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自動(dòng)化測(cè)試
自動(dòng)化測(cè)試 文章 進(jìn)入自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)社區(qū)
龍年啟程,NI發(fā)布LabVIEW+套件
- 龍行龘龘,前程?hào)T朤,歲序更迭,再啟華章!深耕NI根基,堅(jiān)守對(duì)效率和卓越的承諾,NI發(fā)布LabVIEW+套件。LabVIEW是自動(dòng)化測(cè)試和測(cè)量領(lǐng)域無(wú)可比擬的重要工具、是NI無(wú)可爭(zhēng)議的重要資產(chǎn),更是NI戰(zhàn)略的基石。什么是LabVIEW+套件LabVIEW+套件是NI自動(dòng)化測(cè)試、測(cè)量和分析專用軟件工具的集合。它以LabVIEW為核心,集合其他NI軟件,獲取協(xié)同工作的效率優(yōu)勢(shì)并降低綜合購(gòu)買成本。LabVIEW+套件包含哪些內(nèi)容?LabVIEW+套件匯集了最好的NI測(cè)試軟件,通過(guò)優(yōu)化工作流程的每個(gè)部分來(lái)節(jié)省工程師的
- 關(guān)鍵字: LabVIEW 自動(dòng)化測(cè)試 軟件工具
別再只盯著光刻機(jī)了!自動(dòng)化測(cè)試對(duì)于芯片制造同樣重要
- 行業(yè)調(diào)研數(shù)據(jù)顯示,芯片行業(yè)的產(chǎn)值和營(yíng)收一直在不斷提高,同時(shí)其地位受到大眾的關(guān)注。光刻機(jī)在芯片領(lǐng)域當(dāng)然獨(dú)占鰲頭,但一顆芯片的成功不只取決于光刻部分,測(cè)試對(duì)芯片的質(zhì)量更有不容忽視的意義。不論是更小尺寸的芯片,還是時(shí)下火熱的chiplet方式的芯片,都對(duì)于芯片測(cè)試環(huán)節(jié)提出了更高的挑戰(zhàn),對(duì)于測(cè)量和測(cè)試復(fù)雜度都有了更高的要求。自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備(ATE)ATE(Automatic Test Equipment)主要是用于自動(dòng)化和簡(jiǎn)化驗(yàn)證被測(cè)物(DUT)的功能和參數(shù)性能。ATE設(shè)備大量應(yīng)用于晶圓生產(chǎn)和封裝的過(guò)程中,比如通
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基于串口通信開(kāi)發(fā)的BLE芯片測(cè)試平臺(tái)
- 基于串口通信開(kāi)發(fā)BLE藍(lán)牙芯片測(cè)試平臺(tái),針對(duì)藍(lán)牙芯片的測(cè)試方案,設(shè)計(jì)芯片和儀表的控制流程,完成BLE芯片的一鍵式自動(dòng)化測(cè)試,實(shí)現(xiàn)對(duì)藍(lán)牙芯片測(cè)試項(xiàng)的全面測(cè)試,為產(chǎn)線自動(dòng)化提供支持。
- 關(guān)鍵字: 202301 低功耗藍(lán)牙 藍(lán)牙芯片 GMSK 自動(dòng)化測(cè)試
是德科技推出AI驅(qū)動(dòng)的自動(dòng)化測(cè)試,優(yōu)化5G智能手機(jī)用戶體驗(yàn)
- 是德科技公司(NYSE:KEYS)近日宣布為其 Nemo 器件應(yīng)用測(cè)試套件推出增強(qiáng)功能。該軟件解決方案采用了自動(dòng)化技術(shù)和人工智能(AI),為無(wú)線服務(wù)提供商和應(yīng)用開(kāi)發(fā)人員帶來(lái)強(qiáng)大助力,能夠幫助他們快速評(píng)測(cè)智能手機(jī)用戶與手機(jī)本地應(yīng)用之間的真實(shí)交互。是德科技提供先進(jìn)的設(shè)計(jì)和驗(yàn)證解決方案,旨在加速創(chuàng)新,創(chuàng)造一個(gè)安全互聯(lián)的世界。過(guò)去幾年,全球范圍內(nèi)使用移動(dòng)應(yīng)用訪問(wèn)數(shù)字內(nèi)容,以及參與社交媒體平臺(tái)和在線游戲的用戶大幅增長(zhǎng)。本地移動(dòng) app 與移動(dòng)網(wǎng)頁(yè)瀏覽器相比,更能提供量身定制的出色體驗(yàn);因此移動(dòng)應(yīng)用的使用顯著推動(dòng)了這
- 關(guān)鍵字: 是德 AI驅(qū)動(dòng) 自動(dòng)化測(cè)試 5G智能手機(jī)
是德科技委外研究表明,自動(dòng)化測(cè)試仍然是當(dāng)今組織面臨的重大挑戰(zhàn)
- 是德科技(Keysight Technologies, Inc)近日發(fā)布了該公司委托 Forrester 在全球范圍內(nèi)得出的一項(xiàng)研究結(jié)果。該研究針對(duì)測(cè)試運(yùn)營(yíng)決策者展開(kāi)調(diào)研,從而了解他們采用的測(cè)試策略和技術(shù)。是德科技提供先進(jìn)的設(shè)計(jì)和驗(yàn)證解決方案,旨在加速創(chuàng)新,創(chuàng)造一個(gè)安全互聯(lián)的世界。 這份研究報(bào)告名為《借助自動(dòng)化和人工智能(AI)征服復(fù)雜的測(cè)試》,該報(bào)告指出,自動(dòng)化測(cè)試已取得一定的進(jìn)展,75% 的組織采用了自動(dòng)化測(cè)試和手動(dòng)測(cè)試相結(jié)合的方式。然而,只有 11% 實(shí)現(xiàn)了完全自動(dòng)化。隨著復(fù)雜性不斷增加,測(cè)試項(xiàng)目也
