cmos-ldo 文章 最新資訊
Crocus與中芯國際簽署技術(shù)開發(fā)和晶圓制造協(xié)議
- Crocus科技,領(lǐng)先的強(qiáng)化磁性半導(dǎo)體技術(shù)開發(fā)商,和中芯國際集成電路制造有限公司(“中芯國際”),中國內(nèi)地最大最先進(jìn)的集成電路晶圓代工企業(yè),今天宣布,正式簽署合作技術(shù)開發(fā)和晶圓制造協(xié)議。根據(jù)協(xié)議,兩家公司將共同開發(fā)針對(duì)汽車應(yīng)用的高溫磁性邏輯單元(MLU)技術(shù)。中芯國際將制造和供應(yīng)基于CMOS先進(jìn)技術(shù)節(jié)點(diǎn)的晶圓,這些晶圓將在Crocus納米電子(CNE)的先進(jìn)磁性生產(chǎn)設(shè)備上做進(jìn)一步加工。
- 關(guān)鍵字: 中芯國際 半導(dǎo)體 CMOS
場效應(yīng)管和CMOS集成電路焊接技巧
- 焊接絕緣柵(或雙柵)場效應(yīng)管以及CMOS集成塊時(shí),因其輸入阻抗很高、極間電容小,少量的靜電荷即會(huì)感應(yīng)靜電高壓,導(dǎo)致器件擊穿損壞。筆者通過長期實(shí)踐摸索出下述焊接方法,取得令人滿意的效果。1.焊絕緣柵場效應(yīng)管。
- 關(guān)鍵字: CMOS 場效應(yīng)管 集成電路 焊接
CMOS電路IDDQ測試電路設(shè)計(jì)
- 摘要:針對(duì)CMOS集成電路的故障檢測,提出了一種簡單的IDDQ靜態(tài)電流測試方法,并對(duì)測試電路進(jìn)行了設(shè)計(jì)。所設(shè)計(jì)的IDDQ電流測試電路對(duì)CMOS被測電路進(jìn)行檢測,通過觀察測試電路輸出的高低電平可知被測電路是否存在物理缺
- 關(guān)鍵字: 電路設(shè)計(jì) 測試 IDDQ 電路 CMOS
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