SiC-MOSFET特征及與Si-MOSFET、IGBT的區(qū)別
來源:techclass.rohm
SiC-MOSFET的特征
SiC-SBD的章節(jié)中也使用了類似的圖介紹了耐壓覆蓋范圍。本圖也同樣,通過與Si功率元器件的比較,來表示SiC-MOSFET的耐壓范圍。
目前SiC-MOSFET有用的范圍是耐壓600V以上、特別是1kV以上。關(guān)于優(yōu)勢,現(xiàn)將1kV以上的產(chǎn)品與當(dāng)前主流的Si-IGBT來比較一下看看。相對于IGBT,SiC-MOSFET降低了開關(guān)關(guān)斷時的損耗,實現(xiàn)了高頻率工作,有助于應(yīng)用的小型化。相對于同等耐壓的SJ-MOSFET(超級結(jié)MOSFET),導(dǎo)通電阻較小,可減少相同導(dǎo)通電阻的芯片面積,并顯著降低恢復(fù)損耗。
下表是600V~2000V耐壓的功率元器件的特征匯總。
雷達圖的RonA為單位面積的導(dǎo)通電阻(表示傳導(dǎo)時損耗的參數(shù)),BV為元器件耐壓,Err為恢復(fù)損耗,Eoff為關(guān)斷開關(guān)的損耗。SiC已經(jīng)很完美,在目前情況的比較中絕非高估。
下一篇將結(jié)合與SJ-MOSFET和IGBT的比較,更詳細地介紹SiC-MOSFET的特征。
功率晶體管的結(jié)構(gòu)與特征比較
繼前篇內(nèi)容,繼續(xù)進行各功率晶體管的比較。本篇比較結(jié)構(gòu)和特征。
功率晶體管的結(jié)構(gòu)與特征比較
下圖是各功率晶體管的結(jié)構(gòu)、耐壓、導(dǎo)通電阻、開關(guān)速度的比較。
使用的工藝技術(shù)不同結(jié)構(gòu)也不同,因而電氣特征也不同。補充說明一下,DMOS是平面型的MOSFET,是常見的結(jié)構(gòu)。Si的功率MOSFET,因其高耐壓且可降低導(dǎo)通電阻,近年來超級結(jié)(Super Junction)結(jié)構(gòu)的MOSFET(以下簡稱“SJ-MOSFET”)應(yīng)用越來越廣泛。關(guān)于SiC-MOSFET,這里給出了DMOS結(jié)構(gòu),不過目前ROHM已經(jīng)開始量產(chǎn)特性更優(yōu)異的溝槽式結(jié)構(gòu)的SiC-MOSFET。具體情況計劃后續(xù)進行介紹。
在特征方面,Si-DMOS存在導(dǎo)通電阻方面的課題,如前所述通過采用SJ-MOSFET結(jié)構(gòu)來改善導(dǎo)通電阻。IGBT在導(dǎo)通電阻和耐壓方面表現(xiàn)優(yōu)異,但存在開關(guān)速度方面的課題。SiC-DMOS在耐壓、導(dǎo)通電阻、開關(guān)速度方面表現(xiàn)都很優(yōu)異,而且在高溫條件下的工作也表現(xiàn)良好,可以說是具有極大優(yōu)勢的開關(guān)元件。
這張圖是各晶體管標準化的導(dǎo)通電阻和耐壓圖表。從圖中可以看出,理論上SiC-DMOS的耐壓能力更高,可制作低導(dǎo)通電阻的晶體管。目前SiC-DMOS的特性現(xiàn)狀是用橢圓圍起來的范圍。通過未來的發(fā)展,性能有望進一步提升。
從下一篇開始,將單獨介紹與SiC-MOSFET的比較。
SiC-MOSFET-與Si-MOSFET的區(qū)別
從本文開始,將逐一進行SiC-MOSFET與其他功率晶體管的比較。
本文將介紹與Si-MOSFET的區(qū)別。尚未使用過SiC-MOSFET的人,與其詳細研究每個參數(shù),不如先弄清楚驅(qū)動方法等與Si-MOSFET有怎樣的區(qū)別。在這里介紹SiC-MOSFET的驅(qū)動與Si-MOSFET的比較中應(yīng)該注意的兩個關(guān)鍵要點。
與Si-MOSFET的區(qū)別:驅(qū)動電壓
SiC-MOSFET與Si-MOSFET相比,由于漂移層電阻低,通道電阻高,因此具有驅(qū)動電壓即柵極-源極間電壓Vgs越高導(dǎo)通電阻越低的特性。下圖表示SiC-MOSFET的導(dǎo)通電阻與Vgs的關(guān)系。
導(dǎo)通電阻從Vgs為20V左右開始變化(下降)逐漸減少,接近最小值。一般的IGBT和Si-MOSFET的驅(qū)動電壓為Vgs=10~15V,而SiC-MOSFET建議在Vgs=18V前后驅(qū)動,以充分獲得低導(dǎo)通電阻。也就是說,兩者的區(qū)別之一是驅(qū)動電壓要比Si-MOSFET高。與Si-MOSFET進行替換時,還需要探討柵極驅(qū)動器電路。
與Si-MOSFET的區(qū)別:內(nèi)部柵極電阻
