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五位半導(dǎo)體行業(yè)專家對(duì)芯片缺陷分析

  • 在圓桌會(huì)議上，半導(dǎo)體工程專家們就“半導(dǎo)體和封裝技術(shù)日益增加的復(fù)雜性將如何推動(dòng)故障分析方法的轉(zhuǎn)變”展開(kāi)了討論，討論嘉賓包括Bruker Nano Surfaces&Metrology應(yīng)用與產(chǎn)品管理主管Frank Chen、Onto Innovation企業(yè)業(yè)務(wù)部產(chǎn)品管理主管Mike McIntyre、Teradyne的ASIC可靠性工程師Kamran Hakim、賽默飛世爾科技高級(jí)產(chǎn)品專家Jake Jensen以及賽默飛世爾科技高級(jí)營(yíng)銷經(jīng)理Paul Kirby。以下是這場(chǎng)討論的精彩摘錄。[從左到右]
  • 關(guān)鍵字： 先進(jìn)封裝，F(xiàn)A  SEM  TEM  

是德科技為低壓高分辨率 FE-SEM 系統(tǒng)增添完全集成的 EDS 功能

  • 　　是德科技公司日前宣布，其最新型場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)――8500B 即將上市。Keysight 8500B 是一款技術(shù)領(lǐng)先的緊湊型低電壓 FE-SEM(場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡)，可以為科學(xué)家提供強(qiáng)大的能譜分析功能。 　　這款場(chǎng)即插即用型發(fā)射掃描電子顯微鏡的安裝方式非常簡(jiǎn)單，只需連接交流電源插座即可使用，是各類實(shí)驗(yàn)室的理想選擇。緊湊型 8500B 的圖像分辨率可與更大型、更高檔的 FE-SEM 相媲美。 　　最新 8500B 系統(tǒng)具有完全集成的硅漂移 x 射線探測(cè)器、數(shù)字多通道分析儀和直
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Matlab圖像增強(qiáng)與復(fù)原技術(shù)在SEM圖像中的應(yīng)用

  • Matlab圖像增強(qiáng)與復(fù)原技術(shù)在SEM圖像中的應(yīng)用,0引 言 　　根據(jù)國(guó)內(nèi)外的相關(guān)文獻(xiàn)，研究和發(fā)展圖像處理工具，改善圖像質(zhì)量是當(dāng)今研究的熱點(diǎn)。圖像增強(qiáng)與復(fù)原是一種基本的圖像處理技術(shù)。其按照特定的需要突出一幅圖像中的某些信息或強(qiáng)化某些感興趣的特征，將原來(lái)不
  • 關(guān)鍵字： 圖像  SEM  應(yīng)用  技術(shù)  復(fù)原  增強(qiáng)  Matlab  

基于Matlab的圖像增強(qiáng)與復(fù)原技術(shù)在SEM圖像中的應(yīng)用

  • 基于Matlab的圖像增強(qiáng)與復(fù)原技術(shù)在SEM圖像中的應(yīng)用,　0引 言 　　根據(jù)國(guó)內(nèi)外的相關(guān)文獻(xiàn)，研究和發(fā)展圖像處理工具，改善圖像質(zhì)量是當(dāng)今研究的熱點(diǎn)。圖像增強(qiáng)與復(fù)原是一種基本的圖像處理技術(shù)。其按照特定的需要突出一幅圖像中的某些信息或強(qiáng)化某些感興趣的特征，將原來(lái)
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艾瑞：受北美SEM市場(chǎng)發(fā)展啟發(fā) 中國(guó)SEM市場(chǎng)始動(dòng)

  • 　　adSage繼2007年底在北美地區(qū)推出ad Intelligence和ad Management引起北美SEM行業(yè)重視后，在2008年2月，adSage（中國(guó)）公司與百度合作，最先推出百度競(jìng)價(jià)排名廣告系統(tǒng)管理工具 adSage for Baidu，成為基于百度API的第一款搜索營(yíng)銷（SEM）工具，這也標(biāo)志著中國(guó)SEM市場(chǎng)受北美SEM市場(chǎng)發(fā)展的影響，迅速進(jìn)入到與國(guó)際接軌的時(shí)代。 　　而2008年3月，百度與美國(guó)網(wǎng)絡(luò)業(yè)務(wù)優(yōu)化軟件提供商O(píng)mniture開(kāi)展戰(zhàn)略合作，百度將向Omniture開(kāi)放AP
  • 關(guān)鍵字： SEM    

應(yīng)用材料公司推出全新SEMVision G4缺陷再檢測(cè)系統(tǒng)

  • 　　近日，應(yīng)用材料公司推出最先進(jìn)的缺陷再檢測(cè)SEM(掃描電子顯微鏡)SEMVision™ G4系統(tǒng)，它將應(yīng)用材料公司非常成功的SEMVision系統(tǒng)的技術(shù)和生產(chǎn)能力提升到45納米及更小的技術(shù)節(jié)點(diǎn)。SEMVision G4系統(tǒng)的關(guān)鍵在于全新的SEM聚焦離子槍技術(shù)和增強(qiáng)的多視角SEM成像系統(tǒng)(MPSI)，他們具有卓越的2納米物理精度，能提供無(wú)與倫比的成像質(zhì)量，其每秒一個(gè)缺陷的檢測(cè)速度也設(shè)定了新的基準(zhǔn)。 　　應(yīng)用材料公司工藝診斷和控制事業(yè)部SEM部門(mén)總經(jīng)理Ronen Benzion表示：“45納米
  • 關(guān)鍵字： 測(cè)試  測(cè)量  應(yīng)用材料  EMVision  G4  SEM  測(cè)量工具  
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