矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀ZVB在放大器測試中的應(yīng)用
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放大器的測試指標(biāo)可以分為兩類：線性指標(biāo)測試和非線性指標(biāo)測試。線性指標(biāo)的測試基于S 參數(shù)的測量，采用常規(guī)矢量網(wǎng)絡(luò)分析議來完成。對于非線性指標(biāo)的測試，傳統(tǒng)測試方案采用頻譜儀加信號源方法，但這種方案有很多缺點如無法實現(xiàn)同步掃頻、掃功率測試，不能進(jìn)行相位測量如幅度相位轉(zhuǎn)化(AM/PM)測量。R&S ZVB采用創(chuàng)新的硬件結(jié)構(gòu)，其輸出功率很高、功率掃描范圍寬，因而無需另外單獨使用前置放大器，一次掃描即可確定放大器功率壓縮特性。ZVB采用了強(qiáng)大的自動電平控制設(shè)計以及高選擇性、高靈敏性的接收機(jī)，因而可在較寬的動態(tài)范圍下進(jìn)行放大器的諧波測試而無需使用外部濾波器。
本文引用地址：http://2s4d.com/article/93442.htm端口匹配特性測量
端口匹配特性主要測試端口的S11與S22參數(shù)。如端口1的S11參數(shù)等于反射信號b1與入射信號a1之比：
S11參數(shù)也可稱為輸入反射因子。S11為復(fù)數(shù)，工程上通常用回波損耗(RL)和駐波比(VSWR)來表達(dá)端口的匹配程度。S11與這兩個參數(shù)的關(guān)系如下：
以上兩個參數(shù)與S11的換算由ZVB自動完成，用戶只需要在[Format] 菜單中選擇[dB Mag]->回波損耗，[SWR]->駐波比，就可以顯示相應(yīng)的測試曲線。ZVB提供軌跡統(tǒng)計功能[Trace Statistics]，可自動顯示軌跡的最大值、最小值和峰-峰值，并且可以通過設(shè)置 [Eval Range]，來調(diào)整統(tǒng)計頻率范圍。該功能對帶限器件(如濾波器)的帶內(nèi)指標(biāo)測試非常有用。
圖1 回波損耗測試和軌跡統(tǒng)計結(jié)果
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