SiC-MOSFET元件本身(芯片)的內(nèi)部柵極電阻Rg依賴于柵電極材料的薄層電阻和芯片尺寸。如果是相同設(shè)計,則與芯片尺寸成反比,芯片越小柵極電阻越高。同等能力下,SiC-MOSFET的芯片尺寸比Si元器件的小,因此柵極電容小,但內(nèi)部柵極電阻增大。例如,1200V 80mΩ產(chǎn)品(S2301為裸芯片產(chǎn)品)的內(nèi)部柵極電阻約為6.3Ω。
這不僅局限于SiC-MOSFET,MOSFET的開關(guān)時間依賴于外置柵極電阻和上面介紹的內(nèi)部柵極電阻合在一起的綜合柵極電阻值。SiC-MOSFET的內(nèi)部柵極電阻比Si-MOSFET大,因此要想實現(xiàn)高速開關(guān),需要使外置柵極電阻盡量小,小到幾Ω左右。
但是,外置柵極電阻還承擔(dān)著對抗施加于柵極的浪涌的任務(wù),因此必須注意與浪涌保護之間的良好平衡。
與IGBT的區(qū)別
上一章針對與Si-MOSFET的區(qū)別,介紹了關(guān)于SiC-MOSFET驅(qū)動方法的兩個關(guān)鍵要點。本章將針對與IGBT的區(qū)別進行介紹。
與IGBT的區(qū)別:Vd-Id特性
Vd-Id特性是晶體管最基本的特性之一。下面是25℃和150℃時的Vd-Id特性。
請看25℃時的特性圖表。SiC及Si MOSFET的Id相對Vd(Vds)呈線性增加,但由于IGBT有上升電壓,因此在低電流范圍MOSFET元器件的Vds更低(對于IGBT來說是集電極電流、集電極-****極間電壓)。不言而喻,Vd-Id特性也是導(dǎo)通電阻特性。根據(jù)歐姆定律,相對Id,Vd越低導(dǎo)通電阻越小,特性曲線的斜率越陡,導(dǎo)通電阻越低。
IGBT的低Vd(或低Id)范圍(在本例中是Vd到1V左右的范圍),在IGBT中是可忽略不計的范圍。這在高電壓大電流應(yīng)用中不會構(gòu)成問題,但當(dāng)用電設(shè)備的電力需求從低功率到高功率范圍較寬時,低功率范圍的效率并不高。
相比之下,SiC MOSFET可在更寬的范圍內(nèi)保持低導(dǎo)通電阻。
此外,可以看到,與150℃時的Si MOSFET特性相比,SiC、Si-MOSFET的特性曲線斜率均放緩,因而導(dǎo)通電阻增加。但是,SiC-MOSFET在25℃時的變動很小,在25℃環(huán)境下特性相近的產(chǎn)品,差距變大,溫度增高時SiC MOSFET的導(dǎo)通電阻變化較小。
與IGBT的區(qū)別:關(guān)斷損耗特性
前面多次提到過,SiC功率元器件的開關(guān)特性優(yōu)異,可處理大功率并高速開關(guān)。在此具體就與IGBT開關(guān)損耗特性的區(qū)別進行說明。
眾所周知,當(dāng)IGBT的開關(guān)OFF時,會流過元器件結(jié)構(gòu)引起的尾(tail)電流,因此開關(guān)損耗增加是IGBT的基本特性。
比較開關(guān)OFF時的波形可以看到,SiC-MOSFET原理上不流過尾電流,因此相應(yīng)的開關(guān)損耗非常小。在本例中,SiC-MOSFET+SBD(肖特基勢壘二極管)的組合與IGBT+FRD(快速恢復(fù)二極管)的關(guān)斷損耗Eoff相比,降低了88%。
還有重要的一點是IGBT的尾電流隨溫度升高而增加。順便提一下,SiC-MOSFET的高速驅(qū)動需要適當(dāng)調(diào)整外置的柵極電阻Rg。這在前文“與Si-MOSFET的區(qū)別”中也提到過。
與IGBT的區(qū)別:導(dǎo)通損耗特性
接下來看開關(guān)導(dǎo)通時的損耗。
IGBT在開關(guān)導(dǎo)通時,流過Ic(藍色曲線)用紅色虛線圈起來部分的電流。這多半是二極管的恢復(fù)電流帶來的,是開關(guān)導(dǎo)通時的一大損耗。請記?。涸诓⒙?lián)使用SiC-SBC時,加上恢復(fù)特性的快速性,MOSFET開關(guān)導(dǎo)通時的損耗減少;FRD成對時的開關(guān)導(dǎo)通損耗與IGBT的尾電流一樣隨溫度升高而增加。
總之,關(guān)于開關(guān)損耗特性可以明確的是:SiC-MOSFET優(yōu)于IGBT。
另外,這里提供的數(shù)據(jù)是在ROHM試驗環(huán)境下的結(jié)果。驅(qū)動電路等條件不同,結(jié)果也可能不同。
體二極管的特性
上一章介紹了與IGBT的區(qū)別。本章將對SiC-MOSFET的體二極管的正向特性與反向恢復(fù)特性進行說明。