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為推進(jìn)汽車的電氣化,馬自達(dá)使用軟件定義的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),還成功降低了90%的測(cè)試成本
- 馬自達(dá)是堅(jiān)持不懈不斷挑戰(zhàn)自我的“越己”企業(yè),秉持技藝人魂的品牌精髓,打破常規(guī)越我所馭。馬自達(dá)「創(chuàng)馳藍(lán)天」技術(shù),高壓縮比自吸發(fā)動(dòng)機(jī)帶來(lái)人馬一體的駕乘樂(lè)趣,這次為了推進(jìn)汽車的電氣化,跟上時(shí)代發(fā)展的大潮,馬自達(dá)方面表示,"利用NI測(cè)試平臺(tái)和生態(tài)系統(tǒng),我們不僅成功開(kāi)發(fā)了HILS,而且還成功開(kāi)發(fā)了機(jī)器人、圖像處理系統(tǒng)、語(yǔ)音合成系統(tǒng)、噪聲模擬器和GPS模擬器,進(jìn)而搭建了一個(gè)集成的電子組件自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。 手動(dòng)操作和結(jié)果判斷相關(guān)的工時(shí)減少了90%,每年節(jié)省了數(shù)億美元的成本。" 挑戰(zhàn) 構(gòu)建一個(gè)
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自動(dòng)化測(cè)試解決之道――構(gòu)建以軟件為核心的模塊化系統(tǒng)
- 如今,伴隨著測(cè)試需求的多樣化和復(fù)雜化,軟件定義的儀器系統(tǒng)已成為測(cè)試測(cè)量行業(yè)最重要的發(fā)展趨勢(shì)和主流技術(shù)。軟件定義的模塊化系統(tǒng)不僅可以幫助用戶在
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基于PXI平臺(tái)的光電通信轉(zhuǎn)換器自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)
- 光電通信轉(zhuǎn)換器自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)按照光纖模塊產(chǎn)品對(duì)外接口規(guī)范設(shè)計(jì)測(cè)試系統(tǒng),采用基于PXI平臺(tái)的模塊化產(chǎn)品和分立式測(cè)試儀器相結(jié)合的方式進(jìn)行設(shè)計(jì),提供了對(duì)光纖模塊產(chǎn)品的接口通信功能和性能指標(biāo)的測(cè)試功能,可以完成不同產(chǎn)品的自動(dòng)化測(cè)試。
- 關(guān)鍵字: PXI平臺(tái) 模塊化 光纖模塊 自動(dòng)化測(cè)試 201712
周立功致遠(yuǎn)電子功率計(jì)在電容功耗自動(dòng)化測(cè)試中的應(yīng)用
- 某大型電容生產(chǎn)企業(yè),接到歐美客戶要求將每個(gè)薄膜電容的功耗作為產(chǎn)品的測(cè)試指標(biāo)之一。由于該電容企業(yè)之前沒(méi)遇到這種要求,所以沒(méi)有合適的測(cè)試系統(tǒng),而且市場(chǎng)上也沒(méi)有成熟的測(cè)試方案。為此,該電容企業(yè)聯(lián)合周立功致遠(yuǎn)電子采用新一代PA300系列高精度數(shù)字功率計(jì)對(duì)現(xiàn)有系統(tǒng)進(jìn)行了改造升級(jí),過(guò)程中我們共同攻克了五大難題。
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基于LabVIEW的晶體振蕩器測(cè)試系統(tǒng)
- 石英晶體振蕩器是一種用于穩(wěn)定頻率和選擇頻率的重要電子元件,也簡(jiǎn)稱為“晶振”。由于石英晶體振蕩器具有體積小、重量輕、可靠性高、具有很高的頻率穩(wěn)定性和良好的溫度特性,因此被廣泛應(yīng)用于通信、廣播、
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NI發(fā)布2016自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)展望,智能化測(cè)試系統(tǒng)勢(shì)在必行
