SEMICON 2025 | NI 6大半導(dǎo)體測(cè)試方案全解析

SEMICON CHINA將于2025年3月26日至3月28日在上海新國(guó)際博覽中心隆重舉行，屆時(shí)，NI（恩艾中國(guó)）將攜最新的產(chǎn)品及最前沿的技術(shù)亮相，誠(chéng)邀國(guó)內(nèi)外嘉賓蒞臨NI展臺(tái)（N2館，展位號(hào)N2707）進(jìn)行指導(dǎo)交流。

01 鎖定NI展位

時(shí)間：3月26日至3月28日

地點(diǎn)：上海新國(guó)際博覽中心

NI 展位號(hào)：N2館，展位號(hào)N2707

02 現(xiàn)場(chǎng)演示

★ Wi-Fi 7 / UWB 無(wú)線測(cè)試系統(tǒng)

NI推出的最新矢量信號(hào)收發(fā)器PXIe-5842 VST,可以覆蓋30 MHz - 26.5 GHz整個(gè)頻率范圍，具有高達(dá)2GHz的瞬時(shí)帶寬。

★ PMIC / ADC自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)

NI為多通道電源管理芯片（PMIC）設(shè)計(jì)的自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)不僅提供了靈活的硬件配置，以適應(yīng)不同的通道數(shù)量，還配備了高效的軟件測(cè)試方案。

★ 自動(dòng)化生產(chǎn)測(cè)試STS系統(tǒng)

STS (Semiconductor Test System)是為快速部署和高性能設(shè)計(jì)的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，廣泛應(yīng)用于自動(dòng)化生產(chǎn)測(cè)試（APT）,尤其是在射頻（RF）測(cè)試領(lǐng)域。

★ 功率半導(dǎo)體可靠度測(cè)試系統(tǒng)

對(duì)于H3TRB動(dòng)態(tài)測(cè)試，SET提供的系統(tǒng)可將行業(yè)的擴(kuò)展要求轉(zhuǎn)化為自動(dòng)動(dòng)態(tài)測(cè)試。系統(tǒng)特別注重靈活性，以便能夠快速滿足不斷變化的要求。

★ 光電子測(cè)試方案

NI為光電子的DC測(cè)試提供了優(yōu)質(zhì)的解決方案，電學(xué)及光學(xué)測(cè)試儀器和儀表均可集成在同一個(gè)PXI平臺(tái)中，利用NI的軟件硬件平臺(tái)優(yōu)勢(shì)，加速光電子測(cè)試的效率。

★ 孤波MCU實(shí)驗(yàn)室自動(dòng)化測(cè)試方案 ——賦能高標(biāo)準(zhǔn)車(chē)規(guī)芯片驗(yàn)證

孤波MCU實(shí)驗(yàn)室自動(dòng)化測(cè)試方案 ——賦能高標(biāo)準(zhǔn)車(chē)規(guī)芯片驗(yàn)證。