如圖所示,MOSFET(不局限于SiC-MOSFET)在漏極-源極間存在體二極管。從MOSFET的結(jié)構(gòu)上講,體二極管是由源極-漏極間的pn結(jié)形成的,也被稱為“寄生二極管”或“內(nèi)部二極管”。對于MOSFET來說,體二極管的性能是重要的參數(shù)之一,在應(yīng)用中使用時,其性能發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。
SiC-MOSFET體二極管的正向特性
下圖表示SiC-MOSFET的Vds-Id特性。在SiC-MOSFET中,以源極為基準向漏極施加負電壓,體二極管為正向偏置狀態(tài)。該圖中Vgs=0V的綠色曲線基本上表示出體二極管的Vf特性,。Vgs為0V即MOSFET在關(guān)斷狀態(tài)下,沒有通道電流,因此該條件下的Vd-Id特性可以說是體二極管的Vf-If特性。如“何謂碳化硅”中提到的,SiC的帶隙更寬,Vf比Si-MOSFET大得多。
而在給柵極-源極間施加18V電壓、SiC-MOSFET導(dǎo)通的條件下,電阻更小的通道部分(而非體二極管部分)流過的電流占支配低位。為方便從結(jié)構(gòu)角度理解各種狀態(tài),下面還給出了MOSFET的截面圖。
SiC-MOSFET體二極管的反向恢復(fù)特性
MOSFET體二極管的另一個重要特性是反向恢復(fù)時間(trr)。trr是二極管開關(guān)特性相關(guān)的重要參數(shù)這一點在SiC肖特基勢壘二極管一文中也已說明過。不言而喻,MOSFET的體二極管是具有pn結(jié)的二極管,因而存在反向恢復(fù)現(xiàn)象,其特性表現(xiàn)為反向恢復(fù)時間(trr)。下面是1000V耐壓的Si-MOSFET和SiC-MOSFET SCT2080KE的trr特性比較。
如圖所示,示例的Si-MOSFET的trr較慢,流過較大的Irr。而SiC-MOSFET SCT2080KE的體二極管速度則非???。trr、Irr均為幾乎可忽略的水平,恢復(fù)損耗Err已經(jīng)大幅降低。
SiC-MOSFET的應(yīng)用實例
本章將介紹部分SiC-MOSFET的應(yīng)用實例。其中也包括一些以前的信息和原型級別的內(nèi)容,總之希望通過這些介紹能幫助大家認識采用SiC-MOSFET的好處以及可實現(xiàn)的新功能。另外,除了SiC-MOSFET,還可以從這里了解SiC-SBD、全SiC模塊的應(yīng)用實例。
SiC-MOSFET應(yīng)用實例1:移相DC/DC轉(zhuǎn)換器
下面是演示機,是與功率Power Assist Technology Ltd.聯(lián)合制作的。
全橋式逆變器部分使用了3種晶體管(Si IGBT、第二代SiC-MOSFET、上一章介紹的第三代溝槽結(jié)構(gòu)SiC-MOSFET),組成相同尺寸的移相DCDC轉(zhuǎn)換器,就是用來比較各產(chǎn)品效率的演示機。
首先,在SiC-MOSFET的組成中,發(fā)揮了開關(guān)性能的優(yōu)勢實現(xiàn)了Si IGBT很難實現(xiàn)的100kHz高頻工作和功率提升。另外,第二代(2G)SiC-MOSFET中,由2個晶體管并聯(lián)組成了1個開關(guān),但由于第三代(3G)SiC-MOSFET導(dǎo)通電阻更低,晶體管數(shù)得以從8個減少到4個。關(guān)于效率,采用第三代(3G)SiC-MOSFET時的結(jié)果最理想,無論哪種SiC-MOSFET的效率均超過Si IGBT。
SiC-MOSFET應(yīng)用實例2:脈沖電源
脈沖電源是在短時間內(nèi)瞬時供電的系統(tǒng),應(yīng)用例有氣體激光器、加速器、X射線、等離子電源等。作為現(xiàn)有的解決方案有晶閘管等真空管和Si開關(guān),但市場需要更高耐壓更高速的開關(guān)。針對這種市場需求,利用SiC的高耐壓和高速性能,實現(xiàn)了超高電壓高速開關(guān)。從高速性的角度看這是Si IGBT很難實現(xiàn)的。下例是與福島SiC應(yīng)用技研株式會社、株式會社京都New-Tronics、國立研究開發(fā)法人科學(xué)技術(shù)振興機構(gòu)合作開發(fā),在CEATEC 2014、TECHNO-FRONTIER2015展出的產(chǎn)品。
?超高壓脈沖電源
特征
?超高耐壓偽N通道
SiC MOSFET?低導(dǎo)通電阻
(以往產(chǎn)品的1/100以下)?高重復(fù)頻率
應(yīng)用例
?荷電粒子加速器
?醫(yī)療用設(shè)備電源
?等離子發(fā)生器等
?1~10kV隨機脈沖發(fā)生器:13.2kV SiC開關(guān)
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