測(cè)試 文章 進(jìn)入測(cè)試技術(shù)社區(qū)
基于安捷倫B2900A在半導(dǎo)體激光器測(cè)試
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
- 關(guān)鍵字: B2900A 安捷倫 半導(dǎo)體激光器 測(cè)試
VLSI芯片-數(shù)字信號(hào)測(cè)試
- 數(shù)字信號(hào)測(cè)試作為VLSI芯片測(cè)試的基礎(chǔ),已經(jīng)是一項(xiàng)應(yīng)用十分廣泛的技術(shù)。各個(gè)EDA供應(yīng)商、ATE供應(yīng)商都有著十分成熟的解決方案,包括功能測(cè)試仿真向量的產(chǎn)生,轉(zhuǎn)換和實(shí)際測(cè)試操作,以及芯片的AC/DC參數(shù)測(cè)試。作為高速信號(hào)
- 關(guān)鍵字: VLSI 芯片 數(shù)字信號(hào) 測(cè)試
千兆網(wǎng)絡(luò)的速度測(cè)試
- 最近因?yàn)楣ぷ餍枰?,想測(cè)試一下千兆網(wǎng)絡(luò)的速度,主要是想測(cè)測(cè)網(wǎng)線的速度。具體的測(cè)試計(jì)劃不是很明確,找...
- 關(guān)鍵字: 測(cè)試 網(wǎng)絡(luò) 交換機(jī)
基于FPGA的LCD測(cè)試用信號(hào)發(fā)生器設(shè)計(jì)
- 摘要:在檢測(cè)液晶屏特性和質(zhì)量時(shí),需要控制液晶屏顯示一些標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)。已有的一些信號(hào)產(chǎn)生設(shè)備產(chǎn)生的是AV信號(hào)、VGA信號(hào)或YPhPr信號(hào)等模擬制式的信號(hào)。模擬制式的信號(hào)需要經(jīng)過圖形處理器(GPU)轉(zhuǎn)換成數(shù)字LVDS信號(hào),然后輸
- 關(guān)鍵字: FPGA LCD 測(cè)試 信號(hào)發(fā)生器
測(cè)試介紹
中文名稱:
測(cè)試
英文名稱:
test
定義1:
對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備,進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。
應(yīng)用學(xué)科:
航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科)
定義2:
用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。
應(yīng)用學(xué)科:
通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科)
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