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EEPW首頁 >> 主題列表 >> block ram

單片機(jī)RAM測試故障方法有幾種？

  • 　　在各種單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)中，芯片存儲器的正常與否直接關(guān)系到該系統(tǒng)的正常工作。為了提高系統(tǒng)的可靠性，對系統(tǒng)的可靠性進(jìn)行測試是十分必要的。通過測試可以有效地發(fā)現(xiàn)并解決因存儲器發(fā)生故障對系統(tǒng)帶來的破壞問題。本文針對性地介紹了幾種常用的單片機(jī)系統(tǒng)RAM測試方法，并在其基礎(chǔ)上提出了一種基于種子和逐位倒轉(zhuǎn)的RAM故障測試方法。 　　一、 RAM測試方法回顧 　　方法1：一種測試系統(tǒng)RAM的方法是分兩步來檢查，先后向整個(gè)數(shù)據(jù)區(qū)送入#00H和#FFH，再先后讀出進(jìn)行比較，若不一樣，則說明出錯(cuò)。 　　方法2：方法1并
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相變存儲器（PCM）技術(shù)基礎(chǔ)

  • 相變存儲器（PCM）是一種非易失存儲設(shè)備，它利用材料的可逆轉(zhuǎn)的相變來存儲信息。同一物質(zhì)可以在諸如固體、液體、氣體、冷凝物和等離子體等狀態(tài)下存在，這些狀態(tài)都稱為相。相變存儲器便是利用特殊材料在不同相間的電阻差異進(jìn)行工作的。本文將介紹相變存儲器的基本技術(shù)與功能。
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基于FPGA的存儲解決方案——外部SRAM

  • 所謂外部SRAM是指連接在FPGA外部的靜態(tài)RAM（SRAM）。外部SRAM存儲器也有不少種類。對于外部SRAM的選擇是由應(yīng)用需求的性質(zhì)決定的。使用外部SRAM存儲器既有優(yōu)點(diǎn)又有缺點(diǎn)。
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基于混合信號技術(shù)的汽車單芯片設(shè)計(jì)

  • 隨著汽車部件電子化程度的不斷提高，汽車工程師們正積極地尋求車輛系統(tǒng)中的先進(jìn)控制和接口技術(shù)解決方案。目前，汽車系統(tǒng)中用來嵌入這些功能單元的空間和能源十分有限。汽車工程師們正借助于新穎的高壓混合信號技術(shù)將復(fù)雜的--截至目前還不兼容的元件功能集成到一塊芯片上。
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基于CPLD的字符疊加器的設(shè)計(jì)

  • 本文提出一種基于CPLD的簡易字符疊加器，具有成本低、抗干擾性能好等特點(diǎn)，適用于視頻監(jiān)控。由于采用了CPLD器件，增強(qiáng)了系統(tǒng)集成度和設(shè)計(jì)靈活性。
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分析FPGA的基本結(jié)構(gòu)

  • FPGA由6部分組成，分別為可編程輸入/輸出單元、基本可編程邏輯單元、嵌入式塊RAM、豐富的布線資源、底層嵌入功能單元和內(nèi)嵌專用硬核等。
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基于FPGA的信息安全系統(tǒng)設(shè)計(jì)

  • 本模塊采用xilinx公司的Spartan 3E系列XC3S500E型FPGA作為核心控制芯片，對采集到底模擬信號進(jìn)行數(shù)字轉(zhuǎn)換后通過3DES算法進(jìn)行加密、然后通過網(wǎng)絡(luò)傳輸，再經(jīng)過解密算法解密出明文數(shù)據(jù)。
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怎樣利用信號平均技術(shù)消除噪聲干擾提升重復(fù)信號采樣的精準(zhǔn)度

  • 許多高速數(shù)據(jù)采集應(yīng)用，如激光雷達(dá)或光纖測試等，都需要從嘈雜的環(huán)境中采集小的重復(fù)信號，因此對于數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的設(shè)計(jì)來說，最大的挑戰(zhàn)就是如何最大限度地減少噪聲的影響。利用信號平均技術(shù)，可以讓您的測量測試系統(tǒng)獲取更加可靠的、更加有效的測試數(shù)據(jù)。
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影響手機(jī)體驗(yàn)的不只有CPU RAM的重要性分析

