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吉時利第三代晶圓射頻測量功能產品

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作者: 時間:2005-11-08 來源: 收藏
儀器公司(Keithley)發(fā)布了用于半導體生產的第三代晶圓射頻 (RF) 測量能力的產品。該射頻參數測量系統(tǒng)的RF選件解決方案(選配件),能提供連續(xù)、自動、實時的測試和質量監(jiān)控,操作方便,可獲得最高通過率的信息吞吐量,測量質量高,且成本較低。 此外,該射頻參數測量系統(tǒng)在全球范圍內,是目前唯一獲得驗證的半導體參數測量系統(tǒng),適合200mm和300mm晶圓廠進行應用參數工藝控制,以及高性能邏輯電路生產和高性能模擬集成電路生產。

公司的RF選件包括S680型SimulTest選件、自動探針板卡(可更換)及測試結構,可在探針touchdown中及相同的探針觸地范圍內進行同步直流和射頻測量。這一點可以從S680型參數測試結果得到證實,公司的RF選件具有DC-RF同步的直接駐泊(direct-dock)功能,其運行頻率為40GHz。

Keithley公司


關鍵詞: 吉時利 其他IC 制程

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