- 作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來(lái)幫助他們應(yīng)對(duì)全球最嚴(yán)峻工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商,NI(美國(guó)國(guó)家儀器公司,National Instruments,簡(jiǎn)稱NI)近日發(fā)布了《2016自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)展望》。 這份年度測(cè)試和測(cè)量報(bào)告綜合概括了日益互聯(lián)化的自動(dòng)化測(cè)試環(huán)境的主要趨勢(shì),主題涵蓋從毫米波(mmWave)通信到如何有效利用制造測(cè)試數(shù)據(jù)來(lái)提高商業(yè)績(jī)效?! 癗I致力于不斷提高自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的性能,因此與客戶和供應(yīng)商密切合作,借此深入了解制造與測(cè)試部門所面臨的主要挑戰(zhàn),”NI自動(dòng)化測(cè)試市場(chǎng)
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2014年泛華全國(guó)巡回技術(shù)研討會(huì)東莞、北京站報(bào)名正式啟動(dòng)
- 致力于為各行業(yè)用戶提供高品質(zhì)測(cè)試測(cè)量解決方案和成套檢測(cè)設(shè)備的泛華恒興科技有限公司、北京中科泛華測(cè)控技術(shù)有限公司(簡(jiǎn)稱:泛華)將于5月15日,在東莞會(huì)展國(guó)際大酒店舉辦2014年泛華全國(guó)巡回技術(shù)研討會(huì)。同期,泛華還將在北京麗亭華苑酒店舉辦北京站巡回技術(shù)研討會(huì) 屆時(shí),泛華將在東莞站針對(duì)測(cè)試產(chǎn)品國(guó)產(chǎn)化、自動(dòng)測(cè)試技術(shù)與應(yīng)用,以及產(chǎn)線自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備的典型應(yīng)用案例做詳細(xì)講解。同時(shí),泛華資深工程師將到現(xiàn)場(chǎng),與客戶共同對(duì)自動(dòng)化測(cè)試、電子產(chǎn)品測(cè)試、數(shù)采與控制系統(tǒng)應(yīng)用等行業(yè)應(yīng)用和技術(shù)做深入探討和溝通。 泛華全國(guó)
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使用NI軟件與PXI硬件進(jìn)行高級(jí)無(wú)線電系統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試
- NI軟硬件平臺(tái)的功能與靈活性,可幫助我們有效開(kāi)發(fā)高度穩(wěn)定的測(cè)試系統(tǒng)、滿足客戶的所有需求,并能確保配合產(chǎn)品上 ...
- 關(guān)鍵字: NI軟件 PXI硬件 無(wú)線電系統(tǒng) 自動(dòng)化測(cè)試
構(gòu)建以軟件為中心的下一代自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試管理人員和工程師們?yōu)榱吮WC交付到客戶手中的產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性,在各種應(yīng)用領(lǐng)域 (從設(shè)計(jì)驗(yàn)證,經(jīng)終端產(chǎn)品測(cè)試,到設(shè)備維修診斷) 都采用自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。他們使用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)執(zhí)行簡(jiǎn)單的“通過(guò)”或“失敗”測(cè)試,或者通過(guò)它執(zhí)行一整套的產(chǎn)品特性測(cè)試。
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你應(yīng)該知道的自動(dòng)化測(cè)試的“ABC”
- 在這個(gè)電子世界里,自動(dòng)化的產(chǎn)品日漸豐碩。在這些電子產(chǎn)品研發(fā)過(guò)程中,軟件測(cè)試是一件令人頭疼的事,經(jīng)常會(huì)有大量bugs出來(lái),所以,能自動(dòng)檢測(cè)出來(lái)軟件中的bugs,是一件多么幸福的事情呀。
- 關(guān)鍵字: 自動(dòng)化測(cè)試 軟件測(cè)試 Selenium
自動(dòng)化測(cè)試介紹
自動(dòng)化測(cè)試
一般是指軟件測(cè)試的自動(dòng)化,軟件測(cè)試就是在預(yù)設(shè)條件下運(yùn)行系統(tǒng)或應(yīng)用程序,評(píng)估運(yùn)行結(jié)果,預(yù)先條件應(yīng)包括正常條件和異常條件。
1定義
自動(dòng)化測(cè)試 是把以人為驅(qū)動(dòng)的測(cè)試行為轉(zhuǎn)化為機(jī)器執(zhí)行的一種過(guò)程。通常,在設(shè)計(jì)了測(cè)試用例并通過(guò)評(píng)審之后,由測(cè)試人員根據(jù)測(cè)試用例中描述的規(guī)程一步步執(zhí)行測(cè)試,得到實(shí)際結(jié)果與期望結(jié)果的比較。在此過(guò)程中,為了節(jié)省人力、時(shí)間或硬件資源,提高測(cè)試效率,便 [ 查看詳細(xì) ]
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