  • 　　隨著科技的不斷進(jìn)步，智能手機(jī)早已不再只是那個(gè)打電話發(fā)短信的簡單工具，而是在我們生活中充當(dāng)著不一般的角色，不管吃飯、睡覺，或是上廁所手機(jī)都會出現(xiàn)在我們的視線中，有多人會有慣性拿出手機(jī)看看再放回兜里? 　　正因?yàn)槿绱?，我們在選擇手機(jī)的時(shí)候就好比選擇伴侶一樣謹(jǐn)慎，不僅僅要求外觀輕薄美，硬件也異?？粗?，然而很多消費(fèi)者對于硬件的認(rèn)知只停留在CPU，其實(shí)手機(jī)的運(yùn)行內(nèi)存(RAM)對于手機(jī)的影響同樣重要，下文我們不妨一起來看看。 　　RAM的重要性 　　就好比電腦，手機(jī)中的所有程序的運(yùn)行也都是在RAM中
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由一個(gè)微型機(jī)片子兩個(gè)RAM和一個(gè)運(yùn)放組成的多用計(jì)算機(jī)系統(tǒng)

  • 由一個(gè)微型機(jī)片子兩個(gè)RAM和一個(gè)運(yùn)放組成的多用計(jì)算機(jī)系統(tǒng)
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FPGA基礎(chǔ)知識及其工作原理

  • 高端設(shè)計(jì)工具為少有甚是沒有硬件設(shè)計(jì)技術(shù)的工程師和科學(xué)家提供現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)。無論你使用圖形化設(shè)計(jì)程序，ANSI C語言還是VHDL語言，如此復(fù)雜的合成工藝會不禁讓人去想FPGA真實(shí)的運(yùn)作情況。在這個(gè)芯片中的
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RAM和ROM傻傻分不清楚？教你認(rèn)清手機(jī)中的RAM和ROM

  • 智能手機(jī)發(fā)展至今，一直以來人們對于手機(jī)存儲方面的叫法就非常凌亂，什么運(yùn)行內(nèi)存喇，內(nèi)存喇，存儲空間啦，RAM，ROM等等，不同的叫法把消費(fèi)者們繞的云里霧里，概念混淆不清。在這些叫法中，識別率最高的應(yīng)該就是RAM和ROM的叫法了，今天我們就來聊聊手機(jī)中的RAM和ROM。
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利用F-RAM打造汽車安全氣囊應(yīng)用

  • 　　鐵電RAM(F-RAM)存儲器被用在一系列廣泛的應(yīng)用中，其中包括工業(yè)控制系統(tǒng)、工業(yè)自動(dòng)化、任務(wù)關(guān)鍵型應(yīng)用和汽車系統(tǒng)等。未來幾年，汽車的安全系統(tǒng)將會變得更加復(fù)雜。推動(dòng)該趨勢的一個(gè)主要?jiǎng)恿κ穷A(yù)期的監(jiān)管措施，它們將對汽車安全氣囊和穩(wěn)定控制系統(tǒng)的配售率和成熟度產(chǎn)生影響。本文探討在這些系統(tǒng)中使用F-RAM非易失性存儲技術(shù)的主要技術(shù)優(yōu)勢。 　　“安全氣囊系統(tǒng)”正在發(fā)生兩大變化。首先，所有新型安全氣囊都配有一個(gè)智能傳感器，用于檢測車內(nèi)是否有乘客。安全氣囊的每一次誤彈出都會導(dǎo)致極高的更換成本
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串并口F-RAMW系列存儲器

  • 世界領(lǐng)先的低功耗鐵電存儲器(F-RAM)和集成半導(dǎo)體產(chǎn)品開發(fā)商及供應(yīng)商Ramtron International Corporation (簡稱Ramtron)發(fā)布W系列 F-RAM存儲器，W系列器件帶有串口I2C
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ARM Cortex―M0／M0+單片機(jī)的指針變量替換方法

  • ARM Cortex―M0／M0+單片機(jī)的指針變量替換方法, 摘要：32位ARM Cortex-M0/M0+內(nèi)核定位于“全面替代”各類8/16位微控制器(MCU)內(nèi)核，其硬件設(shè)計(jì)支持使用16位短指針變量。目前主流的ARM編譯器僅使用32位長指針變量，這對于資源有限的MCU來說十分浪費(fèi)。為
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