使用NI LabVIEW對(duì)手機(jī)LCD組件進(jìn)行靈活可靠的自動(dòng)化測(cè)試

　　解決方案：

　　我們使用美國(guó)國(guó)家儀器公司的PXI平臺(tái)開(kāi)發(fā)了一個(gè)高可靠和靈活的測(cè)試系統(tǒng)，我們使用圖像采集(IMAQ)模塊來(lái)完成對(duì)LCD屏幕的檢測(cè)，使用數(shù)字I/O模塊生成LCD測(cè)試所需的圖形信號(hào)，使用模擬輸出模塊檢測(cè)麥克風(fēng)，使用模擬輸入模塊測(cè)試測(cè)試實(shí)時(shí)時(shí)鐘電池，揚(yáng)聲器和屏幕背光燈(對(duì)電流損耗進(jìn)行測(cè)試)。

　　使用PXI開(kāi)發(fā)測(cè)試系統(tǒng)

　　我們使用NI PXI平臺(tái)開(kāi)發(fā)了一套高可靠和靈活的測(cè)試系統(tǒng)。NI LabVIEW程序可以完成多種測(cè)試功能——視覺(jué)檢測(cè)，聲音測(cè)試，電流電壓測(cè)量、揚(yáng)聲器激振等。系統(tǒng)的主要測(cè)試項(xiàng)目是使用數(shù)字I/O模塊(NI PXI-6508)對(duì)LCD屏幕生成多種圖形信號(hào)然后對(duì)它進(jìn)行視覺(jué)檢測(cè)。Pulnix工業(yè)相機(jī)使用圖形采集卡(NI PCI-1411)采集圖像，采集到的圖像將由LabVIEW調(diào)用的NI顯示測(cè)試系統(tǒng)進(jìn) 行測(cè)試。如果被測(cè)元件通過(guò)視覺(jué)檢測(cè)和其他的測(cè)試，該元件將會(huì)被送去做最后的組裝;未通過(guò)測(cè)試的元件將被貼上一個(gè)供追蹤的序列號(hào)標(biāo)簽并記錄其未通過(guò)的測(cè)試，然后被送返至組裝產(chǎn)線。通過(guò)LabVIEW，NI顯示測(cè)試系統(tǒng)和靈活的PXI平臺(tái)，整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)在不到兩周的時(shí)間內(nèi)就搭建完成。系統(tǒng)在運(yùn)行的第一個(gè)星期內(nèi) 就對(duì)超過(guò)25000個(gè)元件進(jìn)行了測(cè)試，完成了客戶的要求?？蛻舨坏馐褂妹绹?guó)國(guó)家儀器公司的工具產(chǎn)品，更額外購(gòu)買(mǎi)了其他兩套測(cè)試系統(tǒng)。

　　大型電子制造服務(wù)業(yè)公司所需的測(cè)試

　　客戶是世界上最大的電子制造服務(wù)業(yè)公司之一——為一家世界上主要的手機(jī)生產(chǎn)廠商制造和組裝LCD部件。每個(gè)由該客戶制造 的LCD配件在運(yùn)往他們的最終用戶前都會(huì)經(jīng)過(guò)嚴(yán)密的測(cè)試。LCD組件包括多種功能性部件——LCD屏幕，背光燈，揚(yáng)聲器，麥克風(fēng)，電池——每個(gè)部件都需要 進(jìn)行不同類型的測(cè)試?？蛻魧?duì)于不同LCD部件的測(cè)試有不同的手動(dòng)測(cè)試工作站。LCD部件需要細(xì)心操作，不同的測(cè)試站還需要多次不停地裝載卸載部件，這樣的 操作方式并不明智。配件的總體測(cè)試時(shí)間非常高，而且該系統(tǒng)也會(huì)遇到人工測(cè)試系統(tǒng)常見(jiàn)的問(wèn)題——準(zhǔn)確度，一致性和可靠性。

　　客戶需要建立一個(gè)測(cè)試系統(tǒng)來(lái)測(cè)試一種新的LCD組裝模式，該測(cè)試系統(tǒng)必須比現(xiàn)有的手動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)擁有更高的測(cè)試速率，更高的可靠性和可溯源性。新的測(cè)試線需要在兩周內(nèi)完成，以完成其客戶的需求。由此，該客戶需要搭建一個(gè)獨(dú)立的測(cè)試站來(lái)測(cè)試所有的功能部件，而且必須要求全自動(dòng) 測(cè)試，高可靠性，并按照產(chǎn)品要求降低測(cè)試時(shí)間。

　　客戶希望測(cè)試系統(tǒng)能夠符合下列要求：

• 對(duì)LCD屏幕進(jìn)行視覺(jué)檢測(cè)
• 對(duì)實(shí)時(shí)時(shí)鐘電池進(jìn)行電池電量測(cè)試
• 檢測(cè)LCD屏幕背光燈的性能
• 檢測(cè)揚(yáng)聲器質(zhì)量——包括聲音測(cè)試，失真測(cè)試和耗電測(cè)試
• 揚(yáng)聲器阻抗測(cè)試
• 根據(jù)手機(jī)背板的位置，檢測(cè)背光燈明暗轉(zhuǎn)換時(shí)，感應(yīng)磁鐵的品質(zhì)

　　客戶明確要求系統(tǒng)必須具備靈活性以便在將來(lái)添加其他所要求的測(cè)試，并要求該測(cè)試站必須還能在將來(lái)對(duì)新型的LCD屏幕進(jìn)行 測(cè)試，從而節(jié)省他們的投資?？蛻籼暨x了靈活可靠的PXI平臺(tái)來(lái)滿足其所追求的特性。美國(guó)國(guó)家儀器公司的即成可用硬件和功能強(qiáng)大的軟件工具，LabVIEW 和NI TestStand，幫助我們?cè)诓坏絻芍軆?nèi)為客戶搭建了測(cè)試系統(tǒng)。

　　系統(tǒng)簡(jiǎn)介

　　基于PXI的測(cè)試系統(tǒng)包括一個(gè)NI PXI-1002機(jī)箱，內(nèi)置一個(gè)NI PXI-8174 控制器，NI PCI-1411圖像采集卡，NI PCI-6040E多功能數(shù)據(jù)采集卡和一塊NI PXI-6508數(shù)字I/O卡。

　　LCD屏幕測(cè)試

　　我們使用數(shù)字I/O卡與LCD屏幕驅(qū)動(dòng)進(jìn)行連接通信，并在LCD屏幕上生成不同的測(cè)試圖案。每個(gè)測(cè)試圖案產(chǎn)生后，連接至 PCI-1411圖像采集卡的Pulnix模擬相機(jī)就會(huì)捕捉LCD屏幕上的圖像。圖案生成，LCD屏幕圖像捕捉，和兩者之間的同步均是由LabVIEW和 NI TestStand編寫(xiě)的模塊實(shí)現(xiàn)的。我們?cè)O(shè)計(jì)NI顯示測(cè)試系統(tǒng)來(lái)測(cè)試平面顯示元件;這對(duì)于LCD屏幕測(cè)試堪稱是一個(gè)完美的解決方案。捕捉到的圖像經(jīng)由 NI顯示測(cè)試系統(tǒng)處理，以檢測(cè)生成的圖案中所有可能存在的問(wèn)題。它包括逐像素點(diǎn)的驗(yàn)證以及復(fù)雜圖標(biāo)的顯示。NI顯示測(cè)試系統(tǒng)使得LCD屏幕測(cè)試變得輕松并 且?guī)椭覀冊(cè)趦芍軆?nèi)就完成了整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)的搭建。