德州儀器 SmartReflex™ 技術(shù)
2005 年 9 月 23日,北京訊
日前,德州儀器 (TI) 宣布其以SmartReflex™ 電源與性能管理技術(shù)使移動設(shè)備面臨的 65nm 漏電功耗難題迎刃而解,從而為高級移動設(shè)備中的新型無線娛樂、通信與連接應(yīng)用創(chuàng)造了機(jī)會。隨著業(yè)界不斷向更小的工藝節(jié)點發(fā)展,漏電功耗或電池使用壽命縮短的可能性也大幅度提高,對于開發(fā)高速度、高集成度的 65nm 低功耗移動設(shè)備而言,這項挑戰(zhàn)曾一度被視為難以攻破的壁壘。TI SmartReflex 技術(shù)是智能與自適應(yīng)硅芯片、電路設(shè)計與軟件的完美組合,專門用于解決較小工藝節(jié)點上的電源與性能管理問題,從而使 OEM 廠商能夠為更小巧精致的多媒體移動設(shè)備提供更長的電池使用壽命以及更少的散熱量。
過去,功耗方面的挑戰(zhàn)一直通過簡單而有限的幾種方法加以解決,如空閑/睡眠模式、時鐘門控 (Clock-Gating) 以及動態(tài)電壓頻率縮放 (DVFS) 等,這些方法主要側(cè)重于動態(tài)功耗,而非漏電功耗。但是,集通信、計算以及娛樂功能于一體的移動設(shè)備將要求在更低成本的更小工藝節(jié)點上實現(xiàn)更高程度的硅芯片集成。更高的性能處理需求與先進(jìn)工藝漏電功耗的大幅增加向電源管理提出了嚴(yán)峻的挑戰(zhàn),因為要求推出更全面的系統(tǒng)級解決方案。
TI 負(fù)責(zé)無線終端業(yè)務(wù)的無線高級架構(gòu)經(jīng)理 Bill Krenik 說:“性能要求極高的多媒體與高生產(chǎn)力應(yīng)用為市場增長創(chuàng)造了新的機(jī)遇,但這無疑也在硅芯片層次上提出了電源與性能的挑戰(zhàn)。TI 的 SmartReflex 技術(shù)是解決所面臨關(guān)鍵工藝問題的橋梁,不僅能夠顯著降低漏電功耗、提高性能以及管理散熱量,而且還能在移動設(shè)備上實現(xiàn)更多功能。”
TI SmartReflex 技術(shù)解決了 65 nm 移動設(shè)備關(guān)鍵的漏電功耗問題,這大大超越了傳統(tǒng)設(shè)備電源管理技術(shù)。具體而言,TI 業(yè)經(jīng)驗證的 SmartReflex 系列技術(shù)集成了從集成電路設(shè)計到系統(tǒng)軟件的系統(tǒng)級方法,該方法在保證高性能的同時,還能出色地解決采用深亞微米技術(shù)的移動設(shè)備的功耗問題。SmartReflex 技術(shù)充分利用了 TI 側(cè)重于電源管理的硅芯片 IP、SoC 設(shè)計以及系統(tǒng)軟件,并可應(yīng)用至整個 SoC,而且該技術(shù)還融入了各種智能與自適應(yīng)硬件與軟件技術(shù),能夠根據(jù)設(shè)備的活動、工作模式以及不同的工藝與溫度動態(tài)地控制電壓、頻率及電源。這在不降低終端性能的情況下可顯著節(jié)約運行復(fù)雜多媒體應(yīng)用所需的電源。
iSuppli 公司的電源管理高級分析師 Chris Ambarian 說:“隨著可能縮短電池使用壽命的新工藝技術(shù)與更多功能的出現(xiàn),電源與性能管理也逐漸成為無線領(lǐng)域的主要角力場。而 TI 的最新 SmartReflex 技術(shù)則對這一挑戰(zhàn)有力地做出了最全面的回應(yīng)。由于半導(dǎo)體創(chuàng)新技術(shù)已擴(kuò)展至深亞微米工藝階段,因此電源與性能管理戰(zhàn)略也必須不斷發(fā)展,以充分利用較小型設(shè)計功能的全部優(yōu)勢。將 TI 系統(tǒng)級方法與其 SmartReflex 技術(shù)結(jié)合使用,能夠顯著降低每項功能的功耗,這對在先進(jìn)的移動設(shè)備上繼續(xù)擴(kuò)展無線娛樂、游戲與音樂應(yīng)用來說是一個重要的推動因素?!?
TI 率先推出了應(yīng)用 90 nm 工藝節(jié)點的 SmartReflex 的技術(shù)元素,而目前采用的 65 nm 工藝可實現(xiàn)更先進(jìn)的技術(shù)解決方案。SmartReflex 的技術(shù)組件已被集成到 1 億多個移動設(shè)備上。TI 正將該技術(shù)集成到其 OMAP™ 2 應(yīng)用處理器系列中,并計劃在今后的無線產(chǎn)品中不斷推出更先進(jìn)的 SmartReflex 技術(shù)。
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