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五位半導體行業(yè)專家對芯片缺陷分析

  • 在圓桌會議上，半導體工程專家們就“半導體和封裝技術(shù)日益增加的復雜性將如何推動故障分析方法的轉(zhuǎn)變”展開了討論，討論嘉賓包括Bruker Nano Surfaces&Metrology應(yīng)用與產(chǎn)品管理主管Frank Chen、Onto Innovation企業(yè)業(yè)務(wù)部產(chǎn)品管理主管Mike McIntyre、Teradyne的ASIC可靠性工程師Kamran Hakim、賽默飛世爾科技高級產(chǎn)品專家Jake Jensen以及賽默飛世爾科技高級營銷經(jīng)理Paul Kirby。以下是這場討論的精彩摘錄。[從左到右]
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是德科技為低壓高分辨率 FE-SEM 系統(tǒng)增添完全集成的 EDS 功能

  • 　　是德科技公司日前宣布，其最新型場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)――8500B 即將上市。Keysight 8500B 是一款技術(shù)領(lǐng)先的緊湊型低電壓 FE-SEM(場發(fā)射掃描電子顯微鏡)，可以為科學家提供強大的能譜分析功能。 　　這款場即插即用型發(fā)射掃描電子顯微鏡的安裝方式非常簡單，只需連接交流電源插座即可使用，是各類實驗室的理想選擇。緊湊型 8500B 的圖像分辨率可與更大型、更高檔的 FE-SEM 相媲美。 　　最新 8500B 系統(tǒng)具有完全集成的硅漂移 x 射線探測器、數(shù)字多通道分析儀和直
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Matlab圖像增強與復原技術(shù)在SEM圖像中的應(yīng)用

  • Matlab圖像增強與復原技術(shù)在SEM圖像中的應(yīng)用,0引 言 　　根據(jù)國內(nèi)外的相關(guān)文獻，研究和發(fā)展圖像處理工具，改善圖像質(zhì)量是當今研究的熱點。圖像增強與復原是一種基本的圖像處理技術(shù)。其按照特定的需要突出一幅圖像中的某些信息或強化某些感興趣的特征，將原來不
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基于Matlab的圖像增強與復原技術(shù)在SEM圖像中的應(yīng)用

  • 基于Matlab的圖像增強與復原技術(shù)在SEM圖像中的應(yīng)用,　0引 言 　　根據(jù)國內(nèi)外的相關(guān)文獻，研究和發(fā)展圖像處理工具，改善圖像質(zhì)量是當今研究的熱點。圖像增強與復原是一種基本的圖像處理技術(shù)。其按照特定的需要突出一幅圖像中的某些信息或強化某些感興趣的特征，將原來
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艾瑞：受北美SEM市場發(fā)展啟發(fā) 中國SEM市場始動

  • 　　adSage繼2007年底在北美地區(qū)推出ad Intelligence和ad Management引起北美SEM行業(yè)重視后，在2008年2月，adSage（中國）公司與百度合作，最先推出百度競價排名廣告系統(tǒng)管理工具 adSage for Baidu，成為基于百度API的第一款搜索營銷（SEM）工具，這也標志著中國SEM市場受北美SEM市場發(fā)展的影響，迅速進入到與國際接軌的時代。 　　而2008年3月，百度與美國網(wǎng)絡(luò)業(yè)務(wù)優(yōu)化軟件提供商Omniture開展戰(zhàn)略合作，百度將向Omniture開放AP
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應(yīng)用材料公司推出全新SEMVision G4缺陷再檢測系統(tǒng)

  • 　　近日，應(yīng)用材料公司推出最先進的缺陷再檢測SEM(掃描電子顯微鏡)SEMVision™ G4系統(tǒng)，它將應(yīng)用材料公司非常成功的SEMVision系統(tǒng)的技術(shù)和生產(chǎn)能力提升到45納米及更小的技術(shù)節(jié)點。SEMVision G4系統(tǒng)的關(guān)鍵在于全新的SEM聚焦離子槍技術(shù)和增強的多視角SEM成像系統(tǒng)(MPSI)，他們具有卓越的2納米物理精度，能提供無與倫比的成像質(zhì)量，其每秒一個缺陷的檢測速度也設(shè)定了新的基準。 　　應(yīng)用材料公司工藝診斷和控制事業(yè)部SEM部門總經(jīng)理Ronen Benzion表示：“45納米
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