威盛電子對高速串行數(shù)據(jù)進(jìn)性測試

俄勒岡州比佛頓，2005年9月29日——世界領(lǐng)先的測試，測量和監(jiān)測儀器供應(yīng)商泰克公 司（NYSE：TEK），今天宣布芯片技術(shù)和平臺解決方案的領(lǐng)先開發(fā)商威盛電子份有限 公司已經(jīng)選擇泰克的數(shù)字系統(tǒng)分析工具來開發(fā)其基于串行數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)（例如第二代 PCI-Express接口和SATA  III）的數(shù)字產(chǎn)品。完整的泰克解決方案由TLA7000邏輯分析 儀 和超高性能TDS6000示波器組成，這一方案將使威盛的工程師們更圓滿完成設(shè)計(jì)和驗(yàn)證 任務(wù)，進(jìn)行全面的協(xié)同操作性測試工作，并同時(shí)對基于PCI-Express接口和SATA  III規(guī) 格的數(shù)字產(chǎn)品執(zhí)行一致性測試。 
 
因?yàn)槠錅y試的需要，威盛選擇了新的泰克TLA7012和TLA7016邏輯分析儀，12GHz的 TDS6124C示波器和世界上最快的實(shí)時(shí)示波器－15 GHz的  TDS6154C。TLA7000系列邏輯 分 析儀包括了iLink(tm)工具包，這一工具完美地把邏輯分析器和一個(gè)示波器整合到一 起，從而提供對數(shù)字和模擬信號的實(shí)時(shí)觀察，并從根本上加快多路信號調(diào)試的工作。 
 
“威盛科技通過對未來科技發(fā)展的預(yù)判以及率先應(yīng)用這些技術(shù)來保持其在行業(yè)中的領(lǐng) 先 地位，這些技術(shù)被包括在分立硅元件應(yīng)用或在大范圍內(nèi)整合到核心邏輯芯片上。”  威 盛電子股份有限公司的產(chǎn)品營銷副總裁林哲偉先生說，“高速的串行數(shù)據(jù)總線例如第 二 代PCI-Express接口和SATA III為設(shè)計(jì)和一致性測量的提出了新的挑戰(zhàn)。泰克的 TLA7000 邏輯分析儀和TDS6000示波器的結(jié)合支持了我們在各個(gè)階段的測量要求，這些階段包括 設(shè)計(jì)、驗(yàn)證、一致性測量和調(diào)試等，并且能使我們的工程師們更具信心地對高速串行 設(shè)計(jì)進(jìn)行測試和測量?！?nbsp;
“威盛電子有著著名的創(chuàng)新史，我們很高興他們再次選擇泰克的測試解決方案來動
他 們下一代產(chǎn)品的研發(fā)，”泰克亞太區(qū)銷售和營運(yùn)副總裁Bob 
Agnes說，“這些超高性能 的泰克儀器將使威盛的工程師們迅速又高效的解決在驗(yàn)證和一致性測試中遇到的問 題， 在確保世界級水平的產(chǎn)品品質(zhì)和可靠性的同時(shí)，減少產(chǎn)品推向市場的時(shí)間。”