(tǒng)的需求,LXI總線數(shù)字化儀模塊將具有更好的應(yīng)用和市場(chǎng)前景。

  參考文獻(xiàn):

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