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泛華恒興推出帶隔離功能的數(shù)據(jù)采集卡

在ESP研發(fā)過(guò)程中，需要大量實(shí)車試驗(yàn)。該試驗(yàn)有兩大困難：一是試驗(yàn)具有相當(dāng)?shù)奈ｋU(xiǎn)性，二是試驗(yàn)對(duì)場(chǎng)地要求很苛刻。所以，開(kāi)發(fā)硬件在環(huán)仿真平臺(tái)就成為一種迫切需求。該仿真平臺(tái)對(duì)加速ESP控制器的算法開(kāi)發(fā)有重大作用。本
關(guān)鍵字： cRIO PXI ESP 硬件

美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱 NI)近日發(fā)布新的NI PXI/PXIe-2543固態(tài)射頻多路復(fù)用器，為工程師提供了一個(gè)長(zhǎng)期高效的解決方案來(lái)對(duì)高達(dá)6.6GHz的射頻信號(hào)的路由進(jìn)行優(yōu)化。相較傳統(tǒng)的機(jī)電開(kāi)關(guān)解決方案，NI PXI/PXIe-2543的固態(tài)構(gòu)架能夠?qū)崿F(xiàn)更加快速的開(kāi)關(guān)以及多次重復(fù)測(cè)量。
關(guān)鍵字： NI PXI/PXIe-2543

吉時(shí)利的混合測(cè)試解決方案是業(yè)界最先進(jìn)的PXI和測(cè)試設(shè)備混合結(jié)構(gòu)，通過(guò)分布式編程和并行執(zhí)行能夠極大地加...
關(guān)鍵字： KPXI 混合測(cè)試系統(tǒng) 吉時(shí)利 PXI

時(shí)間回溯到13年前的一場(chǎng)新生訓(xùn)練中，一家國(guó)際大廠的創(chuàng)辦人親自站上講臺(tái)，為在座的新進(jìn)員工講述自己的創(chuàng)業(yè)理念。底下一位員工至今印象猶深的是兩件事：一是一家公司最重要的事是對(duì)人的投資
關(guān)鍵字： Labview PXI NI James Truchard 孫基康

前言
PXI/PXIe系統(tǒng)是追求穩(wěn)定度與嚴(yán)苛環(huán)境的量測(cè)與自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的最佳平臺(tái)。系統(tǒng)散熱的設(shè)計(jì)，對(duì)于系統(tǒng)的穩(wěn)定度扮演重要的角色，包含風(fēng)流與流場(chǎng)的規(guī)劃，該如何避免氣流通道吸入不必要的熱源？如何將散熱孔在安規(guī)的
關(guān)鍵字： PXI Express 系統(tǒng) 散熱設(shè)計(jì)

我們使用美國(guó)國(guó)家儀器公司的PXI平臺(tái)開(kāi)發(fā)了一個(gè)高可靠和靈活的測(cè)試系統(tǒng)，我們使用圖像采集(IMAQ)模塊來(lái)完成對(duì)LCD屏幕的檢測(cè)，使用數(shù)字I/O模塊生成LCD測(cè)試所需的圖形信號(hào)，使用模擬輸出模塊檢測(cè)麥克風(fēng)，使用模擬輸入模塊測(cè)試測(cè)試實(shí)時(shí)時(shí)鐘電池，揚(yáng)聲器和屏幕背光燈(對(duì)電流損耗進(jìn)行測(cè)試)。
關(guān)鍵字： NI LCD PXI

通過(guò)與傳統(tǒng)的儀器進(jìn)行比較，了解軟件定義的PXI RF儀器在速度上的優(yōu)勢(shì)。如WCDMA測(cè)量結(jié)果所示，基于多核處理器并行執(zhí)行的LabVIEW測(cè)量算法與傳統(tǒng)儀器相比可以實(shí)現(xiàn)明顯的速度提升。
關(guān)鍵字： NI RF PXI

