首頁　 資訊　 商機(jī) 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會(huì)展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊 　 Datasheet　 100例 　 活動(dòng)中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> iddq

用2600系列數(shù)字源表進(jìn)行IDDQ測試和待機(jī)電流測試

  • CMOS集成電路(CMOS IC)和電池供電產(chǎn)品的制造商需要測量靜態(tài)(或“待機(jī)”)電源電流用于驗(yàn)證生產(chǎn)測試質(zhì)量。CMOS IC或其中含有CMOS IC成品的漏電電流測量過程被稱為IDDQ測試。此測試要求在IC處于靜態(tài)條件下測
  • 關(guān)鍵字： 2600    數(shù)字源表    IDDQ  

基于CMOS電路的IDDQ測試電路設(shè)計(jì)

  • 引言　　測試CMOS電路的方法有很多種，測試邏輯故障的一般方法是采用邏輯響應(yīng)測試，即通常所說的功能測試。功能測試可診斷出邏輯錯(cuò)誤，但不能檢查出晶體管常開故障、晶體管常閉故障、晶體管柵氧化層短路，互連橋短路
  • 關(guān)鍵字： CMOS  IDDQ  電路  測試    

CMOS電路IDDQ測試電路設(shè)計(jì)

  • 摘要：針對CMOS集成電路的故障檢測，提出了一種簡單的IDDQ靜態(tài)電流測試方法，并對測試電路進(jìn)行了設(shè)計(jì)。所設(shè)計(jì)的IDDQ電流測試電路對CMOS被測電路進(jìn)行檢測，通過觀察測試電路輸出的高低電平可知被測電路是否存在物理缺
  • 關(guān)鍵字： 電路設(shè)計(jì)  測試  IDDQ  電路  CMOS  
共3條 1/1 1

iddq介紹

您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條iddq!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對iddq的理解，并與今后在此搜索iddq的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會(huì)員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473