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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 電源完整性

數(shù)字集群對講機鎖相環(huán)失鎖問題的研究

  • 數(shù)字集群對講機在使用時會概率性出現(xiàn)鎖相環(huán)失鎖問題,造成對講機在集群模式下無法注冊入網(wǎng)、在直通模式下無法通信、調(diào)試模式下不能進(jìn)行指標(biāo)測試等問題,必須重啟機器才能恢復(fù)。針對這一現(xiàn)象,從理論上分析,造成這種干擾的可能是信號完整性問題、鎖相環(huán)的環(huán)路濾波器配置問題、電源完整性問題等。針對可能的原因逐個分析和測試,得出增大電源的濾波電容、并同時增加緩啟動電路和軟件檢測鎖相環(huán)鎖定狀態(tài)的解決方案,從示波器測試結(jié)果分析可以看出,徹底解決了因收發(fā)切換時電壓跌落造成的鎖相環(huán)失鎖問題,對講機的穩(wěn)定可靠性得到了明顯改善。
  • 關(guān)鍵字: ?202307  鎖相環(huán)失鎖  電源完整性  信號完整性  啟動電路  

芯和半導(dǎo)體在DAC上發(fā)布高速數(shù)字信號完整性、電源完整性EDA2023軟件集

  • 2023年7月11日,中國上海訊——芯和半導(dǎo)體于2023年7月10日在美國舊金山西莫斯克尼會議中心舉辦的DAC2023設(shè)計自動化大會上,正式發(fā)布了高速數(shù)字信號完整性和電源完整性(SI/PI) EDA2023軟件集,涵蓋了眾多先進(jìn)封裝和高速設(shè)計領(lǐng)域的重要功能和升級。繼上月在國際微波展IMS上發(fā)布射頻EDA解決方案2023版本之后,芯和半導(dǎo)體此次發(fā)布了全系列EDA產(chǎn)品2023版本的剩余部分,包括針對先進(jìn)封裝的2.5D/3D信號完整性和電源完整性仿真,以及3D EM電磁仿真平臺、多場協(xié)同仿真和高速系統(tǒng)仿真的三個
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[泰享實測之水哥秘笈]:深度講解電源完整性設(shè)計和測試

  • 近年來,測試和測量設(shè)備行業(yè)一直在迅速發(fā)展。隨著電子設(shè)備變得越來越復(fù)雜,許多公司面臨著高度復(fù)雜的測試和驗證過程。更快的數(shù)據(jù)速率增加了工程團(tuán)隊驗證新技術(shù)所需的時間,往往導(dǎo)致產(chǎn)品上市周期大幅延遲。泰克在工程社區(qū)聽到了許多工程師的抱怨,因此開發(fā)了TMT4裕度測試解決方案,提高了測試的協(xié)作性和易用性。高速電路面臨的三個問題:信號完整性SI、電源完整性PI、電磁干擾EMI?!?nbsp; SI是要保證數(shù)字電路各芯片之間信號的準(zhǔn)確傳遞;●  PI是確保各部分電路和芯片的可靠供電和噪聲抑制;●&nbs
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如何確定目標(biāo)阻抗以實現(xiàn)電源完整性?

  • 阻抗可能是用于普遍概括電子學(xué)所有領(lǐng)域信號行為的一項指標(biāo)。在 PCB 設(shè)計中設(shè)計具體應(yīng)用時,我們總是有一些希望實現(xiàn)的目標(biāo)阻抗,無論是射頻走線、差分對,還是阻抗匹配網(wǎng)絡(luò)。要想確保電源完整性,就要按照 PDN 目標(biāo)阻抗進(jìn)行設(shè)計,但如何確定 PDN 目標(biāo)阻抗是一項不小的挑戰(zhàn)。本文要點●將 PDN阻抗設(shè)計為目標(biāo)值有助于確保設(shè)計的電源穩(wěn)定性?!馪DN 目標(biāo)阻抗在一定程度上會決定 PDN 上測得的任何電壓波動?!翊_定目標(biāo)阻抗需要考慮 PDN 上允許的電壓波動、輸出信號上允許的抖動,或?qū)烧叨伎紤]在內(nèi)。阻抗可能是用于普遍
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3D IC設(shè)計打了死結(jié)?電源完整性分析僵局怎么破

