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NI PXI開關為規(guī)?;瘻y試延長射頻測試系統(tǒng)壽命并提高速度

作者: 時間:2012-08-13 來源:電子產品世界 收藏

  美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 )近日發(fā)布新的 固態(tài)射頻多路復用器,為工程師提供了一個長期高效的解決方案來對高達6.6GHz的射頻信號的路由進行優(yōu)化。相較傳統(tǒng)的機電開關解決方案, 的固態(tài)構架能夠實現更加快速的開關以及多次重復測量。  

本文引用地址:http://2s4d.com/article/135671.htm

 

  感言:

  “新的NI 固態(tài)開關是基于行業(yè)領先的NI PXI平臺的成功經驗構建而成,其固態(tài)架構為射頻應用提供了高速度和可靠性。”美國國家儀器有限公司測試市場總監(jiān)Charles Schroeder如是說道,“使用這個開關,自動化測試領域的工程師可以整合并同步許多PXI儀器,包括射頻發(fā)生器和分析儀,從而最大化測試系統(tǒng)的投入產出比并能夠進一步提高精確度和吞吐量。”

  產品特性

  針對于高密度射頻開關的6.6GHz雙4x1多路復用器,適用于多站測試

  采用固態(tài)架構,延長了開關的使用壽命

  所有通道都使用了50 Ohm終端,提高射頻性能

  整合PXI觸發(fā)以進行快速可重復的測量



關鍵詞: NI PXI/PXIe-2543

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