縱觀整個(gè)自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域，我們可以看到一些明顯的趨勢(shì)：從設(shè)計(jì)到生產(chǎn)的每個(gè)階段，不斷提高的信號(hào)速率要求測(cè)試設(shè)備緊跟高速信號(hào)的測(cè)試要求;單一待測(cè)設(shè)備往往集成了多種不同的標(biāo)準(zhǔn)和協(xié)議，這就需要測(cè)試系統(tǒng)能夠足夠靈活地適應(yīng)不斷更新的標(biāo)準(zhǔn);從商業(yè)角度考慮，縮短產(chǎn)品投放市場(chǎng)時(shí)間的壓力也與日俱增，這就需要進(jìn)一步縮短測(cè)試時(shí)間，然而另一方面往往又需要進(jìn)行更多的測(cè)試項(xiàng)目保證產(chǎn)品質(zhì)量;此外，對(duì)制造業(yè)的自動(dòng)化測(cè)試而言，測(cè)試設(shè)備的體積和功耗已經(jīng)無(wú)法再隨著測(cè)試需求線形增長(zhǎng)。
關(guān)鍵字： PXI PCI

電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
關(guān)鍵字：基準(zhǔn)比較測(cè)試 RF WCDMA PXI RF儀器

PXI平臺(tái)的出現(xiàn)為自動(dòng)化測(cè)試提供了一種新的思路。標(biāo)準(zhǔn)化的商業(yè)技術(shù)讓PXI技術(shù)在過(guò)去十五年中以驚人的速度在測(cè)試和控制應(yīng)用領(lǐng)域得到廣泛的接受，已經(jīng)成為主流的模塊化儀器平臺(tái)。由于PXI是一種模塊化儀器平臺(tái)，與傳統(tǒng)儀器相比有其自身的特點(diǎn)，因此在選擇PXI平臺(tái)產(chǎn)品與供應(yīng)商時(shí)也有更多考慮。
關(guān)鍵字： NI PXI 201206

前言隨著技術(shù)的演進(jìn)及市場(chǎng)需求的改變，電子制造及測(cè)試的方式也隨之變化. 二十一世紀(jì)人們對(duì)產(chǎn)品技術(shù)的要求提升,以及產(chǎn)品生命周期的短縮和價(jià)格的壓力讓電子制造業(yè)者不得不思考是否有另一種測(cè)試平臺(tái)，可以比傳統(tǒng)PC，GPI
關(guān)鍵字： PXI 電子制造業(yè)

前言使用繼電器模塊(Relay Switch Module)做為信號(hào)切換，廣泛地應(yīng)用于IC測(cè)試、電力監(jiān)測(cè)管理、工業(yè)流程與交通控制領(lǐng)域近年來(lái)隨著消費(fèi)性電子產(chǎn)品走向多樣化，生命周期縮短，價(jià)格(Cost)、速度(Speed)、靈活性(Flexibili
關(guān)鍵字： Module Switch PXI 智能型

引言20世紀(jì)60年代末期，Hewlett-Packard設(shè)計(jì)出了所謂的HP-IB(Hewlett-Packard Interface Bus)作為獨(dú)立儀器與計(jì)算機(jī)之間的溝通通道。由于其高速的數(shù)據(jù)傳輸率（對(duì)當(dāng)時(shí)而言），很快便廣為大家所接受，因此后來(lái)IEEE便將此
關(guān)鍵字： PXI 便攜式測(cè)控系統(tǒng)

要點(diǎn)　　- 儀器與控制器通信以及彼此間通信的能力可追溯到上世紀(jì)60年代末，當(dāng)時(shí)HP公司發(fā)明了HP接口總線(HP-IB)，被制定為IEEE-488標(biāo)準(zhǔn)，并起了一個(gè)名字——通用接口總線(GPIB)?！　? PXI標(biāo)準(zhǔn)和LXI標(biāo)準(zhǔn)正在
關(guān)鍵字：自動(dòng)化方法測(cè)試通信 LXI 實(shí)現(xiàn) PXI