  •   數(shù)十年來,半導(dǎo)體行業(yè)在超級集成的道路上暢通無阻,一方面可以提高功能和性能,另一方面可以降低系統(tǒng)成本。不過,標(biāo)準(zhǔn)的做法是將越來越多的功能塞進(jìn)單個裸片上,當(dāng)您想要集成某些采用不同制程的功能時,這條路就走不通了。這就是為什么3D IC- 將3D模塊和內(nèi)插器集成在一起變得越來越流行的原因。當(dāng)前,一個流行的應(yīng)用案例是將高帶寬存儲器與處理器并排結(jié)合在一起,在DRAM堆棧和主存儲器之間直接通過低阻抗/高度并行連接實現(xiàn)更高帶寬的通信。   當(dāng)然,每個設(shè)計創(chuàng)新都會帶來新的設(shè)計問題。其中之一就是如何管理這些系統(tǒng)一直到封
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高速設(shè)計中的信號完整性和電源完整性分析

  • 引言:信號完整性和電源完整性是兩種不同但領(lǐng)域相關(guān)的分析,涉及數(shù)字電路正確操作。在信號完整性中,重點是確保傳輸?shù)?在接收器中看起來就像 1(對0同樣如此)。在電源完整性中,重點是確保為驅(qū)動器和接收器提供足夠
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高速印制電路板中電源完整性的優(yōu)化設(shè)計

  • 針對空空導(dǎo)彈高速圖像信息處理板上出現(xiàn)的電壓壓降較大,導(dǎo)致集成電路無法正常工作的問題,將電源完整性理論與PCB設(shè)計實例相結(jié)合,提出了解決高速印制電路板中電源完整性的措施,并將壓降控制在0.5%以內(nèi),為目益復(fù)雜的高速印制電路板設(shè)計提供了參考。
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抑制SSN的新型內(nèi)插L-EBG結(jié)構(gòu)

  • 本文提出的是一種基于平面型EBG (Electromagnetic Bandgap)結(jié)構(gòu)的創(chuàng)新型結(jié)構(gòu),對于同步開關(guān)噪聲(Simultaneous Switching Noise, SSN)的抑制有更優(yōu)秀的特性。我們設(shè)計的這款新型EBG結(jié)構(gòu),是在周期性L-bridge EBG結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上,在一些單元內(nèi)插小型的L-bridge EBG。通過仿真驗證,此結(jié)構(gòu)具有傳統(tǒng)型L-bridge EBG結(jié)構(gòu)所不具有的超帶寬抑制能力和較大的抑制深度。然后我們運用電路模型和平行板諧振腔原理分析了該結(jié)構(gòu)上下變頻。另外,通過3-D
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電源完整性仿真讓電路板更完美

  •   為PCB(印刷電路板)上的芯片提供電能不再是一種簡單的工作。過去,通過細(xì)走線將IC連接到電源和地就行了,這些走線占不了多少空間。當(dāng)芯片速度升高時,就要用低阻抗電源為它們供電,如用PCB上的一個電源層。有時候,只需要用四層電路板上的一個電源層和一個地層,就可以解決大多數(shù)電源完整性問題。除了電源層以外,還可以為每只IC去耦,以解決設(shè)計中繁瑣的電源問題。  不過,現(xiàn)在的PCB空間(還有成本與你的日程)都很緊張,這些問題也帶來了對電源的影響。Mentor Graphics公司的仿真與模擬系列產(chǎn)品高級
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如何將電源完整性分析與簽核的速度提高10倍?

  • 在移動計算時代,片上系統(tǒng)(SoC)的設(shè)計已經(jīng)變得更為復(fù)雜,因為在設(shè)計過程中面臨著諸多挑戰(zhàn),如需遵循針對高級流程節(jié)...
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芯片設(shè)計達(dá)億門,電源完整性簽收需高效

  • 當(dāng)今,隨著芯片的集成度和復(fù)雜性越來越高,芯片已經(jīng)達(dá)到了上億門,未來可能達(dá)到10億門級。因此,設(shè)計人員在電源分析和簽收(Signoff)上花費的時間越來越長(圖1)。
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電源完整性設(shè)計之ESR對反諧振的影響

  • ESR對反諧振(Anti-Resonance)的影響Anti-Resonance 給電源去耦帶來麻煩,但幸運的是,實際情況不會像圖12顯示的 ...
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電源完整性設(shè)計—怎樣合理選擇電容組合

  • 前面我們提到過,瞬態(tài)電流的變化相當(dāng)于階躍信號,具有很寬的頻譜。因而,要對這一電流需求補償,就必須在很寬的頻率 ...
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電源完整性分析應(yīng)對高端PCB系統(tǒng)設(shè)計挑戰(zhàn)

  •   印刷電路板(PCB)設(shè)計解決方案市場和技術(shù)領(lǐng)軍企業(yè)Mentor Graphics(Mentor Graphics)宣布推出HyperLynx® PI(電源完整性)產(chǎn)品,滿足業(yè)內(nèi)高端設(shè)計者對于高性能電子產(chǎn)品的需求。HyperLynx PI產(chǎn)品不僅提供簡
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