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測(cè)試
測(cè)試 文章 最新資訊
減少RFC 2544 測(cè)試所需的時(shí)間和不可預(yù)測(cè)性以增強(qiáng)網(wǎng)
- 簡(jiǎn)易電話系統(tǒng)的傳統(tǒng)電信架線已成為過(guò)去年代的遺跡,因?yàn)檎Z(yǔ)音、數(shù)據(jù)和視頻已成為主流并具有更高的經(jīng)濟(jì)效益。通信服務(wù)提供商安裝基于以太網(wǎng)的 IP 服務(wù)是為了提高利潤(rùn)率,他們已經(jīng)提高了服務(wù)水平,并要求更先進(jìn)的技術(shù)。
- 關(guān)鍵字: 2544 RFC 測(cè)試 網(wǎng)絡(luò)性能
可控硅dIT/dt測(cè)試線路的設(shè)計(jì)與測(cè)量

- 摘要:dIT/dt是衡量可控硅可靠性的一個(gè)重要參數(shù),過(guò)高的dIT/dt可能會(huì)導(dǎo)致可控硅損壞或失效,故設(shè)計(jì)一個(gè)能準(zhǔn)確測(cè)量此參數(shù)的低成本線路顯得尤為關(guān)鍵。本文設(shè)計(jì)了一個(gè)簡(jiǎn)潔的測(cè)量可控硅dIT/dt的測(cè)試電路,并介紹了它的測(cè)試原理與測(cè)試方法,且測(cè)量了市場(chǎng)上的BTA208-600B,得出了測(cè)試結(jié)果,與該產(chǎn)品說(shuō)明書(shū)的值一致。可應(yīng)用于研發(fā)可控硅的企事業(yè)單位和研究所測(cè)試可控硅。
- 關(guān)鍵字: 測(cè)試 可控硅 dIT/dt 201208
基于BIST的IP核測(cè)試方案設(shè)計(jì)
- 1 引言 隨著半導(dǎo)體工藝的發(fā)展,片上系統(tǒng)SOC已成為當(dāng)今一種主流技術(shù)?;贗P復(fù)用的SOC設(shè)計(jì)是通過(guò)用戶(hù)自定義邏輯(UDL)和連線將IP核整合為一個(gè)系統(tǒng),提高了設(shè)計(jì)效率,加快了設(shè)計(jì)過(guò)程,縮短了產(chǎn)品上市時(shí)間。但是隨著設(shè)
- 關(guān)鍵字: BIST IP核 測(cè)試 方案設(shè)計(jì)
測(cè)試介紹
中文名稱(chēng):
測(cè)試
英文名稱(chēng):
test
定義1:
對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備,進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。
應(yīng)用學(xué)科:
航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科)
定義2:
用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。
應(yīng)用學(xué)科:
通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科)
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